立体观察装置用的控制装置、立体观察系统和立体观察装置的控制方法制造方法及图纸

利用多个光学系统进行基于视差的立体观察的立体观察装置用的控制装置(100)具有开始时间取得部(104)、切断时间取得部(102)、非工作时间计算部(106)、判定部(108)。开始时间取得部(104)取得针对立体观察装置的通电开始的开始时间。切断时间取得部(102)取得针对立体观察装置的上次通电被切断的切断时间。非工作时间计算部(106)计算从切断时间到开始时间的经过时间即非工作时间。判定部(108)根据非工作时间判定是否需要进行对光学系统的光轴的偏移的影响进行校正的芯偏移校正。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】立体观察装置用的控制装置、立体观察系统和立体观察装置的控制方法
本专利技术涉及立体观察装置用的控制装置、立体观察系统和立体观察装置的控制方法。
技术介绍
根据利用2个光学系统得到的2个图像和它们的视差进行立体观察的三维内窥镜装置的技术例如在日本特开2013-090035号公报中被公开。在日本特开2013-090035号公报中公开了，在将三维内窥镜放置于例如高压蒸汽灭菌器中时，在三维内窥镜的光学系统中产生芯偏移。如果不对这样产生的芯偏移实施校正，则无法构建正确的三维影像。在日本特开2013-090035号公报中公开了通过平行移动处理使右眼用图像与左眼用图像一致的芯偏移校正。另一方面，在不需要对芯偏移进行校正时进行芯偏移校正是很麻烦的。
技术实现思路
本专利技术的目的在于，提供判定是否需要进行芯偏移校正的立体观察装置用的控制装置和立体观察装置的控制方法。根据本专利技术的一个方式，在立体观察装置用的控制装置中，该立体观察装置利用多个光学系统进行基于视差的立体观察，其中，所述控制装置具有：开始时间取得部，其取得针对所述立体观察装置的通电开始的开始时间；切断时间取得部，其取得针对所述立体观察装置的上次通电被切断的切断时间；非工作时间计算部，其计算从所述切断时间到所述开始时间的经过时间即非工作时间；以及判定部，其根据所述非工作时间判定是否需要进行芯偏移校正，其中该芯偏移校正是对所述光学系统的光轴的偏移的影响进行校正。根据本专利技术的一个方式，立体观察系统具有：立体观察装置，其利用多个光学系统进行基于视差的立体观察；开始时间取得部，其取得针对所述立体观察装置的通电开始的开始时间；切断时间取得部，其取得针对所述立体观察装置的上次通电被切断的切断时间；非工作时间计算部，其计算从所述切断时间到所述开始时间的经过时间即非工作时间；判定部，其根据所述非工作时间判定是否需要进行芯偏移校正，其中该芯偏移校正是对所述光学系统的光轴的偏移的影响进行校正；以及图像处理部，其根据利用所述多个光学系统取得的多个图像构建三维影像，该图像处理部在需要进行所述芯偏移校正时，通过使所述多个图像的位置关系变化，进行所述芯偏移校正。根据本专利技术的一个方式，在立体观察装置的控制方法中，该立体观察装置利用多个光学系统进行基于视差的立体观察，其中，所述控制方法包括以下步骤：取得针对所述立体观察装置的通电开始的开始时间；取得针对所述立体观察装置的上次通电被切断的切断时间；计算从所述切断时间到所述开始时间的经过时间即非工作时间；以及根据所述非工作时间判定是否需要进行芯偏移校正，其中该芯偏移校正是对所述光学系统的光轴的偏移的影响进行校正。根据本专利技术，提供判定是否需要进行芯偏移校正的立体观察装置用的控制装置和立体观察装置的控制方法。附图说明图1是示出本专利技术的第1实施方式的内窥镜系统的结构例的概略的框图。图2是示出第1实施方式的处理的一例的流程图。图3是示出第1实施方式的芯偏移校正处理的一例的流程图。图4是示出第1实施方式的变形例的内窥镜系统的结构例的概略的框图。图5是示出第2实施方式的内窥镜系统的结构例的概略的框图。具体实施方式[第1实施方式]参照附图对本专利技术的第1实施方式进行说明。作为本专利技术的立体观察系统的一个实施方式，以内窥镜系统10为例进行说明。图1示出本实施方式的内窥镜系统10的结构例的概略。内窥镜系统10具有三维内窥镜200、控制装置100、显示装置310。三维内窥镜200是具有利用视差取得三维图像的立体观察装置用的功能的内窥镜。因此，三维内窥镜200具有2个摄像部。即，三维内窥镜200具有第1摄像部212和第2摄像部214。第1摄像部212和第2摄像部214分别具有未图示的透镜等光学系统和摄像元件等。第1摄像部212和第2摄像部214分别生成图像信号。内窥镜系统10根据由第1摄像部212取得的图像和由第2摄像部214取得的图像构建三维影像，向用户提示该三维影像。为了正确地构建三维影像，需要正确地对由第1摄像部212取得的图像和由第2摄像部214取得的图像的视差进行调整。例如，当在三维内窥镜200的清洗过程中为了灭菌而将三维内窥镜200放置于高压蒸汽灭菌器中时，有时第1摄像部212和第2摄像部214的光轴产生偏移，无法正确地构建三维影像。这种情况下，例如需要进行以光轴偏移的量使由第1摄像部212取得的图像和由第2摄像部214取得的图像移动的校正。下面，将这种对光轴的偏移进行校正的处理称为芯偏移校正。本实施方式的内窥镜系统10是如下的系统：仅在进行清洗等需要进行芯偏移校正时执行芯偏移校正，不进行不必要的芯偏移校正。从控制装置100对三维内窥镜200供给电力。在本实施方式中，记录从控制装置100针对三维内窥镜200的电力供给、即针对三维内窥镜200的通电的历史。三维内窥镜200具有记录部220。在记录部220中记录上次开始时间信息222和通电时间信息224。上次开始时间信息222包含从控制装置100针对三维内窥镜200的电力供给、即针对三维内窥镜200的通电已经结束的上次通电的开始日期时间的信息。通电时间信息224包含通电已经结束的上次通电的通电时间、即从控制装置100对三维内窥镜200进行电力供给的期间的信息。显示装置310是3D用监视器。用户通过3D眼镜观察3D用监视器，由此能够进行三维影像的观察。显示装置310不限于利用3D眼镜的结构，只要是能够进行三维显示的显示装置即可，可以是任意装置。控制装置100是对三维内窥镜200的动作进行控制的控制装置。控制装置100例如可以由电子计算机实现。即，控制装置100所包含的各部例如可以由包含CentralProcessingUnit(CPU)、ApplicationSpecificIntegratedCircuit(ASIC)这样的元件在内的计算机实现。控制装置100具有切断时间取得部102、开始时间取得部104、非工作时间计算部106、判定部108、通电检测部122、时钟124、输入部126、图像处理部130、上次开始时间取得部142、通电时间计测部144。通电检测部122检测有无从控制装置100针对三维内窥镜200的电力供给、即有无针对三维内窥镜200的通电。时钟124是输出当前的日期时间的时钟。输入部126是开关、拨盘、键盘等一般的输入装置。输入部126取得来自用户的指示。输入部126向图像处理部130输出所取得的指示。切断时间取得部102读出设置在三维内窥镜200中的记录部220中记录的上次开始时间信息222和通电时间信息224。切断时间取得部102根据上次开始时间信息222和通电时间信息224，取得上次通电结束的日期时间作为切断时间。开始时间取得部104从通电检测部122取得通电开始的信息，从时钟124取得此时的日期时间。这样，开始时间取得部104取得针对三维内窥镜200的通电开始的日期时间作为开始时间。非工作时间计算部106从切断时间取得部102取得切断时间，从开始时间取得部104取得开始时间。非工作时间计算部106计算从切断时间到开始时间的时间、即未进行针对三维内窥镜200的通电的时间作为非工作时间。判定部108从非工作时间计算部106取得非工作时间。判定部108根据非工作时间判定是否需要进行芯偏移校正。在本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种立体观察装置用的控制装置，该立体观察装置利用多个光学系统进行基于视差的立体观察，其中，所述控制装置具有：开始时间取得部，其取得针对所述立体观察装置的通电开始的开始时间；切断时间取得部，其取得针对所述立体观察装置的上次通电被切断的切断时间；非工作时间计算部，其计算从所述切断时间到所述开始时间的经过时间即非工作时间；以及判定部，其根据所述非工作时间判定是否需要进行芯偏移校正，其中该芯偏移校正是对所述光学系统的光轴的偏移的影响进行校正。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.07.28 JP 2014-1532821.一种立体观察装置用的控制装置，该立体观察装置利用多个光学系统进行基于视差的立体观察，其中，所述控制装置具有：开始时间取得部，其取得针对所述立体观察装置的通电开始的开始时间；切断时间取得部，其取得针对所述立体观察装置的上次通电被切断的切断时间；非工作时间计算部，其计算从所述切断时间到所述开始时间的经过时间即非工作时间；以及判定部，其在所述非工作时间比规定时间长时，判定为需要进行芯偏移校正，在所述非工作时间不比规定时间长时，判定为不需要进行所述芯偏移校正，其中所述芯偏移校正是对所述光学系统的光轴的偏移的影响进行校正。2.根据权利要求1所述的控制装置，其中，所述控制装置还具有：上次开始时间取得部，其使记录部记录所述上次通电开始的上次开始时间；以及通电时间计测部，其计测通电时间，使所述记录部记录该通电时间，其中该通电时间是从所述上次开始时间起的经过时间，表示被通电的时间，所述切断时间取得部根据所述上次开始时间和所述通电时间确定所述切断时间。3.根据权利要求2所述的控制装置，其中，所述记录部被配置在所述立体观察装置中。4.根据权利要求1所述的控制装置，其中，所述控制装置还具有2D/3D切换部，该2D/3D切换部在需要进行所述芯偏移校正但是还未进行所述芯偏移校正时，执行使用所述多个光学系统中的任意一个的二维观察，在所述芯偏移校正结束后，执行所述立体观察。5.根据权利要求4所述的控制装置，其中，所述芯偏移校正是如下校正：设所述多个光学系统中的任意一个为基准光学系统，使利用所述多个光学系统中的其他光学系统取得的图像的位置对应于利用所述基准光学系统取得的图像而变化，使用所述基准光学系统进行所述二维观察。6.根据权利要求4所述的控制装置，其中，针对利用所述多个光学系统中的各个光学系统取得的各个图像设置基准位置，所述芯偏移校正是使所述各个图像的位置变化成与各个所述基准位置一致的校正，所述二维观察是使用所述多个光学系统中的任意一个而进行的。...

【专利技术属性】
技术研发人员：西垣泰宏，沟口正和，
申请(专利权)人：奥林巴斯株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP