【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电阻的检测方法。更具体地,涉及一种电子设备无源电阻的检测方法。
技术介绍
电子设备无源电阻检测在电子设备加电前,对电子设备的各个通路进行检查,检查各信号和信号回线之间的通路和信号之间断路情况,检查信号与机壳之间的通断情况,并对数据进行显示和传输。传统的无源电阻检测先选择大档位进行电阻测试,若检测到电阻值较小,则选择相对应的档位进行电阻测试。在一次导通电阻通路较多的性能测量中,增加了电阻值测量的时间。特别是增加了由于多次变换档位带来的测量值不确定度。因此,需要提供一种电子设备无源电阻的检测方法。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种电子设备无源电阻的检测方法。为达到上述目的,本专利技术采用下述技术方案:一种电子设备无源电阻的检测方法,该方法包括如下步骤:S1、根据待测电阻的型号将待测电阻Rx分组;S2、分别按照第一种和第二种检测电阻的电路连接方法连接检测电阻的电路,并估算待测电阻Rx的估算值Rx’;S3、采用直流交替测量法计算待测电阻Rx的计算值Rx”;S4、根据待测电阻Rx的估算值Rx’和待测电阻Rx的计算值Rx”计算待测电阻Rx的阻值Rx”’;第一种检测电阻的电路连接方法为:将可调电阻RP的输入端和输出端分别连接直流电源E的输出端和输入端,待测电阻Rx的输入端和输出端分别连接直流电源E的输出端和双向转换开关的输入端b,双向转换开关的输入端a和输出端分别连接直流电源E的输出端和电压表的输入端,电流表的输入端和输出端分别连接双向转换开关的输入端b和基准电阻R0的输入端,电压表的输出端和基准电阻R0的输出端分别连接可调电阻RP的调节端,根据待 ...
【技术保护点】
一种电子设备无源电阻的检测方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:S1、根据待测电阻的型号将待测电阻Rx分组;S2、分别按照第一种和第二种检测电阻的电路连接方法连接检测电阻的电路,并估算待测电阻Rx的估算值Rx’;S3、采用直流交替测量法计算待测电阻Rx的计算值Rx”;S4、根据待测电阻Rx的估算值Rx’和待测电阻Rx的计算值Rx”计算待测电阻Rx的阻值Rx”’;所述第一种检测电阻的电路连接方法为:将可调电阻RP的输入端和输出端分别连接直流电源E的输出端和输入端,待测电阻Rx的输入端和输出端分别连接直流电源E的输出端和双向转换开关的输入端b,双向转换开关的输入端a和输出端分别连接直流电源E的输出端和电压表的输入端,电流表的输入端和输出端分别连接双向转换开关的输入端b和基准电阻R0的输入端,电压表的输出端和基准电阻R0的输出端分别连接可调电阻RP的调节端,根据待测电阻Rx的组别调节可调电阻RP的值到测试值;所述第二种检测电阻的电路的连接方法为:将可调电阻RP的输入端和输出端分别连接直流电源E的输出端和开关S的输入端,开关S的输出端连接直流电源E的输入端,电压表、基准电阻R0和待测电阻Rx的 ...
【技术特征摘要】
1.一种电子设备无源电阻的检测方法,其特征在于,该方法包括如下步骤:S1、根据待测电阻的型号将待测电阻Rx分组;S2、分别按照第一种和第二种检测电阻的电路连接方法连接检测电阻的电路,并估算待测电阻Rx的估算值Rx’;S3、采用直流交替测量法计算待测电阻Rx的计算值Rx”;S4、根据待测电阻Rx的估算值Rx’和待测电阻Rx的计算值Rx”计算待测电阻Rx的阻值Rx”’;所述第一种检测电阻的电路连接方法为:将可调电阻RP的输入端和输出端分别连接直流电源E的输出端和输入端,待测电阻Rx的输入端和输出端分别连接直流电源E的输出端和双向转换开关的输入端b,双向转换开关的输入端a和输出端分别连接直流电源E的输出端和电压表的输入端,电流表的输入端和输出端分别连接双向转换开关的输入端b和基准电阻R0的输入端,电压表的输出端和基准电阻R0的输出端分别连接可调电阻RP的调节端,根据待测电阻Rx的组别调节可调电阻RP的值到测试值;所述第二种检测电阻的电路的连接方法为:将可调电阻RP的输入端和输出端分别连接直流电源E的输出端和开关S的输入端,开关S的输出端连接直流电源E的输入端,电压表、基准电阻R0和待测电阻Rx的输入端分别连接直流电源E的输出端,电压表和基准电阻R0的输出端分别连接电流表的输入端,开关S1的输入端和输出端分别连接待测电阻Rx的输出端和电流表的输入端,电流表的输出端连接可调电阻RP的调节端,根据待测电阻Rx的组别调节可调电阻RP的值到测试值。2.根据权利要求1所述的电子设备无源电阻的检测方法,其特征在于,所述步骤S1中进一步包括将待测电阻的型号将待测电阻分为5组,分组规则为:第一组:Rx<1Ω;第二组:1Ω<Rx<100Ω;第三组:100Ω<Rx<1000Ω;第四组:1000Ω<Rx<100000Ω;第五组:100000Ω<Rx。3.根据权利要求1所述的电子设备无源电阻的检测方法,其特征在于, 所述步骤S2进一步包括如下子步骤:S2.1、按照第一种检测电阻的电路连接方法连接检测电阻的电路,并估算待测电阻Rx的第一估算值;S2.2、利用与第一种检测电阻的电路连接方法连接检测电阻的...
【专利技术属性】
技术研发人员:王蕾蕾,邱辉,牛慧博,
申请(专利权)人:北京电子工程总体研究所,
类型:发明
国别省市:北京;11
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