检查系统及方法技术方案

技术编号:13508132 阅读:88 留言:0更新日期:2016-08-10 19:00
描述了一种或更多种用于检查诸如轮胎之类的对象的技术和/或系统。该系统包括辐射成像系统和机器视觉系统,其中,辐射成像系统被配置成通过辐射检查对象以生成用于描绘对象的内部特定部分的辐射图像,以及机器视觉系统被配置成测量可见光和/或红外波长以生成用于描绘对象的外部特定部分的视觉图像。可以将辐射图像和视觉图像相关联以便于检查对象,该检查过程包括检查外部特定部分以及内部特定部分。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】【专利摘要】描述了一种或更多种用于检查诸如轮胎之类的对象的技术和/或系统。该系统包括辐射成像系统和机器视觉系统,其中,辐射成像系统被配置成通过辐射检查对象以生成用于描绘对象的内部特定部分的辐射图像,以及机器视觉系统被配置成测量可见光和/或红外波长以生成用于描绘对象的外部特定部分的视觉图像。可以将辐射图像和视觉图像相关联以便于检查对象,该检查过程包括检查外部特定部分以及内部特定部分。【专利说明】
本申请涉及成像领域,更具体地涉及一种检查系统,该检查系统被配置成对对象的外部特定部分(exter1r aspect)和内部特定部分(inter1r aspect)成像。结合工业应用可以发现特定的应用,在特定的应用中,检查系统被配置成对对象的缺陷成像。然而,本专利技术还涉及其他应用,诸如医学应用和/或安全应用,其中,例如,可能需要生成描绘对象的外部特定部分和内部特定部分的图像以进行威胁探测、医学诊断和/或医学治疗。
技术介绍
计算机断层扫描(CT)系统和其他辐射成像系统(例如,单光子发射计算机断层扫描(SPECT)、数字射线照相术(digi taI rad1graphy )、行扫描系统等)对于提供关于待检查对象的内部特定部分的信息(例如,图像)是有用的。对象被暴露于来自辐射源的辐射光子(例如,X射线光子、伽马射线光子等)并且穿过对象的辐射光子通过探测器阵列被探测,该探测器阵列被设置成相对于对象与辐射源大体上径向相对。对辐射光子被对象或者被对象的与辐射的光束路径相交的特定部分所衰减(例如,吸收、散射等)的程度进行测量以确定关于这些特定部分的信息。例如,在CT系统中,可以使用辐射光子的衰减程度来确定这些特定部分的密度和/或原子序数。对象的高密度特定部分相对于低密度特定部分通常会衰减更多辐射,从而使得能够根据所采集的信息和/或根据所采集的信息生成的用于描绘对象的间隔视图(interval view)来识别出裂纹、缺陷和/或其它特征。虽然已经证明这样的系统对于识别对象的内部特定部分的特征和/或用于生成对象的内部视图是有用的,但是辐射成像系统通常不能提供关于对象外部特定部分的信息,诸如,关于对象的外表面的信息。
技术实现思路
本申请的各个方面解决了上述问题以及其他问题。根据一方面,提供了一种检查系统。该检查系统包括机器视觉系统和辐射成像系统,机器视觉系统被配置成检查对象的外表面以生成用于描绘外表面上的零个或更多个缺陷的视觉图像,以及辐射成像系统被配置成检查对象的内部空间(inter1r volume)以生成用于描绘内部空间的零个或更多个缺陷的辐射图像。检查系统还包括关联部件,该关联部件被配置成将视觉图像的第一区域与辐射图像的第二区域在空间上相关联。根据另一方面,提供了一种用于对象检查的方法。该方法包括:通过测量可见光谱或红外光谱中的至少一个中的波长来检查对象的外表面以生成用于描绘外表面的零个或更多个缺陷的第一图像。该方法还包括:使用摄像或伽马射线中的至少一个来检查对象的内部空间以生成用于描绘内部空间内的零个或更多个缺陷的第二图像。该方法还包括:将第一图像的第一区域与第二图像的第二区域融合以生成融合图像,以及分析融合图像以探测对象的缺陷。根据另一方面,提供了一种检查系统。该检查系统包括机器视觉系统,该机器视觉系统被配置成检查对象的外表面以生成用于描绘外表面上的零个或更多个缺陷的视觉图像。检查系统还包括辐射图像系统,该辐射成像系统被配置成检查对象的内部空间以生成用于描绘内部空间内的零个或更多个缺陷的辐射图像,并且该辐射成像系统包括辐射源以及被配置成绕着第一轴旋转的探测器阵列。检查系统还包括对象移动部件,该对象移动部件被配置成在进行以下至少之一的同时使所述对象绕着第二轴旋转:机器视觉系统检查外表面以及辐射成像系统检查内部空间,该第二轴大体上垂直于第一轴。检查系统还包括关联部件,该关联部件被配置成将第一图像的第一区域与第二图像的第二区域在空间上相关联。【附图说明】本申请借助于示例进行说明而并非限制于附图中的各图示,其中,相同的附图标记表示相同的元件,并且在附图中:图1示出了示例性系统;图2示出了示例性检查单元的透视图;图3示出了示例性检查单元的透视图;图4示出了示例性检查单元的透视图;图5是示例性特征识别部件的部件框图;图6是示例性特征识别部件的部件框图;图7示出了表示轮胎的示例性辐射图像;图8示出了表示轮胎的示例性视觉图像;图9示出了表示轮胎的示例性辐射图像;图10示出了表示轮胎的示例性视觉图像;图11示出了轮胎的示例性融合图像;图12示出了用于对象检查的示例性方法的流程图;以及图13是示例性计算机可读介质的图解,该示例性计算机可读介质包括被配置为体现本文所提出的一个或更多个规定的处理器可执行指令。【具体实施方式】现在参考附图对所要求保护的主题进行描述,其中,整个附图中相同的附图标记通常用于表示相同的元件。在以下说明书中,出于解释的目的,对各种具体细节进行了阐述以提供对所要求保护的主题的透彻理解。然而,可能明显的是,不需要这些具体细节也可以实践所要求保护的主题。在其他情况下,以框图形式示出了结构和装置以便于描述所要求保护的主题。本文尤其描述了一些系统和/或技术,这些系统和/或技术用于获取关于待检查的对象的内部特定部分(例如,诸如内部空间)和外部特定部分(例如,诸如外表面)的信息。在一些实施例中,这样的信息可以包括用于描绘对象的横截面切片的三维图像,所述对象的横截面切片不仅描述了对象的外表面而且描述了对象的内表面。通过这种方式,可以对诸如轮胎的对象进行检查以识别缺陷,例如,该缺陷可能开始于轮胎的表面然后持续径向向内朝向轮胎的中心轴。根据一些实施例,提供了一种系统,该系统包括辐射成像系统(诸如,计算断层扫描(CT)系统)和机器视觉系统(诸如,红外成像系统和/或可见光成像系统)。辐射成像系统被配置成检查对象以生成对象的内部特定部分(例如,对象的、在不打开/剖开或者穿透该对象的情况下人类视觉通常无法看到的特定部分)的信息,而机器视觉系统被配置成检查对象以生成对象的外部特定部分(例如,通常对于人类可见的对象的表面)的信息。例如,辐射成像系统可以被配置成生成关于轮胎壁的内部成分的信息,以及机器视觉系统可以被配置成生成关于轮胎壁的外表面的信息。根据一些实施例,辐射成像系统和/或机器视觉系统被配置成生成对象的二维和/或三维图像。例如,辐射成像系统可以被配置成:在机器视觉系统生成用于描绘对象的外表面的二维视觉图像和/或三维视觉图像的同时生成三维辐射图像。在一些实施例中,可以识别出辐射图像和/或视觉图像内的地理标记。在一些实施例中,这样的地理标记可以有利于将两种成像模式所生成的图像融合。在一些实施例中,可以通过特征识别部件或者被配置成分析图像以识别指定特征的其他分析部件(例如,威胁探测部件)来处理辐射图像、视觉图像和/或通过将辐射图像与视觉图像融合所生成的融合图像。例如,特征识别部件可以分析融合图像以确定对象是否包括开始于轮胎的表面并且延伸到轮胎的壁的至少一英寸中的任何裂纹。如果识别出这样的缺陷,则特征识别部件可以发出警报和/或使对象转向特定位置(例如,次品位置(rejectlocat1n))。例如,通过这种方式,可以将具有这样的特征本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种检查系统,包括:机器视觉系统,其被配置成检查对象的外表面以生成用于描绘所述外表面上的零个或更多个缺陷的视觉图像;辐射成像系统,其被配置成检查所述对象的内部空间以生成用于描绘所述内部空间内的零个或更多个缺陷的辐射图像;以及关联部件,其被配置成将所述视觉图像的第一区域与所述辐射图像的第二区域在空间上相关联。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员:约翰·P·奥康纳查尔斯·肖内西埃里克·让宁尼古拉斯·A·阿康曼德
申请(专利权)人:模拟技术公司
类型:发明
国别省市:美国;US

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