电容触摸屏校正方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种电容触摸屏校正方法及装置，该电容触摸屏校正方法包括：获取未施加压力的电容触摸屏上报的触摸检测点的原始值；若本次获取的该触摸检测点的原始值相对于基准参考值的偏移量在预设的可校正偏差范围内，则：根据本次获取的该触摸检测点的原始值以及预设的合格偏差范围生成校正函数，利用最新生成的校正函数对所述触摸检测点的原始值进行校正，其中，上述基准参考值为预设的与上述电容触摸屏对应的固定值。本发明专利技术提供的技术方案能够有效提高电容触摸屏的性能指标，降低电容触摸屏的差错率。

【技术实现步骤摘要】
电容触摸屏校正方法及装置
本专利技术涉及触摸屏
，具体涉及一种电容触摸屏校正方法及装置。
技术介绍
电容触摸屏作为敏感电子器件设备，其极其容易受工艺材质的影响，同一个电容触摸屏上，不同区域会因物理电路特性不同而产生数据差异，在不同电容触摸屏上，由于工艺和生产差异性，也会造成物理电路特性不同，进而产生数据差异。随着客户和市场需求的变化，电容触摸屏的外观颜色已经多种多样，由于不同外观颜色的电容触摸屏采用的加工工艺和材质千差万别，例如结构上油漆层数不同、油漆材质是否包含金属例子也不同，油漆附着工艺也不同，因此，数据差异化在多彩电容触摸屏产品上也尤为明显，从而容易导致多彩电容触摸屏使用体验差。目前行业内对不同的电容触摸屏不做校正处理，接受使用效果差异，从而导致部分电容触摸屏性能指标差，差错率高。
技术实现思路
本专利技术提供一种电容触摸屏校正方法及装置，用于提高电容触摸屏的性能指标，降低电容触摸屏的差错率。本专利技术第一方面提供一种电容触摸屏校正方法，包括：获取未施加压力的电容触摸屏上报的触摸检测点的原始值；若本次获取的未施加压力的所述触摸检测点的原始值相对于基准参考值的偏移量在预设的可校正偏差范围内，则：根据本次获取的所述触摸检测点的原始值以及预设的合格偏差范围生成校正函数，以使得最近一次获取的未施加压力的所述触摸检测点的原始值经本次生成的校正函数处理后得到的值相对于所述基准参考值的偏移量在所述合格偏差范围内；利用最新生成的校正函数对所述触摸检测点的原始值进行校正；其中，所述基准参考值为预设的与所述电容触摸屏对应的固定值。本专利技术第二方面提供一种电容触摸屏校正装置，包括：获取单元、校正流程控制单元、校正函数生成单元以及原始值校正单元；所述获取单元用于：获取未施加压力的电容触摸屏上报的触摸检测点的原始值；所述校正流程控制单元用于：当本次所述获取单元获取的未施加压力的所述触摸检测点的原始值相对于基准参考值的偏移量在预设的可校正偏差范围内时，触发所述校正函数生成单元，其中，所述基准参考值为预设的与所述电容触摸屏对应的固定值；所述校正函数生成单元用于：根据本次获取的所述触摸检测点的原始值以及预设的合格偏差范围生成校正函数，以使得最近一次获取的未施加压力的所述触摸检测点的原始值经本次生成的校正函数处理后得到的值相对于所述基准参考值的偏移量在所述合格偏差范围内；所述原始值校正单元用于：利用最新生成的校正函数对所述触摸检测点的原始值进行校正。由上可见，本专利技术中通过获取电容触摸屏上报的触摸检测点的原始值，结合预设的合格偏查范围、可校正偏查范围以及该电容触摸屏对应的基准参考值生成相应的校正函数，使得该电容触摸屏的触摸检测点的原始值经生成的校正函数处理后能够在该合格偏查范围内，既提高了电容触摸屏的性能指标，又降低了电容触摸屏的差错率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术提供的一种电容触摸屏校正方法一个实施例流程示意图；图2为本专利技术提供的一种电容触摸屏校正方法另一个实施例流程示意图；图3为本专利技术提供的一种电容触摸屏校正方法再一个实施例流程示意图；图4为本专利技术提供的一种电容触摸屏校正方法再一个实施例流程示意图；图5为本专利技术提供的一种电容触摸屏校正装置一个实施例结构示意图；图6为本专利技术提供的一种电容触摸屏校正装置另一个实施例结构示意图。具体实施方式为使得本专利技术的专利技术目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而非全部实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术实施例提供一种电容触摸屏校正方法，包括：获取未施加压力的电容触摸屏上报的触摸检测点的原始值；若本次获取的未施加压力的所述触摸检测点的原始值相对于基准参考值的偏移量在预设的可校正偏差范围内，则：根据本次获取的所述触摸检测点的原始值以及预设的合格偏差范围生成校正函数，以使得最近一次获取的未施加压力的所述触摸检测点的原始值经本次生成的校正函数处理后得到的值相对于所述基准参考值的偏移量在所述合格偏差范围内；利用最新生成的校正函数对所述触摸检测点的原始值进行校正。本专利技术实施例还提供相应的电容触摸屏校正装置，以下分别在各个实施例进行详细说明。实施例一请参阅图1，本专利技术实施例中的电容触摸屏校正方法包括：步骤101、获取未施加压力的电容触摸屏上报的触摸检测点的原始值；首先对电容触摸屏的工作原理进行说明：电容触摸屏的触摸检测点的数据包含原始值和差异值两部分，其中，差异值也即原始值相对于基准参考值的偏移量。在电容触摸屏工作过程中，当手指触摸在电容触摸屏的触摸检测点上时，触摸检测点的电容就会发生变化，从而使得该触摸检测点输出的原始值也会发生变化，导致差异值也发生变化。当电容触摸屏的某一触摸检测点的差异值大于一预设的差异阈值时，则认为此时该触摸检测点上有触摸事件发生，此时可通过算法确定并上报该触摸检测点的位置信息。本专利技术实施例中，未施加压力是指未对电容触摸屏表面施加压力，当需要对电容触摸屏的触摸检测点进行校正时，触发电容触摸屏上报该电容触摸屏的触摸检测点的原始值，以便在步骤101中获取本次电容触摸屏上报的触摸检测点的原始值。应理解的是，首次获取的该电容触摸屏上报的触摸检测点的原始值为未经校正的原始值。步骤102、若本次获取的未施加压力的上述触摸检测点的原始值相对于基准参考值的偏移量在预设的可校正偏差范围内，则根据本次获取的上述触摸检测点的原始值以及预设的合格偏差范围生成校正函数；其中，上述基准参考值为预设的与该电容触摸屏对应的固定值，该固定值可以预先通过实验设定，例如可以通过多次测量求平均值设定，此处不作限定。在一种应用场景中，上述触摸检测点的原始值相对于基准参考值的偏移量可以由电容触摸屏校正根据步骤101上报的该触摸检测点的原始值以及基准参考值计算得到，或者，在另一种应用场景中，上述触摸检测点的原始值相对于基准参考值的偏移量也可以直接由上述电容触摸屏上报，例如，由上述电容触摸屏在步骤101上报该触摸检测点的原始值的同时，上报该触摸检测点的原始值相对于基准参考值的偏移量，此处不作限定。本专利技术实施例中，默认触摸检测点的原始值偏移类型为固定偏移，当本次获取的上述触摸检测点的原始值相对于上述基准参考值的偏移量在预设的可校正偏差范围内时，表明当前可对该触摸检测点输出的原始值进行校正，则根据本次获取的上述触摸检测点的原始值以及上述合格偏差范围生成校正函数，以使得最近一次获取的未施加压力的上述触摸检测点的原始值经本次生成的校正函数处理后得到的值相对于上述基准参考值的偏移量在上述合格偏差范围内。举例说明，设上述基准参考值为1600，上述合格偏差范围内为[-20，20]，上述可校正偏差范围为[-100，-20)和(20，100]，若本次获取的未施加压力的上述触摸检测点的原始值相本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电容触摸屏校正方法，其特征在于，包括：获取未施加压力的电容触摸屏上报的触摸检测点的原始值；若本次获取的未施加压力的所述触摸检测点的原始值相对于基准参考值的偏移量在预设的可校正偏差范围内，则：根据本次获取的所述触摸检测点的原始值以及预设的合格偏差范围生成校正函数，以使得最近一次获取的未施加压力的所述触摸检测点的原始值经本次生成的校正函数处理后得到的值相对于所述基准参考值的偏移量在所述合格偏差范围内；利用最新生成的校正函数对所述触摸检测点的原始值进行校正；其中，所述基准参考值为预设的与所述电容触摸屏对应的固定值。

【技术特征摘要】
1.一种电容触摸屏校正方法，其特征在于，包括：获取未施加压力的电容触摸屏上报的触摸检测点的原始值；若本次获取的未施加压力的所述触摸检测点的原始值相对于基准参考值的偏移量在预设的可校正偏差范围内，则：根据本次获取的所述触摸检测点的原始值以及预设的合格偏差范围生成校正函数，以使得最近一次获取的未施加压力的所述触摸检测点的原始值经本次生成的校正函数处理后得到的值相对于所述基准参考值的偏移量在所述合格偏差范围内；利用最新生成的校正函数对所述触摸检测点的原始值进行校正；其中，所述基准参考值为预设的与所述电容触摸屏对应的固定值；所述获取未施加压力的电容触摸屏上报的触摸检测点的原始值，之后还包括：若本次获取的未施加压力的所述触摸检测点的原始值相对于所述基准参考值的偏移量在所述合格偏差范围内，则停止对所述触摸检测点的校正；若本次获取的未施加压力的所述触摸检测点的原始值相对于所述基准参考值的偏移量在预设的不良偏差范围内，则停止对所述触摸检测点的校正并输出指示所述电容触摸屏不合格的提醒信息。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，若本次获取的未施加压力的所述触摸检测点的原始值相对于所述基准参考值的偏移量在所述可校正偏差范围内，则所述根据本次获取的所述触摸检测点的原始值以及预设的合格偏差范围生成校正函数，之前包括：为所述电容触摸屏表面施加一已知大小的压力；获取已施加压力的所述触摸检测点的原始值；所述根据本次获取的所述触摸检测点的原始值以及预设的合格偏差范围生成校正函数具体为：根据最近一次获取的已施加压力的所述触摸检测点的原始值、最近一次获取的未施加压力的所述触摸检测点的原始值以及所述合格偏差范围生成校正函数。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述为所述电容触摸屏表面施加一已知大小的压力，具体为：为所述电容触摸屏表面施加N次压力，其中，所述N大于1且每次施加的压力的大小已知；所述获取已施加压力的所述触摸检测点的原始值，具体为：每次为所述电容触摸屏表面施加压力后，获取已施加压力的所述触摸检测点的原始值；所述根据最近一次获取的已施加压力的所述触摸检测点的原始值、最近一次获取的未施加压力的所述触摸检测点的原始值以及所述合格偏差范围生成校正函数，具体为：当第N次获取到已施加压力的所述触摸检测点的原始值时，根据最近N次获取的已施加压力的所述触摸检测点的原始值、最近一次获取的未施加压力的所述触摸检测点的原始值以及所述合格偏差范围生成校正函数。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据最近N次获取的已施加压力的所述触摸检测点的原始值、最近一次获取的未施加压力的所述触摸检测点的原始值以及所述合格偏差范围生成校正函数，包括：在每次获取已施加压力的所述触摸检测点的原始值时，分别根据第一公式yi-1＝kxi-1+b和第二公式yi＝kxi+b计算一组k和b；根据N次计算获得的N组k和b，分别计算N个k的平均值k’和N个b的平均值b’；根据计算得到的k’和b’生成校正函数：x＝k’x’+b’；其中，i∈[1,N]，y0为所述基准参考值，x0为所述最近一次获取的未施加压力的所述触摸检测点的原始值，yi为第i次为所述电容触摸屏表面施加的压力大小与所述基准参考值之和，xi为第i次获取的已施加压力的所述触摸检测点的原始值，x表示经校正函数处理过的原始值，x’表示未经校正函数处理过的原始值。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用最新生成的校正函数对所述触摸检测点的原始值进行校正的步骤之后包括：返回执行所述获取未施加压力的电容触摸屏上报的触摸检测点的原始值的步骤及后续步骤。6.一种电容触摸屏校正...

【专利技术属性】
技术研发人员：周奇，李猛，
申请(专利权)人：周奇，
类型：发明
国别省市：广东;44