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一种模具温度检测系统技术方案

技术编号:13631433 阅读:43 留言:0更新日期:2016-09-02 12:13
本发明专利技术涉及模具测温技术领域,具体地说是一种模具温度检测系统。其特征在于:它包括光学汇聚系统、红外测温传感器,所述光学汇聚系统将视场内模具空腔的红外辐射能量汇聚到红外测温传感器的检测头上,红外测温传感器将外红能量转变为相应的电信号,所述红外测温传感器连接前置放大系统、前置放大系统连接主要放大系统,主要放大系统连接信号处理系统,信号处理系统连接上位机显示系统。本发明专利技术安装方便、结构简便,可以实现定点测温。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及模具测温
,具体地说是一种模具温度检测系统
技术介绍
在自然界中,一切温度高于绝对零度的物体都在不停的向周围空间发出红外辐射能,基尔霍夫定律、普朗克定律、维恩公式这三大辐射定律,物体的红外辐射能量的大小及其波长的分布与其表面温度有着十分密切的关系,因此,通过对物体自身辐射的外红能量的测量,便能准确的测定它的表面温度,这就是红外辐射测温所依据的客观基础,传统的模具测温技术由于精度不高,或者红外测量设备过于复杂,有时不能准确的测量模具定点的温度。
技术实现思路
本专利技术的目的为克服现有技术的不足,提供一种安装方便、结构简便、定点测温的模具温度检测系统。为了达到上述目的,本专利技术设计了一种模具温度检测系统,其特征在于:它包括光学汇聚系统、红外测温传感器,所述光学汇聚系统将视场内模具空腔的红外辐射能量汇聚到红外测温传感器的检测头上,红外测温传感器将外红能量转变为相应的电信号,所述红外测温传感器连接前置放大系统、前置放大系统连接主要放大系统,主要放大系统连接信号处理系统,信号处理系统连接上位机显示系统。进一步地,所述红外测温传感器器是基于热电堆的硅基红外传感器,大量的热电偶堆积在底层的硅基上,底层上的高温接点和低温接点通过一层极薄的薄膜隔离它们的热量,高温接点上面的黑色吸收层将入射的放射线转化为热能。进一步地,所述光学汇聚系统采用反射式结构,反射式光学汇聚系统采用凹面玻璃反射镜。进一步地,所述凹面玻璃反射镜的表面镀有铝,可以进一步提高红外辐射反射率。本专利技术同现有技术相比,本专利技术安装方便、结构简便,可以实现定点测温。附图说明图1为本专利技术的剖视图。具体实施方式如图1所示,本专利技术包括光学汇聚系统、红外测温传感器,所述光学汇聚系统将视场内模具空腔的红外辐射能量汇聚到红外测温传感器的检测头上,红外测温传感器将外红能量转变为相应的电信号,所述红外测温传感器连接前置放大系统、前置放大系统连接主要放大系统,主要放大系统连接信号处理系统,信号处理系统连接上位机显示系统。所述红外测温传感器器是基于热电堆的硅基红外传感器,大量的热电偶堆积在底层的硅基上,底层上的高温接点和低温接点通过一层极薄的薄膜隔离它们的热量,高温接点上面的黑色吸收层将入射的放射线转化为热能。所述光学汇聚系统采用反射式结构,反射式光学汇聚系统采用凹面玻璃反射镜。所述凹面玻璃反射镜的表面镀有铝,可以进一步提高红外辐射反射率。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种模具温度检测系统,其特征在于:它包括光学汇聚系统、红外测温传感器,所述光学汇聚系统将视场内模具空腔的红外辐射能量汇聚到红外测温传感器的检测头上,红外测温传感器将外红能量转变为相应的电信号,所述红外测温传感器连接前置放大系统、前置放大系统连接主要放大系统,主要放大系统连接信号处理系统,信号处理系统连接上位机显示系统。

【技术特征摘要】
1.一种模具温度检测系统,其特征在于:它包括光学汇聚系统、红外测温传感器,所述光学汇聚系统将视场内模具空腔的红外辐射能量汇聚到红外测温传感器的检测头上,红外测温传感器将外红能量转变为相应的电信号,所述红外测温传感器连接前置放大系统、前置放大系统连接主要放大系统,主要放大系统连接信号处理系统,信号处理系统连接上位机显示系统。2.根据权利要求1所述的一种模具温度检测系统,其特征在于:所述红外测温传感器器是基于热...

【专利技术属性】
技术研发人员:程桂红
申请(专利权)人:程桂红
类型:发明
国别省市:安徽;34

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