一种新型间隙测量塞尺制造技术

技术编号:13698958 阅读:96 留言:0更新日期:2016-09-11 05:06
本实用新型专利技术属于间隙测量技术,涉及一种新型间隙测量塞尺。所述新型间隙测量塞尺包括保护罩(1)、连接件(2)和若干片等厚度单片塞尺(3),其中,所述连接件(2)为插锁结构,相应数目的单片塞尺插入保护罩内,并由连接件穿过锁定。本实用新型专利技术间隙测量塞尺的测量精度可达到0.05mm,测量范围自0.05mm—3.00mm之间的每0.05mm的任何间隙值,测量范围大、精度较高。每片塞尺单独进行编号,测量后,读取最后一片塞尺上的编号值,即可直接计算出所测量的间隙,较以往需要读取每片塞尺上的厚度值,计算简便,效率高。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于间隙测量技术,涉及一种新型间隙测量塞尺
技术介绍
GB/T 22523—2008中规定塞尺由多片不同厚度单片塞尺组合构成,适用厚度范围0.02mm-1.00mm。塞尺一般使用不锈钢制造,自0.02-0.10mm间,各钢片厚度级差为0.01mm;自0.10-1.00mm间,各钢片厚度级差0.05mm,自1.00mm以上,钢片厚度级差1mm。而且现有塞尺进行间隙测量时,直接采用人工插入相应数目的塞尺,然而如果间隙较大,塞尺数目较多时,容易发生塞尺滑动移位,影响测量精度和效率。
技术实现思路
本技术的目的是:提供一种测量速度快,测量范围大、精度高,大大提升了间隙测量效率的新型间隙测量塞尺。本技术的技术方案是:一种新型间隙测量塞尺,其包括保护罩1、连接件2和若干片等厚度单片塞尺3,其中,所述连接件2为插锁结构,相应数目的单片塞尺插入保护罩内,并由连接件穿过锁定。所述单片塞尺厚度为0.05mm。本技术的优点是:本技术间隙测量塞尺的测量精度可达到0.05mm,测量范围自0.05mm—3.00mm之间的每0.05mm的任何间隙值,测量范围大、精度较高。每片塞尺单独进行编号,测量后,读取最后一片塞尺上的编号值,即可直接计算出所测量的间隙,较以往需要读取每片塞尺上的厚
度值,计算简便,效率高。附图说明图1是本技术间隙测量塞尺的示意图;其中,1-保护罩、2-连接件、3-单片塞尺。具体实施方式下面对本技术做进一步详细说明。请参阅图1,本技术间隙测量塞尺包括保护罩1、连接件2和若干片等厚度单片塞尺3。所述单片塞尺厚度为0.05mm,测量端具有连接孔,其通过插入相应数目的单片塞尺可以进行间隙的测量。另外,单片塞尺3上有每片塞尺的上标有顺序编号,因此测量时,按编号顺序放置单片塞尺,从而可通过查看编号快速获得测量数据。所述连接件2为插锁结构,设置在保护罩1的锁槽内,且与单片塞尺连接孔连接。实际测量时,相应数目的单片塞尺的测量端,插入保护罩内,并由连接件穿过连接孔进行锁定,避免单片塞尺之间的滑移错位。本技术用于飞机装配时,各类零件之间的装配间隙的测量。测量时,根据目测间隙值,选取一定数量单片塞尺进行组合,对间隙进行测量,然后根据初步测量的偏差,调整塞尺数量,对间隙进行精确测量,读取最后一片塞尺编号(或最后一片与第一片编号差值),计算出间隙值。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种新型间隙测量塞尺,其特征在于,包括保护罩(1)、连接件(2)和若干片等厚度单片塞尺(3),其中,所述连接件(2)为插锁结构,相应数目的单片塞尺插入保护罩内,并由连接件穿过锁定。

【技术特征摘要】
1.一种新型间隙测量塞尺,其特征在于,包括保护罩(1)、连接件(2)和若干片等厚度单片塞尺(3),其中,所述连接件(2)为插锁结构,相...

【专利技术属性】
技术研发人员:李乾玥孙坐瑞刘楠崔宝东于立波朱国瑞高宏飞
申请(专利权)人:哈尔滨飞机工业集团有限责任公司
类型:新型
国别省市:黑龙江;23

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