一种基于Multi-port的异步复合测试方法技术

本发明专利技术公开了一种基于Multi‑port的异步复合测试方法，包括以下步骤：按照多端口元器件的端口数将器件的管脚分为若干组；将每一组管脚中的电源信号与测试系统源连接，将每一组的地址信号、数据信号、控制信号与测试系统连接器连接；通过测试平台的Multi‑port组件，根据测试要求对每一组端口分别定义所有的工作电压、工作频率和工作方式；编写测试主程序，利用并行工作指令和多核工作模式将不同接口之间的多种串行的工作模式同时并行执行。本发明专利技术不仅能够提高测试效率，而且能充分遍历所有的复合工作模式，以检测器件各端口所有异步复合工作条件下的性能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及元器件测试
，特别是指一种基于Multi-port的异步复合测试方法。
技术介绍
随着集成电路的高集成高复杂化，越来越多的器件可以采用双端口甚至多端口的设计，并且可实现不同端口在不同工作电压、不同工作频率、不同工作模式下工作。原有的测试程序中，仅在各端口以同种工作方式、电压和同样的工作频率进行测试。采用这种方式虽然能够通过改变测试条件进行多次测试遍历器件在所有的工作电压、工作模式、工作频率下的工作情况，但是一方面测试效率较低，另一方面无法测全异步复合工作的故障情况，不能全面的检测器件性能的好坏。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提出一种基于Multi-port的异步复合测试方法，实现对多端口异步芯片的异步复合测试。基于上述目的本专利技术提供的基于Multi-port的异步复合测试方法，包括以下步骤：按照多端口元器件的端口数将器件的管脚分为若干组；将每一组管脚中的电源信号与测试系统源连接，将每一组的地址信号、数据信号、控制信号与测试系统连接器连接；通过测试平台的Multi-port组件，根据测试要求对每一组端口分别定义所有的工作电压、工作频率和工作方式；编写测试主程序，利用并行工作指令和多核工作模式将不同端口之间的多种串行的工作模式同时并行执行。进一步，定义工作电压即定义所测器件的输入电平、输出比较电平、输出电流负载等参数。进一步，定义工作频率即定义所测器件实际测试时的工作周期，即输入信号时序与信号格式，采样时序等。进一步，定义工作方式即利用向量存储器生成测试向量，对器件实际工作情况进行模拟。进一步，所用测试主程序与测试向量中包含时序设置相关信息，通过并行工作指令改变测试时序，使不同端口之间的测试数据并行执行。所述测试平台为V93000。从上面所述可以看出，本专利技术提供的基于Multi-port的异步复合测试方法，不仅可以提高测试效率，还可以充分遍历所有的复合工作模式，以检测器件各端口所有异步复合工作条件下的性能。附图说明图1为本专利技术实施例的基于Multi-port的异步复合测试方法的流程图。图2为本专利技术实施例的用于进行异步复合测试的测试平台V93000的连接图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本专利技术进一步详细说明。需要说明的是，本专利技术实施例中所有使用“第一”和“第二”的表述均是为了区分两个相同名称非相同的实体或者非相同的参量，可见“第一”“第二”仅为了表述的方便，不应理解为对本专利技术实施例的限定，后续实施例对此不再一一说明。本专利技术的核心构思在于，V93000测试系统提供了有效的Multi-port功能组件，可以对多端口的器件按端口进行Multi-port的分类定义，分属于不同port的管脚可以分别定义电平和时序，并在测试配置前根据测试要求对各个port进行有效的组合。测试过程中将所测器件不同端口之间的测试向量分别存储到测试平台的内存中，再将存储的数据根据时钟的周期并行输出，从而实现对多端口异步芯片不同端口的不同工作模式并行测试的方法。参照图1所示，示出了本专利技术实施例的基于Multi-port的异步复合测试方法的流程图，其包括以下步骤：步骤S1：按照多端口元器件的端口数将器件的管脚分为若干组；步骤S2：将每一组管脚中的电源信号与测试系统源连接，将每一组的地址线、数据线、控制线与测试系统连接器连接；步骤S3：通过测试平台的Multi-port组件，根据测试要求对每一组端口分别定义所有的工作电压、工作频率和工作方式；步骤S4：编写测试主程序，利用并行工作指令和多核工作模式将不同接口之间的多种串行的工作模式同时并行执行。根据步骤S3所述，定义工作电压，即定义所测器件的输入电平，输出比较电平，输出电流负载等参数；定义工作频率，即定义所测器件实际测试时的工作周期，即输入信号时序与信号格式，采样时序等参数；定义工作模式即利用向量工具对器件的工作情况进行模拟。根据步骤S3、S4所述，将向量存储器中输入的数据与时序、波形格式定义以及电压数据结合在一起，通过通道电性能驱动电路施加给待测器件，待测器件的输出通过通道电性能电路上的比较电路在定义的采样时间内与存储在向量存储器中的输出比较数据进行比较。参照图2所示，为本专利技术实施例的用于进行异步复合测试的测试平台V93000的连接图。图2中，被测器件20为双端口异步芯片，将被测器件20的电源管脚、地址管脚、数据管脚和控制管脚分为两组，即左端(LEFT_PORT)和右端(RIGHT_PORT)。将被测器件20的电源信号VDD，VDD_L，VDD_R分别与测试系统源10连接，将被测器件20的左端(ADD_L，CON_L，IO_L)与测试系统连接器11连接，将被测器件20的右端(ADD_R，CON_R，IO_R)与测试系统连接器12连接。连接完成后，通过测试平台定义被测器件所需测试相关参数并运行测试。首先通过测试平台V93000定义被测器件的VDD电平；之后通过测试平台V93000提供的Multi-port组件根据测试要求对被测器件的左端(LEFT_PORT)和右端(RIGHT_PORT)分别定义所有可能的输入电平、输出比较电平、输出电流负载、测试周期，为左端(LEFT_PORT)及右端(RIGHT_PORT)的所有输入信号定义输入时序和信号格式，为所有输出信号定义采样时序，为向量存储器定义向量的起始与终止点；最后运行测试，将被测器件20的输出信号与存储在向量存储器中的输入比较数据进行比较，从而判断被测器件性能的好坏。在此过程中，采用并行工作指令和多核工作模式对时钟周期进行定义，使得被测器件20左端(LEFT_PORT)和右端(RIGHT_PORT)两个端口的测试过程并行地执行。采用这种并行的测试思想可以极大的提高测试效率。例如当所测器件有多种工作模式，分别为3.3V电压，2.5V电压以及10MHz，30MHz时，采用原有的串行模式执行测试时，需要执行4次，分别为3.3V-10MHz、3.3V-30MHz、2.5V-10MHz、2.50V-30MHz，全部测试完毕所需的测试时间长并且测试向量也长；而采用本专利技术所述并行测试方法则只需要执行2次，分别为：左端3.3V-10MHz，右端同时3.3V-30MHz；左端2.5V-10MHz，右端同时2.50V-30MHz。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于Multi‑port的异步复合测试方法，其特征在于，包括以下步骤：按照多端口元器件的端口数将器件的管脚分为若干组；将每一组管脚中的电源信号与测试系统源连接，将每一组的地址信号管脚、数据信号管脚、控制信号管脚与测试系统连接器连接；通过测试平台的Multi‑port组件，根据测试要求对每一组端口分别定义包括工作模式在内的所有参数；编写测试主程序，利用并行工作指令和多核工作模式将不同端口之间的多种串行的工作模式同时并行执行。

【技术特征摘要】
1.一种基于Multi-port的异步复合测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
按照多端口元器件的端口数将器件的管脚分为若干组；
将每一组管脚中的电源信号与测试系统源连接，将每一组的地址信号管脚、
数据信号管脚、控制信号管脚与测试系统连接器连接；
通过测试平台的Multi-port组件，根据测试要求对每一组端口分别定义包
括工作模式在内的所有参数；
编写测试主程序，利用并行工作指令和多核工作模式将不同端口之间的多
种串行的工作模式同时并行执行。
2.根据权利要求1所述的异步复合测试方法，其特征在于，所述根据测试要
求对每一组端口分别定义包括工作模式在内的所有参数包括：根据测试要
求对每一组端口分别定义所有的工作电压、工作频率和工作模式。
3.根据权利要求1所述的异步复合测试方法，其特征在于，根据测试要求对
每一组端口分别定义包括工作模式在内的所有参数包括：定义所测器件的...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗晶，杨士宁，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：发明
国别省市：北京;11