一种用于激光干涉仪测量导轨直线度的光学系统技术方案

本发明专利技术提供一种用于激光干涉仪测量导轨直线度的光学系统，包括：探测光学组件、光学转向镜、可旋转激光头和外光路组件，光束通过所述探测光学组件实现双通道的光学探测，所述光学转向镜用于实现光束的下移和转向以适应所述探测光学组件的探测需求，所述可旋转激光头为设置于所述探测光学组件和外光路组件之间的可旋转回光部件，所述外光路组件用于测量所述光学系统的外光路。本发明专利技术通过三维光学转向镜大大简化了垂直方向直线度测量的设置和步骤，所述探测光学组件实现双通道的光学探测，简化了光学系统的光学元件，最大化的利用了光学元件，节约仪器设计的空间；同时，所述可旋转激光头的激光回光孔设计得更为合理，充分利用了现有的孔位。

【技术实现步骤摘要】
201610323294

【技术保护点】
一种用于激光干涉仪测量导轨直线度的光学系统，其特征在于，包括：探测光学组件、光学转向镜、可旋转激光头和外光路组件，光束通过所述探测光学组件实现双通道的光学探测，所述光学转向镜用于实现光束的下移和转向以适应所述探测光学组件的探测需求，所述可旋转激光头为设置于所述探测光学组件和外光路组件之间的可旋转回光部件，所述外光路组件用于测量所述光学系统的外光路。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘龙为，张和君，张珂，陈源，
申请(专利权)人：深圳市中图仪器科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44