【技术实现步骤摘要】
一、
本专利技术涉及一种组合仪器综合检测技术，特别是一种CCD组合全站仪的综合检测技术。二、技术背景到目前为止，仪器检校都要去严格的检校场进行检校，且无论CCD镜头的检校还是全站仪的检校都较为复杂和繁琐，而仅通过现有的检校场很难实现对组合仪器的检校。如果组合仪器不经过严格的检校，测得的数据信息将没有任何意义，这就给实际的测量过程造成了很大的麻烦和不便：①对待测目标物进行测量时，仅通过全站仪测量或CCD镜头摄影测量，均可以实现部分测量，要实现简便快速的目标物测量较为困难；②一般仪器检校都要去严格的大型检校场完成，这样既麻烦又需要较高的花费；③CCD镜头中心和全站仪中心的相对位置关系不明确，测得数据信息很难建立起一定的联系，所测数据也就毫无意义。因此，在使用组合仪器进行目标物测量时，如果不能提前进行综合检测，明确组合两仪器中心的相对关系，实际测量就毫无意义，如何寻找一种能够快速简便地实现组合仪器检校的技术方法显得尤为重要。三、
技术实现思路
为了能够克服在组合仪器检校中存在的不足和局限，以最快速、简洁的方法对CCD和全站仪组合仪器完成检校，本专利技术的目的就是提供一种CCD组合全站仪综合检测的技术方法。本专利技术的目的是这样实现的：首先，制作边长a＝20cm的正方形靶标，固定于前方30m的墙体上；其次，设全站仪测站点坐标为(0，0，0)，安置整平仪器，照准方形靶标，并保证全站仪在测站点视线水平时，正方形靶标中心点O位于全站仪望远镜十字丝中心；再次，利用CCD镜头对方形靶标正直摄影，并使用全站仪对方形靶标的4个角点进行相对坐标测量，获得4个特征点的相对坐标(Xi...
【技术保护点】
CCD组合全站仪综合检测技术，其特征是：(1)制作边长a＝20cm的正方形靶标，固定于前方30m的墙体上；(2)设全站仪测站点坐标为(0，0，0)，安置整平仪器，照准方形靶标，并保证全站仪在测站点视线水平时，正方形靶标中心点O位于全站仪望远镜十字丝中心；(3)利用CCD镜头对方形靶标正直摄影，并使用全站仪对方形靶标的4个角点进行相对坐标测量，获得4个特征点的相对坐标(Xi，Yi，Zi)(i＝1，2，3，4)；(4)根据摄影测量原理，通过拍摄的正直影像上的特征点的像方坐标(ui，vi)，利用数模①(i＝1，2，3，4且当i＝4时，i+1＝1)，求得4个特征点对应的相对物方坐标(Xi′，Yi′，Zi′)(i＝1，2，3，4)，其中，f为CCD镜头的焦距；(5)利用数学模型②解算CCD镜头中心相对于全站仪中心的坐标位移量(ex，ey，ez)和旋转角量(εx，εy，εz)，即CCD镜头中心相对全站仪中心的姿态偏移参数。
【技术特征摘要】
1.CCD组合全站仪综合检测技术，其特征是：(1)制作边长a＝20cm的正方形靶标，固定于前方30m的墙体上；(2)设全站仪测站点坐标为(0，0，0)，安置整平仪器，照准方形靶标，并保证全站仪在测站点视线水平时，正方形靶标中心点O位于全站仪望远镜十字丝中心；(3)利用CCD镜头对方形靶标正直摄影，并使用全站仪对方形靶标的4个角点进行相对坐标测量，获得4个特征点的相对坐标(Xi，Yi，Zi)(i＝1，2，3，4...
【专利技术属性】
技术研发人员：冯仲科，杨立岩，冯泽民，刘金成，邱梓轩，黄晓东，
申请(专利权)人：北京林业大学，
类型：发明
国别省市：北京;11
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