本实用新型专利技术提供一种液晶面板点灯测试装置，所述测试单元所引出的每根测试探针与所述测试接口中的一个测试子接口的一端电性连接，所述测试子接口的另一端与m根所述测试线的末端电连接，由此实现m根测试线通过测试子接口与对应的测试探针连接；其中，m大于等于2；其中，属于同一测试单元的相邻测试探针的间距为0.3-0.6毫米。优点为：可有效减少测试子接口的布置数量，从而可增大测试子接口的间距，方便搭建点灯测试装置，减化了点灯测试装置的结构复杂度，降低了点灯测试装置的维修率，延长了点灯测试装置的使用寿命。
【技术实现步骤摘要】
本技术属于液晶面板测试
，具体涉及一种液晶面板点灯测试装置。
技术介绍
液晶面板在正式出厂前，均需要进行点灯测试，从而检测液晶面板是否存在坏点。传统的液晶面板点灯测试装置，普遍具有成本高、结构复杂、易出现故障、维修率极高以及使用寿命短等不足，如何有效解决上述问题，具有重要意义。
技术实现思路
针对现有技术存在的缺陷，本技术提供一种液晶面板点灯测试装置，可有效解决上述问题。本技术采用的技术方案如下:本技术提供一种液晶面板点灯测试装置，包括测试外壳，所述测试外壳的内部固定有供电电源和测试电路主板;所述供电电源与所述测试电路主板电连接，用于向所述测试电路主板供电;所述测试电路主板的端部设置有至少一个测试单元;其中，所述测试单元引出η根测试探针；在液晶面板的表面印制若干条测试线，并在所述液晶面板的侧部安装有至少一个测试接口；其中，所述测试接口由η个测试子接口组成；所述测试单元所引出的每根测试探针与所述测试接口中的一个测试子接口的一端电性连接，所述测试子接口的另一端与m根所述测试线的末端电连接，由此实现m根测试线通过测试子接口与对应的测试探针连接;其中，111大于等于2;其中，属于同一测试单元的相邻测试探针的间距为0.3-0.6毫米。优选的，属于同一测试单元的相邻测试探针的间距为0.4毫米。优选的，每个所述测试单元包括的测试探针的数量为20个。优选的，所述液晶面板的侧部安装有6个所述测试接口。优选的，所述测试电路主板的端部设置有2个测试单元。本技术提供的液晶面板点灯测试装置具有以下优点:本技术中，将多根测试线的未端接入到同一个测试子接口中，而测试子接口再通过测试探针与测试电路主板连接，从而实现测试电路主板点亮测试线，从而进行点灯测试过程；由于同一个测试子接口与多根测试线实现电性连接，因此，在相同面积的测试面板印制相同数量的测试线时，可有效减少测试子接口的布置数量，从而可增大测试子接口的间距，方便搭建点灯测试装置，减化了点灯测试装置的结构复杂度，降低了点灯测试装置的维修率，延长了点灯测试装置的使用寿命。【附图说明】图1为本技术提供的液晶面板点灯测试装置的结构示意图。图2为图1中A区域的局部放大图；其中，1-液晶面板;2-液晶面板点灯测试装置;3-测试单元;4-测试探针;5-测试子接口；6-测试接口。【具体实施方式】为了使本技术所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。结合图1和图2，其中，图2中，C区域为B区域的局部放大图。本技术提供一种液晶面板点灯测试装置，包括测试外壳，测试外壳的内部固定有供电电源和测试电路主板;供电电源与测试电路主板电连接，用于向测试电路主板供电；测试电路主板的端部设置有至少一个测试单元，在图2中，共有2个测试单元;其中，测试单元引出η根测试探针，参考图2可以看出，在图2中，每个测试单元包括的测试探针的数量为20个。在液晶面板的表面印制若干条测试线，并在液晶面板的侧部安装有至少一个测试接口，参考图1，液晶面板的侧部安装有6个测试接口。其中，测试接口由η个测试子接口组成;每个测试接口包括的测试子接口的数量与每个测试单元包括的测试探针的数量相等。测试单元所引出的每根测试探针与测试接口中的一个测试子接口的一端电性连接，测试子接口的另一端与m根测试线的末端电连接，由此实现m根测试线通过测试子接口与对应的测试探针连接;其中，111大于等于2;其中，属于同一测试单元的相邻测试探针的间距为0.3-0.6毫米，例如，为0.4毫米。本技术中，将多根测试线的未端接入到同一个测试子接口中，而测试子接口再通过测试探针与测试电路主板连接，从而实现测试电路主板点亮测试线，从而进行点灯测试过程；由于同一个测试子接口与多根测试线实现电性连接，因此，在相同面积的测试面板印制相同数量的测试线时，可有效减少测试子接口的布置数量，从而可增大测试子接口的间距，方便搭建点灯测试装置，减化了点灯测试装置的结构复杂度，降低了点灯测试装置的维修率，延长了点灯测试装置的使用寿命。以上所述仅是本技术的优选实施方式，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本技术原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视本技术的保护范围。【主权项】1.一种液晶面板点灯测试装置，其特征在于，包括测试外壳，所述测试外壳的内部固定有供电电源和测试电路主板;所述供电电源与所述测试电路主板电连接，用于向所述测试电路主板供电;所述测试电路主板的端部设置有至少一个测试单元;其中，所述测试单元引出η根测试探针； 在液晶面板的表面印制若干条测试线，并在所述液晶面板的侧部安装有至少一个测试接口；其中，所述测试接口由η个测试子接口组成； 所述测试单元所引出的每根测试探针与所述测试接口中的一个测试子接口的一端电性连接，所述测试子接口的另一端与m根所述测试线的末端电连接，由此实现m根测试线通过测试子接口与对应的测试探针连接;其中，111大于等于2; 其中，属于同一测试单元的相邻测试探针的间距为0.3-0.6毫米。2.根据权利要求1所述的液晶面板点灯测试装置，其特征在于，属于同一测试单元的相邻测试探针的间距为0.4毫米。3.根据权利要求1所述的液晶面板点灯测试装置，其特征在于，每个所述测试单元包括的测试探针的数量为20个。4.根据权利要求1所述的液晶面板点灯测试装置，其特征在于，所述液晶面板的侧部安装有6个所述测试接口。5.根据权利要求1所述的液晶面板点灯测试装置，其特征在于，所述测试电路主板的端部设置有2个测试单元。【专利摘要】本技术提供一种液晶面板点灯测试装置，所述测试单元所引出的每根测试探针与所述测试接口中的一个测试子接口的一端电性连接，所述测试子接口的另一端与m根所述测试线的末端电连接，由此实现m根测试线通过测试子接口与对应的测试探针连接；其中，m大于等于2；其中，属于同一测试单元的相邻测试探针的间距为0.3-0.6毫米。优点为：可有效减少测试子接口的布置数量，从而可增大测试子接口的间距，方便搭建点灯测试装置，减化了点灯测试装置的结构复杂度，降低了点灯测试装置的维修率，延长了点灯测试装置的使用寿命。【IPC分类】G02F1/13【公开号】CN205333997【申请号】CN201620078175【专利技术人】李贤民 【申请人】北京瑞荣达电子技术有限公司【公开日】2016年6月22日【申请日】2016年1月27日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种液晶面板点灯测试装置，其特征在于，包括测试外壳，所述测试外壳的内部固定有供电电源和测试电路主板；所述供电电源与所述测试电路主板电连接，用于向所述测试电路主板供电；所述测试电路主板的端部设置有至少一个测试单元；其中，所述测试单元引出n根测试探针；在液晶面板的表面印制若干条测试线，并在所述液晶面板的侧部安装有至少一个测试接口；其中，所述测试接口由n个测试子接口组成；所述测试单元所引出的每根测试探针与所述测试接口中的一个测试子接口的一端电性连接，所述测试子接口的另一端与m根所述测试线的末端电连接，由此实现m根测试线通过测试子接口与对应的测试探针连接；其中，m大于等于2；其中，属于同一测试单元的相邻测试探针的间距为0.3‑0.6毫米。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李贤民，
申请(专利权)人：北京瑞荣达电子技术有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11
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