用于分光光度数据的统计测量控制的系统和方法技术方案

一种计算机实现方法。该方法包括使用处理器从其上具有目标涂层的被涂覆的表面获得光谱反射率数据(10)；并且使用处理器确定(18)所述数据是否包括任何异常数据点(20)。该方法还包括使用处理器移除(22)所述异常数据点中的至少一个，以产生最终的光谱反射率数据(32)；以及使用处理器，至少部分基于所述最终的光谱反射率数据，计算(34)所述目标涂层的特性。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
在各个实施例中，本专利技术一般涉及一种方法和装置，用于推导出通过对被固化的复合涂层(例如涂料)混合物涂覆的表面进行分光光度测量获得的准确数据。
技术介绍
因为颜色的固有变化横跨被涂覆的表表(这可能是由于，例如低劣的涂层应用，不稳定的涂料化学成分，特殊颜料诸如云母和Xirallic的自然波动)，经常使用统计测量控制(“SMC”)移除由这样的变化导致的错误的或者不准确的数据。另外，SMC通常被用来改善测量不正确的区域或者不能代表被测量的被涂覆的表面的其余部分的区域的效果。这样的相关区域包括，例如表面上的划痕、灰尘、指纹、涂层瑕疵或者分光光度计的光圈不能保持完全处于涂层上的区域。通常，在刚性需求下，SMC已使用比色数据(例如，作为L＊、a＊和b＊)在角度基础上使用置信区间来完成。然而，这样的方法在移除从分光光度测量获得的错误的或者不准确的数据上并不总是准确的。因此，需要一种系统和方法，使用光谱反射率数据，而不是比色推导，并且允许更灵活的公差。
技术实现思路
在第一方面，本专利技术的实施例提供了一种计算机实现方法。该方法包括使用处理器从其上具有目标涂层的被涂覆的表面获得光谱反射率数据；并且使用处理器确定该数据是否包括任何异常数据点。该方法还包括使用处理器移除异常数据点中的至少一个，以产生最终的光谱反射率数据；并且使用处理器，至少部分基于最终的光谱反射率数据计算目标涂层的特性。在另一方面，本专利技术的实施例提供了一种系统。该系统包括用户界面；以及与用户界面通信的处理器。该处理器被编程以从其上具有目标涂层的被涂覆的表面获得光谱反射率数
据；确定数据中是否包含任何异常数据点；移除异常数据点中的至少一个以产生最终的光谱反射率数据；并且至少部分基于最终的光谱反射率数据计算目标涂层的特性。在另一方面，本专利技术的实施例提供了一种装置，该装置包括用于从其上具有目标涂层的被涂覆的表面获得光谱反射率数据的装置；用于确定数据是否包括任何异常数据点的装置；用于移除异常数据点中的至少一个以产生最终的光谱反射率数据的装置；用于至少部分基于最终的光谱反射率数据计算目标涂层的特性的装置。在另一方面，本专利技术的实施例提供了一种非瞬态计算机可读介质，其包括软件，该软件用于使处理器：从其上具有目标涂层的被涂覆的表面获得光谱反射率数据；确定该数据是否包括任何异常数据点；移除异常数据点中的至少一个以产生最终的光谱反射率数据；至少部分基于最终的光谱反射率数据计算目标涂层的特性。附图说明图1例示了用于推导出通过对被固化的复合涂层(例如，涂料)混合物涂覆的表面进行分光光度测量获得的数据的过程的实施例的流程图。图2例示了系统的实施例，其可以被用于产生通过对被固化的复合涂层(例如，涂料)混合物涂覆的表面进行分光光度测量获得的数据。具体实施方式在各种方面，本专利技术的实施例包括分光光度计，以及可用于从对被涂覆的表面进行分光光度测量获得的数据中产生准确数据的方法。本专利技术的各种实施例包括装置，其具有用于捕获目标样本的分光光度数据的设备，以及用于从分光光度数据推导出准确数据的处理器，所述准确数据可用于产生具有与目标样本特性相似的涂层。输出设备可以用于将该特性传达给用户。虽然此处的描述的一般指的是涂料，应当理解的是，所述设备、系统和方法也应用于其它类型的涂层，包括染料和工业涂层。本专利技术描述的实施例不应当被认为是限制。和本专利技术一致的方法可以在多个领域实践，诸如服饰和时尚产品的匹配和/或协调。本专利技术的实施例可以与计算机系统一起使用，或者并入计算机系统中，所述计算机系统可以是一个独立的单元或者包括一个或者多个通过网络(诸如，例如因特网或内联网)与中央计算机通信的远程终端或者设备。同样地，计算机或者“处理器”以及此处描述的相关组件可以是下列系统的一部分：本地计算机系统或者远程计算级或者在线系统或者它们的组合。此处描述的数据库和软件可存储在计算机内部存储器或者非瞬态计算机可读介质中。本专利技术的实施例针对用于对从分光光度计获得的数据进行统计测量控制(“SMC”)的多步骤处理。图1例示了用于推导出通过对被涂覆的表面进行的分光光度测量获得的数据的过程的实施例的流程图。该过程开始于步骤10，这时用户启动来自光学仪器(诸如，分光光度计)的光谱反射率数据的传输(例如，上传)。在各种实施例中，该数据或者在每次单独的测量后传输，或者在所有的测量都已完成后作为一系列测量结果传输。在各种实施例中，至少进行三次测量，以确保充足的样本，并且在各种实施例中，测量结果的最大数量是基于用户指定的测量结果的数量。为了在步骤10获得准确的测量结果，可以期望不论在表面的任何测量位置，分光光度计相对于被涂覆的表面都保持单一的指向。同样，可以期望在各种实施例中，移动分光光度计到横跨目标表面的不同的位置以获得多个测量结果，并且可以进一步期望避开目标表面上的明显瑕疵，诸如灰尘、划痕、针孔、气泡等。在该过程的步骤12，计算在步骤10进行的每次测量的色调角(hue angle)。这种计算移除一个或者多个明显不接近大多数测量结果的测量结果，例如当测量在与目标表面不同的表面上进行时。在各种实施例中，做出这样的基本假设：来自步骤10的大多数的测量是正确的。如果在步骤10采用多角度分光光度计设备，那么可以使用在“面”角(例如，在45度角)的色调角。在步骤14，每一次测量结果都与中间色调角进行比较。在步骤16，如果确定该中间色调角和单独的测量的色调角之间的差值大于一个指定的公差，那么该测量结果被标记为排除。在各种实施例中，指定的公差例如为5度，并且在各种实施例中，设置该公差需要单独的角度分析。在各种实施例中，如果多个测量结果超出公差，那么在步骤16具有最大差值的测量结果被标记为排除。在各种实施例中，可以
按照需要为了大幅变化的数据集重复步骤12、14和16。然而，如果在色调角分析时已经达到测量结果的最小数量(例如，三个测量结果)，并且如在步骤14确定的呈现了大于公差的差值，该测量结果将使该过程失效并且按照以下描述的来解决。一旦已经完成色调角相对于中间色调角的所有检查，并且如步骤14确定的在所希望的公差水平内，则过程前进到步骤18，其中应用统计异常值检测检验。在各种实施例中，统计异常值检测检验是用于异常值的Grubbs’检验。在各种实施例中，做出测量结果呈现正态分布的假设，因为与测量结果正态性相偏斜的测量结果在步骤16中已经被去除。在各种实施例中，Grubbs’检验被应用于在每个特定的角度和波长的组合处的光谱反射率数据。在统计方面，Grubbs’检验使用从置信水平推导出的显著性水平，目的在于接受或者拒绝无效的以及可替换的假定。在各种实施例中，无效的假定是在特定的角度和波长结合处的光谱反射率数据集不包含任何的异常值。而可替换的假定是在数据集中存在至少一个异常值。为了完成分析，置信水平和显著性水平是基于处理需要而设置的。“G”值和“临界”值(“C”)按照下列等式(1)和(2)计算：(1)---G=|R-M|s]]>(2)---C=(N-1N)*t2N-2+t2]]>其中R是在特定的角度和波长组合处的特定测量结果的光谱反射率，M是在特定的角度和波长组合处的来自所有还未被标记为排除的测量结果的光谱反射率的中间值，S是在特定的角度和波长本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种计算机实现的方法，包括：使用处理器，从其上具有目标涂层的被涂覆的表面获得光谱反射率数据；使用处理器，确定所述数据是否包括任何异常数据点；使用处理器，移除所述异常数据点中的至少一个，以产生最终的光谱反射率数据；以及使用处理器，至少部分基于所述最终的光谱反射率数据，计算所述目标涂层的特性。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.01.09 US 13/737,1791.一种计算机实现的方法，包括：使用处理器，从其上具有目标涂层的被涂覆的表面获得光谱反射率数据；使用处理器，确定所述数据是否包括任何异常数据点；使用处理器，移除所述异常数据点中的至少一个，以产生最终的光谱反射率数据；以及使用处理器，至少部分基于所述最终的光谱反射率数据，计算所述目标涂层的特性。2.根据权利要求1所述的方法，其中确定所述数据是否包括任何异常数据点包括对所述数据执行统计异常值检验。3.根据权利要求2所述的方法，其中所述统计异常值检验是用于异常值的Grubb’s检验。4.根据权利要求1所述的方法，其中计算所述目标涂层的特性包括下列中的至少一个：产生比色数据(L＊，a＊，b＊，C＊，h＊)、产生三刺激数据(X，Y，Z)、产生吸收和散射数据(K，S)、计算不透明度、计算黑度、计算颜料强度、产生颜色配方、产生颜色匹配质量指示器、产生颜色调整以及产生光谱反射率曲线比较。5.根据权利要求1所述的方法，进一步包括用分光光度计测量所述被涂覆的表面以获得所述光谱反射率数据。6.一种系统，包括：用户界面；以及处理器，其与所述用户界面通信并且被编程为：从其上具有目标涂层的被涂覆的表面获得光谱反射率数据；确定所述数据是否包括任何异常数据点；移除所述异常数据点中的至少一个，以产生最终的光谱反射率数据；以及至少部分基于所述最终的光谱反...

【专利技术属性】
技术研发人员：A·M·诺里斯，
申请(专利权)人：PPG工业俄亥俄公司，
类型：发明
国别省市：美国;US