光学膜片耐磨测试治具制造技术

技术编号:13463084 阅读:106 留言:0更新日期:2016-08-04 15:58
一种光学膜片耐磨测试治具,包括多个由透明材料制成的承载基板,待测的光学膜片固定于每一所述承载基板上,多个所述承载基板层叠固定于一体。该光学膜片耐磨测试治具能够较为简便地模拟光学膜片在液晶显示器内的相对摩擦状况,对光学膜片的耐磨性能进行检测,且节约了成本,并提升了效率。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种光学膜片耐磨测试治具,包括多个由透明材料制成的承载基板,待测的光学膜片固定于每一所述承载基板上,多个所述承载基板层叠固定于一体。该光学膜片耐磨测试治具能够较为简便地模拟光学膜片在液晶显示器内的相对摩擦状况,对光学膜片的耐磨性能进行检测,且节约了成本,并提升了效率。【专利说明】光学膜片耐磨测试治具
本专利技术涉及液晶显示器的品质检测领域,尤其是一种光学膜片耐磨测试治具。
技术介绍
液晶显示器已经广泛的应用于生活中,液晶显示器内包括导光板、上扩散片、下扩散片等多种光学膜片,在使用时,由于震动等原因,各光学膜片之间会发生相对移动,继而产生摩擦,为了保证液晶显示器的品质,各光学膜片需要具有一定的耐磨性能,因此,在生产时,需要进行光学膜片之间耐磨性能的检测。图1为现有技术中检测光学膜片耐磨性能的结构示意图,如图1所示,在现有技术中,进行光学膜片11之间耐磨性能检测时,首先将两个或多个光学膜片11叠放在一起,然后在光学膜片11上放置砝码12,拉动其中一个光学膜片11,使光学膜片11之间发生滑动,然后将此光学膜片11进行点灯测试,以观察光学膜片11的受损情况。此种方法首先较为复杂,其次受砝码12表面平整度的影响较大,且因该方法不能模拟光学膜片11在液晶显示器中的运动情况,因此只能进行定性分析,不能验证光学膜片11在液晶显示器中的耐磨性能是否符合规定,另外此种方法也容易受外界影响,当光学膜片11吸附了微小颗粒时,会对耐磨性能的测定造成影响。当需要验证光学膜片11在液晶显示器中的耐磨性能是否符合规定时,需要将液晶显示器装配好,然后再做点灯测试,这样做不仅降低了检测效率,同时也浪费了其他的部材。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种光学膜片耐磨测试治具,该光学膜片耐磨测试治具能够较为简便地模拟光学膜片在液晶显示器内的相对摩擦状况,对光学膜片的耐磨性能进行检测,且节约了成本,并提升了效率。本专利技术提供一种光学膜片耐磨测试治具,包括多个由透明材料制成的承载基板,待测的光学膜片固定于每一所述承载基板上,多个所述承载基板层叠固定于一体。进一步地,所述光学膜片耐磨测试治具还包括固定柱,所述承载基板的周边上设有第一固定孔,每一所述承载基板上的所述第一固定孔与其他承载基板上所述第一固定孔的位置相适应,所述固定柱穿过所述第一固定孔,并通过螺栓将所述承载基板层叠固定于一体。进一步地,所述承载基板的端部设有把手,相邻的两个所述承载基板上把手的位置不同。进一步地,所述光学膜片耐磨测试治具还包括由透明材料制成的固定箱体,所述固定箱体的一侧形成有开口,所述固定箱体的侧壁上沿所述固定箱体的高度方向形成有多个固定架,每一所述承载基板从所述开口侧插入所述固定箱体内并固定于相应的所述固定架上。进一步地,所述固定架包括支撑部及位于两个所述支撑部之间的固定凹槽,所述承载基板的边缘形成有与所述固定凹槽相适应的固定板,所述固定板插入所述固定凹槽中,继而使所述承载基板固定于所述固定箱体内。进一步地,所述承载基板的上表面向下凹陷形成有放置穴,在所述放置穴的上方设有由透明材料制成的盖板,所述盖板与所述放置穴组成一容置空间,所述光学膜片放置于所述容置空间中。进一步地,所述放置穴的周边设有第一挡圈及第二挡圈,所述第一挡圈相比于所述第二挡圈更靠近所述放置穴,所述第一挡圈的上表面的高度低于所述第二挡圈上表面的高度,所述盖板的下表面与所述第一挡圈的上表面及所述光学膜片的上表面接触,所述盖板的上表面的高度低于或等于所述第二挡圈上表面的高度。进一步地,所述第一挡圈及所述第二挡圈与所述承载基板之间还设有第一垫片。进一步地,所述放置穴的周边设有第一挡圈,所述盖板包括第一盖板及第二盖板,所述第二盖板相比于所述第一盖板更靠近所述光学膜片,所述第一盖板的端部抵靠于所述第二挡圈上,所述第二盖板的端部抵靠于所述放置穴的侧壁上,所述光学膜片固定于所述放置穴与所述第二盖板之间。进一步地,所述承载基板上设置有挡板,所述挡板包括第一挡板、第二挡板及第三挡板,所述第一挡板、所述第二挡板及所述第三挡板围成放置穴,所述承载基板的上表面或位于该承载基板上方的所述承载基板的下表面还设置有由透明材料制成的第二垫片,所述光学膜片放置于所述放置穴中。综上所述,本专利技术通过将光学膜片放置于透明的承载基板上,并使承载基板层叠固定在一起,能够较为简便地模拟光学膜片在液晶显示器内的相对摩擦状况,对光学膜片的耐磨性能进行检测,且节约了成本,并提升了效率。上述说明仅是本专利技术技术方案的概述,为了能够更清楚了解本专利技术的技术手段,而可依照说明书的内容予以实施,并且为了让本专利技术的上述和其他目的、特征和优点能够更明显易懂,以下特举较佳实施例,并配合附图,详细说明如下。【附图说明】图1为现有技术中检测光学膜片耐磨性能的结构示意图。图2为本专利技术第一实施例提供的光学膜片耐磨测试治具的结构示意图。图3为图2中沿光学膜片耐磨测试治具高度方向的剖面结构示意图。图4为图3中的局部结构放大示意图。图5为图2中承载基板的结构示意图。图6为图5中V1-VI方向的截面示意图。图7为图6中添加第一垫片后的截面示意图。图8为本专利技术第二实施例中承载基板的截面示意图。图9为图8中添加第二盖板后的截面不意图。图10为本专利技术第三实施例中光学膜片耐磨测试治具的结构示意图。图11为图10中X1-XI方向的截面示意图。图12为图10中箱体的结构示意图。图13为图10中承载基板的结构不意图。图14为图10中承载基板另一视角的结构不意图。【具体实施方式】为更进一步阐述本专利技术为达成预定专利技术目的所采取的技术手段及功效,以下结合附图及较佳实施例,对本专利技术进行详细说明如下。本专利技术提供一种光学膜片耐磨测试治具,能够模拟在液晶显示器内光学膜片之间的相对滑动,检测光学膜片的耐磨性能。图2为本专利技术第一实施例提供的光学膜片耐磨测试治具的结构示意图,图3为图2中沿光学膜片耐磨测试治具高度方向的剖面结构示意图,图4为图3中的局部结构放大示意图,图5为图2中承载基板的结构示意图,图6为图5中V1-VI方向的截面示意图,如图2至图6所示,本专利技术第一实施例提供的光学膜片耐磨测试治具包括若干个由透明材料制成的承载基板20,透明材料优选为抗静电且耐磨的透明材料,每一待测的光学膜片30固定于每一个承载基板20上,若干承载基板20层叠固定于一体。具体地,如图2、图3及图5所示,在本实施例中,承载基板20的周边设有第一固定孔21(见图5),每一个承载基板20上的第一固定孔21与其它承载基板20上的第一固定孔21的位置相适应,固定柱40穿过承载基板20的第一固定孔21,并通过螺栓将若干承载基板20层叠固定于一体。在承载基板20的端部设有便于拿取的把手22,为了便于拿取承载基板20,相邻的两个承载基板20上把手22的位置不同,即当承载基板20层叠固定于一体时,把手22在光学膜片耐磨测试治具上的位置是相互错开的。每一承载基板20的上表面上均向下凹陷形成有放置穴23,在放置穴23的上方还设置有由透明材料制成的盖板24,盖板24与放置穴23组成一容置空间,光学膜片30固定于该容置空间中。为了便于拿取盖板24,在盖板24的顶点部设置有豁口 241。在放置穴23的周边还设有由橡胶或硅胶等材料制成的第一挡圈2本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种光学膜片耐磨测试治具,其特征在于:包括多个由透明材料制成的承载基板(20),待测的光学膜片(30)固定于每一所述承载基板(20)上,多个所述承载基板(20)层叠固定于一体。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:任媛媛刘春凤白晓鸽陆敏
申请(专利权)人:昆山龙腾光电有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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