在支架的每个试样收容部安装接合器。接合器具有一对臂,所述一对壁具有一对下端构造体。在一对下端构造体上载置有试样容器的状况下,当对一对下端构造体施加水平方向的打开力时,所述一对下端构造体向水平方向外侧进行退避运动。之后在打开状态下,试样容器从支架向升降机构转交。另一方面,在闭合状态下,当对试样容器施加垂直方向的按压力时,各接合器所具有的限位片下降。在该下降状态下限制一对臂的打开运动。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】试样测定装置
本专利技术涉及试样测定装置,特别是涉及利用液体闪烁器(liquidscintillator)对试样中的放射性物质进行测定的试样测定装置。
技术介绍
试样测定装置是对多个试样单独进行测定的装置。作为代表性的试样测定装置,可以列举出液体闪烁计数器。液体闪烁计数器具有:对保持有多个试样容器的支架进行搬运的支架搬运机构;对由各试样容器内所含有的放射性物质产生的光进行测定的测定单元;以及在支架与测定室单元之间对试样容器进行搬运的容器搬运机构等。在试样容器内,除液体试样以外,还放入有液体闪烁器。当从试样中的放射性物质放出放射线(例如β射线)时,通过该放射线使液体闪烁器发光。通过构成测定单元的一对光电增倍管(photomultipliertube)来检测该光。一般,需要在收容成为测定对象的试样容器的测定室的周围设置用于屏蔽外来放射线的屏蔽构造。这种屏蔽构造由非常重的金属构成。因此,与在支架载置面的上方设置屏蔽构造体相比,优选在支架载置面的下方设置屏蔽构造体。另外,在采用从支架向上方搬运试样容器的方式的情况下,在测定中在升降路内存在支承试样容器的轴,因此存在难以进行升降路的遮光的问题。因此,希望在比支架载置面靠下方的位置设置测定室,并且从支架向下方拉出试样容器。在专利文献1中公开了以往的液体闪烁计数器。在该液体闪烁计数器中,在搬运支架的搬运台的上方设置有测定室。需要说明的是,在专利文献2中,公开了能够用于液体闪烁计数器等的支架搬运装置。在先技术文献专利文献专利文献1:日本特开2007-278969号公报专利文献2:日本特开2007-176666号公报若为了从支架向下方拉出试样容器而设置复杂的机构,则存在成本提高的问题。在试样测定装置中设置有多个驱动源,希望减少驱动源的个数。
技术实现思路
专利技术要解决的课题本专利技术的目的在于,防止试样容器从支架脱落。特别是,实现即使在从上方对试样容器施加按压力的情况下试样容器也不会容易地从支架脱落的机构。用于解决课题的方法本专利技术的试样处理装置的特征在于,包括:支架,其具有试样收容部;搬运机构,其搬运所述支架;以及开闭机构,其设置于所述试样收容部,在闭合状态下保持试样容器,在打开状态下释放所述试样容器,所述开闭机构在承受水平方向的打开力的情况下从所述闭合状态变化为所述打开状态,在经由所述试样容器承受垂直方向的按压力的情况下维持所述闭合状态。根据上述结构,支架具有至少一个试样收容部,在试样收容部上设置用于进行试样容器的保持以及释放的开闭机构。当对开闭机构施加水平方向的打开力时,开闭机构从闭合状态向打开状态变化。由此,能够从试样收容部向下方拉出试样容器。当对于开闭机构的水平方向的打开力消失时,例如通过开闭机构所具有的弹性复原力使开闭机构从打开状态恢复至闭合状态。由此,再次保持试样容器。另一方面,在开闭机构处于闭合状态(也就是说试样容器的保持状态)的情况下,当从上方向下方对试样容器施加按压力时,该按压力传递至开闭机构。但是,若该垂直方向的按压力是预料之内的力,则开闭机构不因该按压力而进行打开动作。因此,防止因该按压力导致试样容器脱落。这样,开闭机构根据对其施加的力的种类(特别是方向)的不同而进行不同的动作,特别是,具有对于从上向下施加的按压力阻止打开动作的结构。另外,作为防止因按压力产生的打开动作的构造或机构,可以采用各种构造或机构。优选的是,所述开闭机构包括:可动体,其在所述闭合状态下在所述试样容器的正下方位置支承所述试样容器的下表面,在从所述闭合状态向所述打开状态变化时从所述正下方位置朝着向水平方向外侧偏移的退避位置运动;以及变形体,在施加了所述按压力的情况下所述变形体承受所述按压力而变形,由此限制所述可动体向退避位置的运动。可动体在闭合状态下作为试样容器的台座而发挥功能,也就是说从下方支承试样容器的下表面。可动体在闭合状态下,从试样容器的正下方位置朝着向水平方向外侧偏移的退避位置运动。由此,能够从试样收容部向下方拉出试样容器。在对试样容器产生垂直方向的按压力的情况下,通过该按压力而使变形体变形,也就是说,开闭机构的全部或者一部分的位置或者形态变化。利用该变化来限制可动体的水平方向的打开运动。优选的是,所述开闭机构具有一对臂,所述可动体由所述一对臂所具有的一对下端部构成,所述变形体由所述一对下端部所具有的一对变形部分构成。各变形部分也可以构成为具有C字形或U字形的部分。或者,也可以构成为通过按压力而向水平方向内侧倾倒运动的部分。作为一对臂的打开方向,可以列举支架的长边方向以及短边方向。在沿长边方向将一对臂打开的情况下,需要以一对臂不与相邻的试样容器膨胀的方式使一对臂运动。在沿短边方向将一对臂打开的情况下能够避免这种接触。在该情况下,优选将支架主体以及周边机构构成为允许一对臂的打开运动。优选的是,各所述臂包括:上端部,其与所述支架的主体连结;屈曲部,其是与所述上端部的下侧相连的部分,在所述打开状态下,所述屈曲部向水平方向外侧弹性地屈曲;以及下端部,其与所述屈曲部的下侧相连,是所述一对下端部之一,所述屈曲部在所述打开状态下产生弹性复原力。既可以是各臂整体弹性变形,也可以仅各臂的屈曲部弹性变形。各屈曲部可以构成为波形状的部分或者蛇纹状的部分。根据这种结构,在该部分,能够期待顺利的弹性变形,另外能够获得足够的弹性复原力。优选的是,各所述下端部具有:基端,其与所述屈曲部的下侧连结;接触端,其在所述闭合状态下与所述试样容器的下表面接触;弯曲部,其设置在所述基端与所述接触端之间,是所述一对变形部分之一;以及限位片,其与所述接触端连结,与所述接触端一起沿上下方向运动,所述弯曲部在产生了所述按压力的情况下弹性变形,使所述接触端与所述限位片向下方下降,所述支架具有开口构造,该开口构造在所述限位片处于通常水平面的情况下允许所述下端部的打开运动,在所述限位片处于下降水平面的情况下与所述限位片接触,限制所述下端部的打开运动。根据该结构,在未产生按压力的情况下,各臂的限位片处于通常水平面,在该情况下,下端部的打开运动不被开口构造限制。另一方面,在产生了按压力的情况下,各臂的限位片向下降水平面位移,在该情况下,下端部的打开运动被开口构造限制。根据上述结构,能够利用限位片与支架主体的抵接而获得限位作用。优选的是,各所述下端部包括在所述屈曲部的下侧可装卸地安装的附件,所述附件具有所述基端、所述接触端、所述弯曲部以及所述限位片。根据该结构,在产生磨损或劣化的情况下能够更换附件。优选的是,在供所述支架载置的搬运面上设置有引导组件,各所述下端部具有与所述引导组件接触而承受所述水平方向的打开力的接触部。可以将接触部构成为臂主体的一部分或者附件的一部分。优选的是,所述支架的主体包括:一对上侧开口,其收容所述一对臂所具有的一对屈曲部;以及一对下侧开口,其是构成所述开口构造的一对开口,且在未产生所述按压力的情况下允许所述一对下端部的通过,在产生了所述按压力的情况下与所述一对限位片接触,限制所述一对下端部的通过。若将屈曲部收容于上侧开口,即便屈曲部具有一定的厚度,也能够防止屈曲部在自然状态下从支架横宽伸出。下侧开口是供下端部通过的开口,在产生了按压力的情况下,下侧开口的边缘部分发挥限位作用。优选的是,各所述臂包括臂主体,本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种试样测定装置,其特征在于,包括:支架,其具有试样收容部;搬运机构,其搬运所述支架;以及开闭机构,其设置于所述试样收容部,在闭合状态下保持试样容器,在打开状态下释放所述试样容器,所述开闭机构在承受水平方向的打开力的情况下从所述闭合状态变化为所述打开状态,在经由所述试样容器承受垂直方向的按压力的情况下维持所述闭合状态。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.10.09 JP 2013-2119141.一种试样测定装置,其特征在于,包括:支架,其具有试样收容部;搬运机构,其搬运所述支架;以及开闭机构,其设置于所述试样收容部,在闭合状态下保持试样容器,在打开状态下释放所述试样容器,所述开闭机构在承受水平方向的打开力的情况下从所述闭合状态变化为所述打开状态,在经由所述试样容器承受垂直方向的按压力的情况下维持所述闭合状态,所述开闭机构包括:可动体,其在所述闭合状态下在所述试样容器的正下方位置支承所述试样容器的下表面,在从所述闭合状态向所述打开状态变化时从所述正下方位置朝着向水平方向外侧偏移的退避位置运动;以及变形体,在施加了所述按压力的情况下所述变形体承受所述按压力而变形,由此限制所述可动体向退避位置的运动。2.根据权利要求1所述的试样测定装置,其特征在于,所述开闭机构具有一对臂,所述可动体由所述一对臂所具有的一对下端部构成,所述变形体由所述一对下端部所具有的一对变形部分构成。3.根据权利要求2所述的试样测定装置,其特征在于,各所述臂包括:上端部,其与所述支架的主体连结;屈曲部,其是与所述上端部的下侧相连的部分,在所述打开状态下,所述屈曲部向水平方向外侧弹性地屈曲;以及下端部,其与所述屈曲部的下侧相连,是所述一对下端部之一,所述屈曲部在所述打开状态下产生弹性复原力。4.根据权利要求3所述的试样测定装置,其特征在于,各所述下端部具有:基端,其与所述屈曲部的下侧连结;接触端,其在所...
【专利技术属性】
技术研发人员:花谷智则,芥雄二郎,
申请(专利权)人:株式会社日立制作所,
类型:发明
国别省市:日本;JP
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