一种新型磨板深度测量装置制造方法及图纸

技术编号:13648321 阅读:73 留言:0更新日期:2016-09-04 18:28
本实用新型专利技术公开了一种新型磨板深度测量装置,包括螺旋千分尺、测量支座,所述的螺旋千分尺顶端设置有测力装置,测力装置底端与微分筒顶端活动连接,微分筒底端通过固定套筒与滑座相连接,滑座上设置有锁紧装置,滑座底部中间位置设置有测量杆;此外,螺旋千分尺通过滑座与测量支座活动连接;本实用新型专利技术的有益效果:本装置结构简单,生产成本低;本专利装置基于构筑同一测量基准的思想,很好的解决了需同时对多个对象进行测量时的误差问题。同时,由于本装置对多沟槽磨板测量时只需校准一次,操作方便简单的同时确保测量值的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种深度测量装置,特别涉及一种新型磨板深度测量装置
技术介绍
目前,普遍使用的陶瓷球实际加工生产中磨板深度测量装置虽然功能各异,但其每次只能对单一对象的深度值进行测量;若需同时测量多组对象,会因为其自身结构的限制产生误差。但是,在磨板深度测量的实际应用中需要对多沟槽进行测量,由于传统的深度测量装置每次只能对一根沟槽进行测量,想获得多根沟槽的深度则必须变换测量位置;这就存在由于测量基准变换而导致的测量误差问题。
技术实现思路
针对现有深度测量装置的缺点,本技术提供一种新型的磨板深度测量装置。为了实现上述目的,本技术所采取的措施。一种新型磨板深度测量装置,包括螺旋千分尺、测量支座,所述的螺旋千分尺顶端设置有测力装置,测力装置底端与微分筒顶端活动连接,微分筒底端通过固定套筒与滑座相连接,滑座上设置有锁紧装置,滑座底部中间位置设置有测量杆;此外,螺旋千分尺通过滑座与测量支座活动连接;所述的测量支座设置有测量支架,测量支架底部一端固定设置有
固定支脚,测量支架底部另一端活动设置有移动支脚;移动支脚顶部设置有锁定装置,移动支脚底部位置设置有锁紧螺丝;与此同时,测量支架顶部内侧设置有滑轨,滑轨通过活动设置滑座与螺旋千分尺相连接,与此同时,移动支脚顶部活动设置于滑轨内。本技术的有益效果:本装置结构简单,生产成本低;本专利装置基于构筑同一测量基准的思想,很好的解决了需同时对多个对象进行测量时的误差问题。同时,由于本装置对多沟槽磨板测量时只需校准一次,操作方便简单的同时确保测量值的准确性。附图说明图1,本技术千分尺结构示意图。图2,本技术测量支座结构主视示意图。图3,本技术测量支座结构俯视示意图。具体实施方式一种新型磨板深度测量装置,如图1所示,包括螺旋千分尺、测量支座,所述的螺旋千分尺顶端设置有测力装置1,测力装置1底端与微分筒2顶端活动连接,微分筒2底端通过固定套筒3与滑座5相连接,滑座5上设置有锁紧装置4,滑座5底部中间位置设置有测量杆6;此外,螺旋千分尺通过滑座5与测量支座活动连接。在专利实际实施过程中,如图2、图3所示,所述的测量支座设置有测量支架8,测量支架8底部一端固定设置有固定支脚7,测量支架8底部另一端活动设置有移动支脚9;移动支脚9顶部设置有锁定装置11,移动支脚9底部位置设置有锁紧螺丝10;与此同时,测量支架8顶部
内侧设置有滑轨12,滑轨12通过活动设置滑座5与螺旋千分尺相连接,与此同时,移动支脚9顶部活动设置于滑轨12内。此外,在专利实际使用过程中,首先,使用前将螺旋千分尺和测量支架8擦干净,尤其是滑座5和滑轨12的接触部分,然后检查其各个活动部分是否灵活可靠;在安全行程内的微分筒2的转动要灵活,滑座5和移动支脚9在滑轨12内的移动要平稳,锁紧装置4的作用要可靠;其次,根据被测磨板沟槽的深度选择并换上测量杆,若选择0-25mm的测量杆可直接校对零位:采用00级平台,将平台、测量支架8的基准面和测量面擦干净,旋转微分筒2使其端面退至固定套筒3的零线之外,然后将测量支架8的基准面贴在平台的工作面上,左手压住测量支架8的座底,右手慢慢旋转测力装置1并通过棘轮使测量面与平台的工作面接触后并检查零位,即:微分筒2上的零刻度线应对准固定套管3上的纵刻线,微分筒2锥面的端面应与固定套筒3的零刻线相切;此外,当测量范围大于25mm时,要用校对量具校对零位:将校对量具和平台的工作面擦干净,将校对量具放在平台上,再将测量支架8的基准面贴在校对量具上校对零位;最后,将需要测量的磨板的测量端面擦干净,并将测量支架8沿磨板的径向安装,测量支架8要与磨板的最高端面紧紧贴合,锁住移动支脚9的锁定装置11和锁紧螺丝10,进而慢慢旋动微分筒2进行测量,切忌用力莽撞,轻微移动滑座5找到最大读数;对下一目标进行测量时,旋起测量杆并平缓的移动螺旋千分尺至下一沟槽正上方,进行相同的测量读数,并完成整个数据测量,整个过程基准面保持不变,方便快捷、误差小。本领域内普通的技术人员的简单更改和替换都是本技术的保护范围之内。本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种新型磨板深度测量装置,包括螺旋千分尺、测量支座,其特征在于,所述的螺旋千分尺顶端设置有测力装置(1),测力装置(1)底端与微分筒(2)顶端活动连接,微分筒(2)底端通过固定套筒(3)与滑座(5)相连接,滑座(5)上设置有锁紧装置(4),滑座(5)底部中间位置设置有测量杆(6);此外,螺旋千分尺通过滑座(5)与测量支座活动连接。

【技术特征摘要】
1.一种新型磨板深度测量装置,包括螺旋千分尺、测量支座,其特征在于,所述的螺旋千分尺顶端设置有测力装置(1),测力装置(1)底端与微分筒(2)顶端活动连接,微分筒(2)底端通过固定套筒(3)与滑座(5)相连接,滑座(5)上设置有锁紧装置(4),滑座(5)底部中间位置设置有测量杆(6);此外,螺旋千分尺通过滑座(5)与测量支座活动连接。2.根据权利要求1所述的一种新型磨板深度测量装置,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:程志明冯志峰
申请(专利权)人:江苏金盛陶瓷科技有限公司
类型:新型
国别省市:江苏;32

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