【技术实现步骤摘要】
本技术属于光纤参数测量领域，具体涉及一种光纤色散系数测量装置。
技术介绍
光纤色散系数的测量是光纤参数测量技术的重要研究方向，传统测量手段都是通过脉冲延迟法、相移法、模场直径法和白光干涉等方法来实现，但这些光学测量方法的抗环境干扰性能较差，且需要复杂的时频分析算法来计算和分析测量结果。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种测量速度快、测量精度高的光纤色散系数测量装置。为实现上述目的，本技术提供了以下技术方案：一种光纤色散系数测量装置，包括波长可调DFB窄线宽激光器，电光调制器，待测光纤，高速光电探测器，矢量网络分析仪和直流电源；所述波长可调DFB窄线宽激光器、电光调制器、高速光电探测器构成一条微波光子链路；波长可调DFB窄线宽激光器发出的单色偏振光入射到电光调制器；矢量网络分析仪的第一端口输出一扫频的射频信号进入电光调制器；电光调制器将该射频信号加载到光波上而输出一光载射频信号，该光载射频信号经过待测光纤后入射到高速光电探测器上，高速光电探测器将光信号转换成射频信号并接入到矢量网络分析仪进行采集和分析；优选的，所述波长可调DFB窄线宽激光器的调谐精度高于0.4nm；优选的，所述电光调制器调制信号由矢量网络分析仪提供；优选的，电光调制器的直流偏置信号通过直流电源来提供；优选的，电光调制器的输入输出端为光纤；优选的，所述电光调制器、高速光电探测器和矢量网络分析仪的频率响应大于30GHz。本技术的技术效果在于：相比现有的光学测量方法，该方法具备测量速度快，测量精度高，并且不受环境因素的影响等优点；采用高频率响应的调制器、探测器和矢量网络分析仪可以提高测量的准确性。附图...
【技术保护点】
一种光纤色散系数测量装置，其特征在于：包括波长可调DFB窄线宽激光器(101)，电光调制器(102)，待测光纤(103)，高速光电探测器(104)，矢量网络分析仪(105)和直流电源(106)；所述波长可调DFB窄线宽激光器(101)、电光调制器(102)、高速光电探测器(104)构成一条微波光子链路；波长可调DFB窄线宽激光器(101)发出的单色偏振光入射到电光调制器(102)；矢量网络分析仪(105)的第一端口(1)输出一扫频的射频信号进入电光调制器(102)；电光调制器(102)将该射频信号加载到光波上而输出一光载射频信号，该光载射频信号经过待测光纤(103)后入射到高速光电探测器(104)上，高速光电探测器(104)将光信号转换成射频信号并接入到矢量网络分析仪(105)进行采集和分析。
【技术特征摘要】
1.一种光纤色散系数测量装置，其特征在于：包括波长可调DFB窄线宽激光器(101)，电光调制器(102)，待测光纤(103)，高速光电探测器(104)，矢量网络分析仪(105)和直流电源(106)；所述波长可调DFB窄线宽激光器(101)、电光调制器(102)、高速光电探测器(104)构成一条微波光子链路；波长可调DFB窄线宽激光器(101)发出的单色偏振光入射到电光调制器(102)；矢量网络分析仪(105)的第一端口(1)输出一扫频的射频信号进入电光调制器(102)；电光调制器(102)将该射频信号加载到光波上而输出一光载射频信号，该光载射频信号经过待测光纤(103)后入射到高速光电探测器(104)上，高速光电探测器(104)将光信号转换成射频信号并接入到...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈信伟，吴彭生，李琳，武帅，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第三十八研究所，
类型：新型
国别省市：安徽;34
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