【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】201480072727
【技术保护点】
一种系统,包括:集成基本上围封计算设备的电子器件的计算设备外壳的辐射结构,辐射结构包括绝缘体;以及定位成经由位于辐射结构上的暴露点检测对象的接近性的接近性传感器。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.01.10 US 14/1523511.一种系统,包括:集成基本上围封计算设备的电子器件的计算设备外壳的辐射结构,辐射结构包括绝缘体;以及定位成经由位于辐射结构上的暴露点检测对象的接近性的接近性传感器。2.权利要求1所述的系统,其中暴露点位于绝缘体上。3.权利要求1所述的系统,其中暴露点位于计算设备外壳上。4.权利要求1所述的系统,其中辐射结构包括由绝缘体定界的金属板,金属板执行辐射结构的辐射功能,暴露点位于金属板上。5.权利要求3所述的系统,还包括:配置成检测金属板与对象之间的电容中的改变的电容感测电路,其中暴露点包括形成计算设备的部分的金属板的表面。6.权利要求4所述的系统,还包括:串联在金属板与电容感测电路之间的第一电感器和第二电感器,第一电感器具有比第二电感器的电感值更低的电感值。7.权利要求4所述的系统,还包括:串联在金属板与电容感测电路之间的电感器和电阻器,电阻器比电感器更靠近电容感测电路。8.权利要求1所述的系统,其中暴露点是...
【专利技术属性】
技术研发人员:SR默瑟,C哈万,
申请(专利权)人:微软技术许可有限责任公司,
类型:发明
国别省市:美国;US
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