本发明专利技术提供一种能够通过降低直接进入摄像元件的光的影响而获得高对比度图像的摄像装置。摄像装置其特征在于，该摄像装置包括摄像元件(11)，发光元件(13)和图像数据校正单元，发光元件(13)利用光照射摄像对象物(14)，摄像元件(11)检测被摄像对象物(14)反射的照射光(16)并且生成图像数据，图像数据校正单元通过从所述图像数据减去在不被摄像对象物(14)反射的情况下从发光元件(13)直接进入摄像元件(11)的光(15)来校正所述图像数据。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种摄像装置、一种有机EL元件、一种摄像方法、一种程序、和一种记录介质。
技术介绍
使用摄像元件和发光元件的摄像装置例如被用于各种设备诸如数字摄像机、手机等中。摄像装置的实例包括其中发光二极管(LED)元件被置于靠近镜头的装置和允许照明光通过外部光纤越过镜头进入的装置。然而，这些装置的光学系统是复杂的，从而增加了装置的尺寸和作为系统的成本。另一方面，存在使用有机EL元件作为发光元件的摄像装置(专利文献I)。引用列表专利文献专利文献1:JP2003-087502A
技术实现思路
要解决的技术问题作为薄发光元件的有机EL元件等的使用有助于降低摄像装置的尺寸并且降低成本。然而，发光元件诸如透明有机EL元件不仅在摄像对象物的方向上发光也在相反方向上(即在摄像元件的方向上)发光。因此，除了从摄像对象物反射的光之外，从发光元件在相反方向上(即在摄像元件的方向上)发出的光直接进入摄像元件。该直接入射光可能成为噪声并且可能降低获得的图像的对比度。因此，本专利技术旨在提供降低直接入射光在摄像元件上的影响并且允许获得高对比度图像的摄像装置、有机EL元件、摄像方法、程序和记录介质。技术方案为了实现以上目标，本专利技术提供包括以下的摄像装置:摄像元件;发光元件；和图像数据校正单元，其中发光元件利用光照射摄像对象物，摄像元件感测被摄像对象物反射的光并且生成图像数据，并且图像数据校正单元通过从图像数据减去在不被摄像对象物反射的情况下从发光元件直接进入摄像元件的入射光来校正图像数据。本专利技术还提供在根据本专利技术的摄像装置中用作发光元件的有机EL元件。本专利技术还提供摄像方法，其包括以下步骤:利用光照射摄像对象物;利用摄像元件感测被摄像对象物反射的光，从而生成图像数据;并且通过从图像数据减去在不被摄像对象物反射的情况下直接进入摄像元件的入射光来校正图像数据。本专利技术还提供能够在计算机上执行根据本专利技术的摄像方法的程序。本专利技术还提供记录有根据本专利技术的程序的计算机可读记录介质。有益效果根据本专利技术的摄像装置、有机EL元件、摄像方法、程序和记录介质，能够降低直接入射光在摄像元件上的影响并且获得高对比度图像。【附图说明】图1是示出根据本专利技术的摄像装置的构造的实例的示意图。图2A?2C是各个示出用于根据本专利技术的摄像装置中的发光元件(有机EL元件)的构造的实例的示意图。图2A为平面视图，并且图2B和2C为横截面视图。【具体实施方式】在下文中，将参照实例详细说明本专利技术。然而，本专利技术不限于以下说明。在图1和图2A至2C中，利用相同的数字和符号指示相同的部件，并且对于相同部件的说明可能被适当省略。此外，为了解释方便，在图1和图2A至2C中示出的各个部件的结构可能被适当简化，并且部件的尺寸、比例等可能被示意性示出并且与实际的尺寸、比例等不同。图1为示出根据本专利技术的摄像装置的构造的实例的示意图。如在图1中所示，该摄像装置包括摄像兀件11、镜头12和发光兀件13。镜头12置于摄像兀件11和发光兀件13之间。由此，从发光元件13侧进入镜头12的入射光能够通过镜头12进入摄像元件11。在图1中示出的摄像装置例如如下拍摄图像。也就是说，首先，发光元件13利用光照射摄像对象物14。该光被摄像对象物14反射。被反射的光16通过发光元件13，进入镜头12，通过镜头12，并且进入摄像元件11。此时，发光元件13也利用光照射摄像对象物14的相反侧(即存在镜头12和摄像元件11的侧)。该光(直接入射光)15不被摄像对象物14反射而是直接进入镜头12，通过镜头12，并且进入摄像元件11。摄像元件11感测入射光并且生成图像数据。此时，图像数据校正单元(未示出)通过使用软件(程序)从图像数据减去(消除)直接入射光15而校正图像数据。在该校正后的图像数据为待输出的图像。该校正降低直接入射光15在图像数据上的影响并且允许获得高对比度图像。没有对于摄像元件11的特别限制，并且其实例包括摄像元件诸如(XD、CM0S等。镜头12不被限制为特定的项目，只要其具有作为镜头的功能。在根据本专利技术的摄像元件中，从光利用效率等的观点看，例如优选的是如在图1中示出的摄像装置那样使用镜头。在根据本专利技术的摄像装置中，没有对于摄像元件、镜头和发光元件的布置的特别限制。优选地，例如如在图1中所示，镜头12和发光元件13被放置在从摄像元件11看的同一侦叭同一方向)。这允许例如照明难以达到的区域诸如筒的底部等的更容易的照明(光照射)。一般地，当在镜头和摄像对象物之间的距离非常近的状态下拍摄图像时(例如数字像机的特写模式)，不能足够地获得环境光，并且除了摄像对象物是自发光摄像对象物的情况外难以获得锐利的图像。本专利技术例如通过使用薄透明有机EL光源作为发光元件13(光源)并且越过该透明有机EL光源而拍摄摄像对象物14的图像来解决上述问题。图像数据的校正方法不被限制为特定方法。例如，能够通过以下来进行校正，即预先测量发光元件对摄像元件侧(镜头侧)的发光特性并且使用软件程序消除该值(即从图像数据减去该值)。具体地，例如通过以下步骤(I)至(4)能够执行用于消除成为图像数据的噪声的直接照射光的方案。(I)首先，将显微镜用作摄像元件，并且将几乎不反射光的黑板(理想地，反射率为O)置于载物台上作为参照物。通过根据本专利技术的摄像装置的发光元件利用光照射作为摄像对象物的该参照物，并且拍摄参照物的图像。(2)根据步骤(I)，因为作为摄像对象物(参照物)的黑板几乎不反射光，被摄像对象物反射的光能够被认为O。也就是说，能够测量仅从发光元件直接进入摄像元件的光(直接入射光)。(3)将通过测量获得的光的量作为直接入射光的量存储在软件(程序)中。(4)在实际的摄像中，通过消除存储在步骤(3)中的直接入射光的量(即从图像数据减去该值)来校正图像数据。在步骤(I)至(4)中，当从发光元件发出的光的强度(亮度)变化时，到摄像元件(显微镜)侧的直接入射光的量增加。因此，在步骤(I)至(3)中，优选的是通过改变光的强度(亮度)来测量直接入射光的量的一些样本，并且根据需要存储它们。在根据本专利技术的摄像元件中，发光元件优选地为有机EL元件。此外，优选地，设计有机EL元件使得向摄像对象物侧发出的光的量大于向摄像对象物的相反侧发出的光的量。例如，有机EL元件的构造能够为以下构造A或以下构造B。注意，“IT0”表示氧化铟锡。在以下构造A和B两者中，优选地，在基板玻璃侧放置摄像对象物，并且利用向基板玻璃侧发出的光照射摄像对象物。[当前第1页1 2 3 4 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种摄像装置，包括：摄像元件；发光元件；和图像数据校正单元，其中所述发光元件利用光照射摄像对象物，所述摄像元件感测被所述摄像对象物反射的所述光并且生成图像数据，并且所述图像数据校正单元通过从所述图像数据减去在不被所述摄像对象物反射的情况下从所述发光元件直接进入所述摄像元件的入射光来校正所述图像数据。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：金周作，
申请(专利权)人：NEC照明株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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