【技术实现步骤摘要】
201610079436
【技术保护点】
一种光学分析仪,用于通过将光从光投射单元投射到目标样品中或样品上并且将响应于投射光从所述样品获得的光引入光电探测器来对所述样品进行分析,所述光投射单元包括作为光源的发光半导体器件,所述光学分析仪包括:a)光学部件,用于将接收的光聚焦到所述样品上而同时在所述接收的光的一部分没有被聚焦的情况下产生未聚焦光,所述光学部件布置在从所述光投射单元到所述样品的光路上;b)第二光电探测器,布置在所述光学部件产生的所述未聚焦光到达的位置处;以及c)控制单元,用于基于所述第二光电探测器产生的强度信号来控制要供应给所述发光半导体器件的驱动电流,使得光量处于固定级别。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:长井悠佑,小川佳祐,渡边真人,神宫句实子,藤原理悟,山崎智之,
申请(专利权)人:株式会社岛津制作所,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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