一种触控装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种触控装置，包括：基板；检测电极，呈m行n列阵列式排布，m、n为整数且m≥1，n≥1；检测引线，沿着列方向延伸，一块检测电极与至少一条检测引线电连接，检测引线与检测电极使用同种材料同层设置；至少两条基准电极，沿着行方向延伸并且沿着列方向排列，一条基准电极与一行检测电极在垂直于基板的方向上交叠，基准电极与检测电极形成耦合电容用于检测垂直于基板方向上的压力；触控装置在压力检测阶段向检测电极输入检测信号，并且依次向其中一条基准电极输入基准电压，同时向其余基准电极输入检测信号。本发明专利技术提供的触控装置消除了检测引线与基准电极之间的部分引线电容，从而提高触控面板的工作性能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及触控
，特别是涉及一种触控装置。
技术介绍
图1是现有技术提供的一种具有压力检测功能的触控面板示意图，包括设置在基板1上的基准电极2、具有压力检测功能的检测电极3、以及与检测电极3使用同种材料同层设置的检测引线5，检测电极3与检测引线5连接形成一体结构。基准电极2与检测电极3之间形成用于探测压力变化量的基础电容，当触控对象发生压力触控行为时，基准电极2与检测电极3之间的距离发生改变，导致基础电容发生变化，相应的检测电极3输出的电信号发生变化，检测电极3将发生变化的电信号作为压力检测信号输出，数据处理单元4根据压力检测信号计算得出压力的大小。由于压力检测对于电极的分辨率要求不高，所以检测电极3的面积比较大，检测电极3的材质一般为氧化铟锡(Indium Tin Oxides，ITO)，其电阻值也较大，压力感测信号传输过程中失真严重。检测引线5和检测电极3是一体结构，现有技术增加检测引线5的宽度，从而降低检测电极3和检测引线5的整体的电阻；但是走线宽度增加会造成检测引线5与基准电极2之间的引线电容增加，因为检测引线5与检测电极3为一体结构，引线电容的增加会导致用于探测压力变化量的基础电容增加，在压力的大小相同的情况下，基础电容增加不利于探测压力检测信号，仍然无法提高触控面板的工作性能。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术提供一种触控装置，包括：基板；检测电极，呈m行n列阵列式排布，m、n为整数且m≥1，n≥1；检测引线，沿着列方向延伸，一块检测电极与至少一条检测引线电连接，检测引线与检测电极使用同种材料同层设置；至少两条基准电极，沿着行方向延伸并且沿着列方向排列，一条基准电极与一行检测电极在垂直于基板的方向上交叠，基准电极与检测电极形成耦合电容用于检测垂直于基板方向上的压力；触控装置包括压力检测阶段；在压力检测阶段，向检测电极输入检测信号，并且依次向其中一条基准电极输入基准电压，同时向其余基准电极输入检测信号。与现有技术相比，本专利技术至少具有如下突出的优点之一：本专利技术提供的一种触控装置中，消除了检测引线与基准电极之间的部分引线电容对于用于探测压力变化量的基础电容的影响，从而提高触控面板的工作性能；进一步的，在增加检测引线的宽度，从而降低检测电极的电阻的实施方式中，仍然可以不额外增加用于探测压力变化量的基础电容，进一步提高触控面板的工作性能。附图说明图1是现有技术提供的一种具有压力检测功能的触控面板示意图；图2是本专利技术一个实施例提供的一种触控装置结构示意图；图3是本专利技术再一个实施例提供的一种触控装置结构示意图；图4是图3实施例提供的一种触控装置的压力检测阶段的一种信号波形示意图；图5是图3实施例提供的一种触控装置的压力检测阶段的另一种信号波
形示意图；图6是图3实施例提供的一种触控装置的压力检测阶段和显示阶段的一种信号波形示意图；图7是沿着图2中AA’的剖视图；图8是本专利技术又一个实施例提供的一种触控装置结构示意图。具体实施方式为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更为明显易懂，下面将结合附图和实施例对本专利技术做进一步说明。需要说明的是，在以下描述中阐述了具体细节以便于充分理解本专利技术。但是本专利技术能够以多种不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本专利技术内涵的情况下做类似推广。因此本专利技术不受下面公开的具体实施方式的限制。图2是本专利技术一个实施例提供的一种触控装置结构示意图。请参考图2，本实施例提供的触控装置包括基板10；检测电极20，呈m行n列阵列式排布，m、n为整数且m≥1，n≥1；检测引线40，沿着列方向x延伸，一块检测电极20与至少一条检测引线40电连接，检测引线40与检测电极20使用同种材料同层设置。至少两条基准电极30，呈条状，沿着行方向y延伸并且沿着列方向x排列，一条基准电极30与一行检测电极20在垂直于基板10的方向上交叠，基准电极30与检测电极20形成耦合电容用于检测垂直于基板10方向上的压力。本专利技术实施例提供的一种触控装置包括压力检测阶段，在压力检测阶段，向检测电极20输入检测信号，并且依次向其中一条基准电极30输入基准电压，同时向其余基准电极30输入检测信号。为了清楚的说明本专利技术实施例提供的一种触控装置，以m＝5，n＝4为例进行说明。请参考图3，触控装置包括基板10，检测电极20呈5行4列阵列
式排布，包括第一行检测电极21、第二行检测电极22、第三行检测电极23、第四行检测电极24和第五行检测电极25；基准电极呈条状，沿着行方向y延伸并且沿着列方向x排列，基准电极包括5条，分别为沿着列方向x顺序排列的第一条基准电极31、第二条基准电极32、第三条基准电极33、第四条基准电极34和第五条基准电极35；其中，第一条基准电极31与第一行检测电极21在垂直于基板10的方向上交叠，第二条基准电极32与第二行检测电极22在垂直于基板10的方向上交叠，第三条基准电极33与第三行检测电极23在垂直于基板10的方向上交叠，第四条基准电极34与第四行检测电极24在垂直于基板10的方向上交叠，第五条基准电极35与第五行检测电极25在垂直于基板10的方向上交叠。触控装置包括压力检测阶段，在压力检测阶段，向第一行检测电极21、第二行检测电极22、第三行检测电极23、第四行检测电极24和第五行检测电极25输入检测信号，并且依次向第一条基准电极31、第二条基准电极32、第三条基准电极33、第四条基准电极34和第五条基准电极35其中的一条输入基准电压，同时向其余基准电极30输入检测信号。请参考图3和图4，图4是图3实施例提供的一种触控装置压力检测阶段的一种信号波形示意图，压力检测阶段包括T1时刻、T2时刻、T3时刻、T4时刻和T5时刻。在T1时刻、T2时刻、T3时刻、T4时刻和T5时刻，检测电极20均输入检测信号AC；在T1时刻，第一条基准电极31输入基准电压DC，第二条基准电极32、第三条基准电极33、第四条基准电极34和第五条基准电极35均输入检测信号AC，此时刻，第一行检测电极21检测其所在区域是否发生压力触控行为。当第一行检测电极21进行压力触控检测时，第一行检测电极21输入检测信号AC并且第一条基准电极31输入基准电压DC，因此第一行检测电极21与第一条基准电极31形成形成耦合电容用于检测垂直于基板10方向上的压力，与第一行检测电极21连接的检测引线40的同样输入检测信号AC，因此在第
二条基准电极32、第三条基准电极33、第四条基准电极34和第五条基准电极35所在的区域中，检测引线40与第二条基准电极32、第三条基准电极33、第四条基准电极34和第五条基准电极35形成的引线电容被消除。可见，本专利技术的提供一种触控装置在T1时刻消除了检测引线与基准电极之间的部分引线电容对于用于探测压力变化量的基础电容的影响，从而提高触控面板的工作性能。在T2时刻，第二条基准电极32输入基准电压DC，第一条基准电极31、第三条基准电极33、第四条基准电极34和第五条基准电极35均输入检测信号AC，此时刻，第二行检测电极22检测其所在区域是否发生压力触控行为；在T3时刻，第三条基准电极33输入基准电压DC，第一条基准电极31、第二条基准电极32、第四条基准电极34和第五条基本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触控装置，其特征在于，包括：基板；检测电极，呈m行n列阵列式排布，m、n为整数且m≥1，n≥1；检测引线，沿着列方向延伸，一块所述检测电极与至少一条所述检测引线电连接，所述检测引线与所述检测电极使用同种材料同层设置；至少两条基准电极，沿着行方向延伸并且沿着所述列方向排列，一条所述基准电极与一行所述检测电极在垂直于所述基板的方向上交叠，所述基准电极与所述检测电极形成耦合电容用于检测垂直于所述基板方向上的压力；所述触控装置包括压力检测阶段；在所述压力检测阶段，向所述检测电极输入检测信号，并且依次向其中一条所述基准电极输入基准电压，同时向其余所述基准电极输入所述检测信号。

【技术特征摘要】
1.一种触控装置，其特征在于，包括：基板；检测电极，呈m行n列阵列式排布，m、n为整数且m≥1，n≥1；检测引线，沿着列方向延伸，一块所述检测电极与至少一条所述检测引线电连接，所述检测引线与所述检测电极使用同种材料同层设置；至少两条基准电极，沿着行方向延伸并且沿着所述列方向排列，一条所述基准电极与一行所述检测电极在垂直于所述基板的方向上交叠，所述基准电极与所述检测电极形成耦合电容用于检测垂直于所述基板方向上的压力；所述触控装置包括压力检测阶段；在所述压力检测阶段，向所述检测电极输入检测信号，并且依次向其中一条所述基准电极输入基准电压，同时向其余所述基准电极输入所述检测信号。2.如权利要求1所述的触控装置，其特征在于，所述触控装置还包括公共电极，所述基准电极复用为所述公共电极，所述触控装置还包括显示阶段，在所述显示阶段，向所述基准电极输入公共电压。3.如权利要求1所述的触控装置，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢峰，刘亮，
申请(专利权)人：上海天马微电子有限公司，天马微电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31