一种带有圆柱形测试头的测试针制造技术

技术编号:13484112 阅读:145 留言:0更新日期:2016-08-06 11:09
本实用新型专利技术公开了一种带有圆柱形测试头的测试针,包括套管、弹性设置于所述套管一端的圆柱形测试头,所述圆柱形测试头包括沿所述套管长度方向滑动设置的测试杆,以及设置在所述测试杆端部的测试头,所述测试头呈圆柱体设置,且所述测试头的测试面纵横开设有V形凹槽,同向设置的所述V形凹槽之间的相邻侧壁相交设置,且所述测试头的测试面的四周边缘处圆周均布有倾斜面。此结构设计,通过纵横开设的V形凹槽,有效增加测试头测试面的摩擦力,使得能够与焊点稳定接触,此外,圆柱体设置的测试头,增加了测试头测试面的面积,使得与焊点接触更加稳定可靠。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种带有圆柱形测试头的测试针,包括套管、弹性设置于所述套管一端的圆柱形测试头,所述圆柱形测试头包括沿所述套管长度方向滑动设置的测试杆,以及设置在所述测试杆端部的测试头,所述测试头呈圆柱体设置,且所述测试头的测试面纵横开设有V形凹槽,同向设置的所述V形凹槽之间的相邻侧壁相交设置,且所述测试头的测试面的四周边缘处圆周均布有倾斜面。此结构设计,通过纵横开设的V形凹槽,有效增加测试头测试面的摩擦力,使得能够与焊点稳定接触,此外,圆柱体设置的测试头,增加了测试头测试面的面积,使得与焊点接触更加稳定可靠。【专利说明】一种带有圆柱形测试头的测试针
本技术涉及电路板测试
,尤其涉及一种带有圆柱形测试头的测试针。
技术介绍
现有技术下在对PCB板上较大的焊点进行测试时,由于焊点一般都成球面凸起状,因此普通测试针很难稳定可靠的与之接触,在测试时,因针头部测试面的面积较小很容易使得针头部侧滑折弯。
技术实现思路
本技术提供了一种能够有效增加针头测试面面积,提高测试稳定性的测试针。为达此目的,本技术采用以下技术方案:一种带有圆柱形测试头的测试针,包括套管、弹性设置于所述套管一端的圆柱形测试头,所述圆柱形测试头包括沿所述套管长度方向滑动设置的测试杆,以及设置在所述测试杆端部的测试头,所述测试头呈圆柱体设置,且所述测试头的测试面纵横开设有V形凹槽,同向设置的所述V形凹槽之间的相邻侧壁相交设置,且所述测试头的测试面的四周边缘处圆周均布有倾斜面。其中,所述测试头的直径大于所述测试杆的直径。其中,所述倾斜面设置为四个且依次相交设置。其中,所述套管的另一端设置有固定杆。本技术的有益效果:本技术包括套管、弹性设置于所述套管一端的圆柱形测试头,所述圆柱形测试头包括沿所述套管长度方向滑动设置的测试杆,以及设置在所述测试杆端部的测试头,所述测试头呈圆柱体设置,且所述测试头的测试面纵横开设有V形凹槽,同向设置的所述V形凹槽之间的相邻侧壁相交设置,且所述测试头的测试面的四周边缘处圆周均布有倾斜面。此结构设计,通过纵横开设的V形凹槽,有效增加测试头测试面的摩擦力,使得能够与焊点稳定接触,此外,圆柱体设置的测试头,增加了测试头测试面的面积,使得与焊点接触更加稳定可靠。【附图说明】图1是本技术一种带有圆柱形测试头的测试针的结构示意图。图2是图1中圆柱形测试头的轴测图。【具体实施方式】下面结合附图1至附图2所示并通过【具体实施方式】来进一步说明本技术的技术方案。—种带有圆柱形测试头的测试针,包括套管1、弹性设置于所述套管I 一端的圆柱形测试头,所述圆柱形测试头包括沿所述套管I长度方向滑动设置的测试杆21,以及设置在所述测试杆21端部的测试头22,所述测试头22呈圆柱体设置,且所述测试头22的测试面纵横开设有V形凹槽23,同向设置的所述V形凹槽23之间的相邻侧壁相交设置,且所述测试头22的测试面的四周边缘处圆周均布有倾斜面24。进一步优选的,所述测试头22的直径大于所述测试杆21的直径。此结构设计,能够有效增加测试头22的测试面的面积,提高测试稳定性。进一步优选的,所述倾斜面24设置为四个且依次相交设置。优选的,倾斜面24为设置于圆柱体测试面端部的倒角,此结构的设计,能够使得边缘处的V形凹槽23之间形成锋利的尖点,便于与焊点有效接触。进一步优选的,所述套管I的另一端设置有固定杆3。作为优选,此结构与普通弹性测试针结构相同,且套管I中设置有用于测试杆21滑动的弹簧,在此不做赘述。以上结合具体实施例描述了本技术的技术原理。这些描述只是为了解释本技术的原理,而不能以任何方式解释为对本技术保护范围的限制。基于此处的解释,本领域的技术人员不需要付出创造性的劳动即可联想到本技术的其它【具体实施方式】,这些方式都将落入本技术的保护范围之内。【主权项】1.一种带有圆柱形测试头的测试针,其特征在于:包括套管、弹性设置于所述套管一端的圆柱形测试头,所述圆柱形测试头包括沿所述套管长度方向滑动设置的测试杆,以及设置在所述测试杆端部的测试头,所述测试头呈圆柱体设置,且所述测试头的测试面纵横开设有V形凹槽,同向设置的所述V形凹槽之间的相邻侧壁相交设置,且所述测试头的测试面的四周边缘处圆周均布有倾斜面。2.根据权利要求1所述的带有圆柱形测试头的测试针,其特征在于:所述测试头的直径大于所述测试杆的直径。3.根据权利要求1所述的带有圆柱形测试头的测试针,其特征在于:所述倾斜面设置为四个且依次相交设置。4.根据权利要求1所述的带有圆柱形测试头的测试针,其特征在于:所述套管的另一端设置有固定杆。【文档编号】G01R1/067GK205426972SQ201521028493【公开日】2016年8月3日【申请日】2015年12月14日【专利技术人】钟兴彬 【申请人】深圳市新富城电子有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种带有圆柱形测试头的测试针,其特征在于:包括套管、弹性设置于所述套管一端的圆柱形测试头,所述圆柱形测试头包括沿所述套管长度方向滑动设置的测试杆,以及设置在所述测试杆端部的测试头,所述测试头呈圆柱体设置,且所述测试头的测试面纵横开设有V形凹槽,同向设置的所述V形凹槽之间的相邻侧壁相交设置,且所述测试头的测试面的四周边缘处圆周均布有倾斜面。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:钟兴彬
申请(专利权)人:深圳市新富城电子有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

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