空间光调制器缺陷检测中保护膜损伤的提取方法技术

本发明专利技术公开了一种空间光调制器缺陷检测中保护膜损伤的提取方法，包括以下步骤：A：在关闭空间光调制器的屏幕背光条件下，拍摄不同测光照明条件下保护膜的图像；B：对每张所述图像选取光照均匀区域进行自适应阈值二值化处理得到二值化图像；C：对每张所述二值化图像均进行膨胀和腐蚀；D：对所有经过膨胀和腐蚀的所述二值化图像进行合并，得到所述保护膜的损伤提取。本发明专利技术具有如下优点：区分保护膜损伤与屏幕缺陷，提高检测准确性和精度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于立体视觉、数字图像处理领域，具体涉及一种空间光调制器缺陷检测中保护膜损伤的提取方法。
技术介绍
随着电子产品的日益普及以及液晶屏幕制造工艺的改进，不同分辨率、尺寸的液晶屏幕市场需求巨大。与此同时，为了控制生产成本，高精度屏幕瑕疵分层检测成为液晶屏幕生产厂商亟需的技术。液晶屏幕的组成包括偏光片、玻璃基板、三色滤片、电极与液晶等，包含复杂的多层结构，任何一层的瑕疵都有可能导致屏幕显色的问题。层叠结构空间光调制器是一种定位液晶屏幕各层缺陷的技术，其中一项关键步骤是提取保护膜损伤。如何区分保护膜损伤与屏幕缺陷，对于提高检测准确性和精度具有重要意义。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决上述技术问题之一。为此，本专利技术的目的在于提出一种空间光调制器缺陷检测中保护膜损伤的提取方法。为了实现上述目的，本专利技术的第一方面的实施例公开了一种空间光调制器缺陷检测中保护膜损伤的提取方法，包括以下步骤：A：在关闭空间光调制器的屏幕背光条件下，拍摄不同测光照明条件下保护膜的图像；B：对每张所述图像选取光照均匀区域进行自适应阈值二值化处理得到二值化图像；C：对每张所述二值化图像均进行膨胀和腐蚀；D：对所有经过膨胀和腐蚀的所述二值化图像进行合并，得到所述保护膜的损伤提取。根据本专利技术实施例的空间光调制器缺陷检测中保护膜损伤的提取方法，区分保护膜损伤与屏幕缺陷，提高检测准确性和精度。另外，根据本专利技术上述实施例的空间光调制器缺陷检测中保护膜损伤的提取方法，还可以具有如下附加的技术特征：进一步地，所述步骤B进一步包括：选取所有的所述图像光照均匀区域，运用自适应的阈值求取方法对所述图像进行二值化处理，其中，所述自适应的阈值求取方法包括动量矩不变、最小方差和平均值平均。进一步地，所述步骤C进一步包括：对所述二值化图像进行m次膨胀与n次腐蚀，其中m和n均为自然数，且m>n。进一步地，所述步骤D进一步包括：对所有经过膨胀和腐蚀的所述二值化图像的对前景部分合并为一个整体图像。本专利技术的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。附图说明本专利技术的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：图1是本专利技术一个实施例的空间光调制器缺陷检测中保护膜损伤的提取方法流程框图。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。参照下面的描述和附图，将清楚本专利技术的实施例的这些和其他方面。在这些描述和附图中，具体公开了本专利技术的实施例中的一些特定实施方式，来表示实施本专利技术的实施例的原理的一些方式，但是应当理解，本专利技术的实施例的范围不受此限制。相反，本专利技术的实施例包括落入所附加权利要求书的精神和内涵范围内的所有变化、修改和等同物。以下结合附图描述根据本专利技术实施例的空间光调制器缺陷检测中保护膜损伤的提取方法。如图1所示，根据本专利技术实施例的层叠结构空间光调制器缺陷检测中保护膜损伤的自动提取方法的整体流程图，包括以下步骤：步骤A，将待检测液晶屏幕固定于智能检测机器人。关闭屏幕背光，对屏幕施加不同角度侧光，利用检测机器人拍摄不同光照下图像。则获取的图像中保护膜的损伤部分，如划痕，灰度值较浅，为损伤部分灰度值较深。步骤B，对于不同角度侧光照明下保护膜图像，选取各图像光照均匀区域进行处理。运用自适应的阈值求取方法，对图像进行二值化处理。具体可以采用的方法包括动量矩不变、最小方差和平均值平均等。具体地，基于动量矩不变的自动阈值提取对图像进行二值化处理。定义图像的零阶、一阶、二阶、三阶动量矩分别为： A f = Σ i = 0 j n i B f = Σ i = 0 j i · n i C f = Σ i = 0 j i 2 · n i 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种空间光调制器缺陷检测中保护膜损伤的提取方法，其特征在于，包括以下步骤：A：在关闭空间光调制器的屏幕背光条件下，拍摄不同测光照明条件下保护膜的图像；B：对每张所述图像选取光照均匀区域进行自适应阈值二值化处理得到二值化图像；C：对每张所述二值化图像均进行膨胀和腐蚀；D：对所有经过膨胀和腐蚀的所述二值化图像进行合并，得到所述保护膜的损伤提取。

【技术特征摘要】
1.一种空间光调制器缺陷检测中保护膜损伤的提取方法，其特征在于，包括以下步骤：A：在关闭空间光调制器的屏幕背光条件下，拍摄不同测光照明条件下保护膜的图像；B：对每张所述图像选取光照均匀区域进行自适应阈值二值化处理得到二值化图像；C：对每张所述二值化图像均进行膨胀和腐蚀；D：对所有经过膨胀和腐蚀的所述二值化图像进行合并，得到所述保护膜的损伤提取。2.根据权利要求1所述的空间光调制器缺陷检测中保护膜损伤的提取方法，其特征在于，所述步骤B进一步包括：选取所有的所述图像光照均匀...

【专利技术属性】
技术研发人员：范静涛，戴琼海，鲍家坤，
申请(专利权)人：清华大学，
类型：发明
国别省市：北京;11