具有触摸检测功能的显示装置制造方法及图纸

技术编号:13620214 阅读:110 留言:0更新日期:2016-08-31 11:53
本发明专利技术披露了具有触摸检测功能的显示装置。一种具有触摸检测功能的显示装置,包括:多个液晶显示元件,执行显示操作;多个触摸检测电极,并且每一个都基于由外部接近物体所引起的静电电容的变化来输出检测信号;导电膜,与所述触摸检测电极绝缘或以高电阻与其连接,并且被设置为覆盖触摸检测电极;以及触摸检测电路,通过对检测信号进行采样来检测外部接近物体。导电膜具有等于或小于预定电阻值的薄层电阻,并且具有大于由触摸检测电路中的采样定时所限定的预定最小时间常数的时间常数。

【技术实现步骤摘要】
本申请是申请日为2011年9月7日、申请号为201110264222.0、专利技术名称为“具有触摸检测功能的显示装置以及电子单元”的申请的分案申请,其全部内容结合于此作为参考。
本专利技术涉及具有触摸检测功能的显示装置,具体地,涉及基于由外部接近物体而引起的静电电容的变化来检测触摸事件的具有触摸检测功能的显示装置,以及包括这样的具有触摸检测功能的显示装置的电子单元。
技术介绍
近年来,能够通过将接触检测装置(所谓的触摸面板)安装在诸如液晶显示装置的显示装置上或将触摸面板与显示装置进行集成并且代替通常的机械按钮在显示装置上显示各种按钮图像等来输入信息的显示装置已经引起了人们关注。包括这种触摸面板的显示装置不需要诸如键盘、鼠标及键区的输入装置,因此,存在将这样的显示装置的使用扩展至除计算机之外的诸如手机的便携式信息终端的趋势。作为用在触摸检测装置的方法,存在诸如光学法和电阻法的一些方法。然而,静电电容型触摸检测装置是很有前景的,其具有相对简单的结构,能够一次检测多个位置处的触摸事件,并且能够实现低功耗(这对于移动终端等是非常重要的)。例如,日本未审查专利申请公开第2008-129708(JP-A-2008-129708)号披露了一种触摸检测装置,包括多个X方向电极及被设置为面向X方向电极的多个Y方向电极,并且通过使用由外部接近物体所引起的静电电容的变化来检测触摸事件,静电电容形成在X方向电极与Y方向电极之间的每个交叉点处。另外,例如,在日本未审查专利申请公开第2009-244958(JP-A-2009-244958)号中,已经提出了一种结合触摸检测功能的显示装置,其中,设置在显示装置中用于原始显示的公共电极作为用于触摸传感器的一对电极中的一个被共用,而这对电极的另一个(触摸检测电极)被设置为与公共电极交叉。通常,防静电放电(ESD)措施在电子单元中是很重要的。例如,在制造电子单元及其由用户使用的过程中,静电很可能被施加至电子单元。对于触摸检测装置,已经提出了一些ESD保护措施。例如,在日本未审查专利申请公开第2009-86077(JP-A-2009-86077)号中,已经描述了在液晶显示面板上安装了电阻膜型触摸检测装置的显示装置。在该显示装置中,为了消除在液晶显示面板的制造处理中粘结偏光板时所生成的静电,在液晶显示面板上形成透明导电膜,使其处于电浮置状态,在粘结了偏光板之后,允许夹具(jig)与透明导电膜接触。
技术实现思路
然而,在上述涉及具有各种优点的静电电容型触摸检测装置的JP-A-2008-129708和JP-A-2009-244958中,并没有描述ESD保护措施。在JP-A-2008-129708或JP-A-2009-244958中所描述的具有触摸检测功能的显示装置中,响应于由ESD引起的静电,显示可能被干扰。具体地,由于静电很难被释放,所以在与用于触摸检测的电极分开的区域中,显示受到很长时间的干扰。此外,像JP-A-2008-129708中所描述的具有触摸检测功能的显示装置,在区域中设置用于改进光学特性的虚拟电极的情况下,由于虚拟电极充有静电,所以显示可能受到更长时间的干扰。在JP-A-2009-86077中所描述的显示装置中,透明导电膜处于电浮置状态。因此,例如,在其使用中,在带电手指触摸触摸面板的情况下或其他情况下,存在静电在透明导电膜中充电并很难从透明导电膜中释放的可能性。另外,在JP-A-2009-86077中,描述了安装了电阻膜型触摸检测装置的情况下的透明导电膜的配备;然而,并没有描述静电电容型触摸检测装置的情况。期望提供一种即使在施加了静电的情况下也能够减小显示干扰的具有触摸检测功能的显示装置以及电子单元。根据专利技术实施方式的具有触摸检测功能的显示装置包括多个液晶显示元件、多个触摸检测电极、导电膜以及触摸检测电路。液晶显示元件执行显示操作。多个触摸检测电极基于由外部接近物体所引起的静电电容的变化来输出检测信号。导电膜与触摸检测电极绝缘或以高电阻与其连接,并且被设置在触摸检测电极和触摸检测表面之间以覆盖在触摸检测电极上。触摸检测电路通过对检测信号进行采样来检测外部接近物体。其中,导电膜具有等于或小于预定电阻值的薄层电阻,当所述薄层电阻大于所述预定电阻值时,所述导电膜不提供通过所述导电膜的有效的静电放电路径。导电膜具有大于由触摸检测电路中的采样定时所限定的预定最小时间常数的时间常数。根据专利技术实施方式的电子单元包括上述具有触摸检测功能的显示装置,并且例如对应于电视装置、数码相机、个人计算机、摄像机以及诸如手机的便携式终端装置。在根据专利技术实施方式的具有触摸检测功能的显示装置和电子单元中,当施加了静电时,将导电膜的薄层电阻设定为预定电阻值或更小以通过导电膜将静电释放至触摸检测电极。另外,为了抑制由于导电膜的设置而引起的触摸检测灵敏度的降低,将导电膜的时间常数设定为大于预定的最小时间常数。在根据专利技术实施方式的具有触摸检测功能的显示装置中,例如,期望预定电阻值为1012Ω/sq。此外,例如,触摸检测电路可以基于在检测时段的起始定时处的采样结果与其结束定时处的检测结果之差来检测外部接近物体。检测时段被设定为在其内包括检测信号的变换定时,并且预定最小时间常数可以被设定为检测时段的时间。在这种情况下,例如,导电膜的时间常数可以等于或大于预定最小时间常数的十倍或百倍。此外,例如,根据专利技术实施方式的具有触摸检测功能的显示装置可以进一步包括偏光板,并且导电膜可以与偏光板一体形成。此外,例如,期望将导电膜设置为至少覆盖液晶显示元件执行显示操作的有效显示区。另外,例如,根据专利技术实施方式的具有触摸检测功能的显示装置可以进一步包括并排设置为在与多个触摸检测电极交叉的方向上延伸的多个驱动电极,并且静电电容可以形成在多个触摸检测电极与多个驱动电极的每个交叉点处。在这种情况下,例如,导电膜可以设置在检测电极层的与驱动电极相对的一侧上,检测电极层包括触摸检测电极,并且期望驱动电极与检测电极之间的距离大于导电膜与检测电极层之间的距离。例如,根据专利技术实施方式的具有触摸检测功能的显示装置可以进一步包括虚拟电极,它们设置在多个触摸检测电极之间,并且处于电浮置状态。在这种情况下,例如,彼此邻近的触摸检测电极与虚拟电极之间的间隔期望等于或小于50μm。另外,例如,在有效显示区中,触摸检测电极与虚拟电极的总设置面积期望为有效显示区面积的50%或更大。例如,期望导电膜被提供有恒定电压。另外,触摸检测电极可以以10mm以下的节距并排设置。例如,液晶显示元件可以被构造为包括液晶层和像素电极,像素电极被设置为面向驱动电极,液晶层介于其间。另外,例如,液晶显示元件可以被构造为包括液晶层和像素电极,其中,像素电极设置在液晶层和驱动电极之间,或设置在与液晶层相对的侧上使得驱动电极介于其间。在根据专利技术实施方式的具有触摸检测功能的显示装置和电子单元中,导电膜的薄层电阻被设定为预定电阻值或更小,并且时间常数被设定为预定最小时间常数或更大。因此,可以实现即使当施加了ESD时也能降低对显示的干扰的具有触摸检测功能的显示装置和电子单元。可以理解的是,前面的概述和以下详细的描述都是示例性的,并意在对要求保护的技术提供进一步说明。附图说明附图被包括以提供对专利技术的进本文档来自技高网
...

【技术保护点】
一种具有触摸检测表面的显示装置,包括:多个液晶显示元件,执行显示操作;多个触摸检测电极,基于由接触所述触摸检测表面或接近所述触摸检测表面的外部接近物体所引起的静电电容的变化来输出检测信号;导电膜,与所述触摸检测电极绝缘或经由高电阻层与所述触摸检测电极连接,并且被设置在所述触摸检测电极和所述触摸检测表面之间以覆盖在所述触摸检测电极上;以及触摸检测电路,通过对所述检测信号进行采样来检测所述外部接近物体,其中,所述导电膜具有等于或小于预定电阻值的薄层电阻,当所述薄层电阻大于所述预定电阻值时,所述导电膜不提供通过所述导电膜的有效的静电放电路径,并且所述导电膜具有大于由所述触摸检测电路中的采样定时所限定的最小时间常数的时间常数。

【技术特征摘要】
2010.09.14 JP 2010-2055731.一种具有触摸检测表面的显示装置,包括:多个液晶显示元件,执行显示操作;多个触摸检测电极,基于由接触所述触摸检测表面或接近所述触摸检测表面的外部接近物体所引起的静电电容的变化来输出检测信号;导电膜,与所述触摸检测电极绝缘或经由高电阻层与所述触摸检测电极连接,并且被设置在所述触摸检测电极和所述触摸检测表面之间以覆盖在所述触摸检测电极上;以及触摸检测电路,通过对所述检测信号进行采样来检测所述外部接近物体,其中,所述导电膜具有等于或小于预定电阻值的薄层电阻,当所述薄层电阻大于所述预定电阻值时,所述导电膜不提供通过所述导电膜的有效的静电放电路径,并且所述导电膜具有大于由所述触摸检测电路中的采样定时所限定的最小时间常数的时间常数。2.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述预定电阻值为1012Ω/sq。3.根据权利要求2所述的显示装置,其中,所述触摸检测电路基于检测时段的起始定时处的采样结果与所述检测时段的结束定时处的采样结果之间的差值来检测所述外部接近物体,所述检测时段被设定为在其内包括所述检测信号的变换定时,并且采用所述检测时段的时间长度作为所述最小时间常数。4.根据权利要求3所述的显示装置,其中,所述导电膜的时间常数具有等于或大于所述最小时间常数10倍的值。5.根据权利要求3所述的显示装置,其中,所述导电膜的时间常数具有等于或大于所述最小时间常数100倍的值。6.根据权利要求1至3任意一项所述的显示装置,进一步包括偏光板,其中,所述导电膜与所述偏光板一体形成。7.根据权利要求1至3任意一项所述的显示装置,其中,所述导电膜被设置为至少覆盖在所述液晶显示元件能够执行显示操作的有效显示区上。8.根据权利要求7所述的显示装置,进一步包括虚拟电极,设置在所述多个触摸检测电极之间,并保持在电浮置状态。9.根据权利要求8所述的显示装置,其中,彼此相邻的所述触摸检测电极与所述虚拟电极之间的间隔大小等于或小于50μm。10.根据权利要求8所述的显示装置,其中,所述有效显示区内的所述触摸检测电极和所述虚拟电极的总设置面积为所述有效显示区的面积的50%以上。11.根据权利要求1至3任意一项所述的显示装置,其中,所述导电膜被连接至恒定的电压源。12.根据权利要求1至3任意一项所述的显示装置,其中,所述触摸检测电极以10mm以下的节距并排设置。13.根据权利要求1所述的显示装置,其中,所述液晶显示元...

【专利技术属性】
技术研发人员:石崎刚司野口幸治石毛理
申请(专利权)人:株式会社日本显示器
类型:发明
国别省市:日本;JP

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1