一种基于机器视觉的日用陶瓷表面缺陷检测装置制造方法及图纸

技术编号:13400122 阅读:52 留言:0更新日期:2016-07-24 02:24
本实用新型专利技术实施例公开了一种基于机器视觉的日用陶瓷表面缺陷检测装置,包括传输带、工业线阵CCD摄像头、图像采集卡、PC机、光源系统、红外触发装置;所述光源系统包括半密闭箱体、带磨砂灯罩的LED阵列光源,所述半密闭箱体罩设于所述传输带上,所述LED阵列光源设置于半密闭箱体内顶之上;所述工业线阵CCD摄像头设置于LED阵列光源之下;所述PC机通过所述图像采集卡控制所述工业线阵CCD摄像头对所述陶瓷产品进行图像采集。采用本实用新型专利技术,为日用陶瓷器皿的表面缺陷检测提供了高质量、快速图像采集及缺陷分析的硬件平台,并有效地防止外界因素变化对图像采集的影响,且只针对有效输送状态下的陶瓷器皿进行图像采集,提高了图像分析精度,节省了分析时效。

【技术实现步骤摘要】


本技术涉及一种检测装置,尤其涉及一种基于机器视觉的日用陶瓷表面缺陷检测装置。

技术介绍

由于原料质量及加工工艺等原因,日用陶瓷制品表面经常会出现一些缺陷,比如斑点、裂纹、破损、变色等。但是,目前绝大部分陶瓷企业对大批量的日用陶瓷制品的表面缺陷,仍采用人工目测的方法。这种方法由于工人的责任心及眼睛疲劳等生理状况容易造成漏检。因此,为提高检测质量和生产效率,降低成本,并把操作者从单调而繁琐的工作中解脱出来,设计一套智能化的日用陶瓷制品表面缺陷自动检测装置是十分必要的,这是工业自动化质量控制十分重要的课题,有助于陶瓷企业提高生产自动化水平,实现产业的转型升级。

技术实现思路

本技术实施例所要解决的技术问题在于,提供一种基于机器视觉的日用陶瓷表面缺陷检测装置。可对日用陶瓷器皿的表面缺陷进行高质量、快速图像采集及缺陷分析。
为了解决上述技术问题,本技术实施例提供了一种基于机器视觉的日用陶瓷表面缺陷检测装置
,包括传输带、工业线阵CCD摄像头、图像采集卡、PC机、光源系统、红外触发装置;
所述光源系统包括半密闭箱体、带磨砂灯罩的LED阵列光源,所述半密闭箱体罩设于所述传输带上,并提供陶瓷产品进出口,所述LED阵列光源设置于所述半密闭箱体内顶之上;所述工业线阵CCD摄像头设置于所述LED阵列光源之下;
所述PC机通过所述图像采集卡控制所述工业线阵CCD摄像头对所述陶瓷产品进行图像采集。
进一步地,还包括设置于所述半密闭箱体两侧的红外触发装置,用于检测所述传输带上的所述陶瓷产品,使所述PC机通过所述图像采集卡控制所述工业线阵CCD摄像头对所述陶瓷产品进行图像采集,进而进行表面缺陷的图像分析。
更进一步地,所述LED阵列光源是等间距均匀分布的小功率贴片LED,且所述LED阵列光源外面设置磨砂灯罩。
更进一步地,还包括控制板,所述控制板接收所述红外触发装置的控制信号,并通过串口线与所述PC机连接。
实施本技术实施例,具有如下有益效果:本技术为日用陶瓷器皿的表面缺陷检测提供了高质量、快速图像采集及缺陷分析的硬件平台,并有效地防止外界因素变化及陶瓷器皿表面反光对图像采集的影响,且只针对有效输送状态下的陶瓷器皿进行图像采集,提高了图像分析精度,节省了分析时效。
附图说明
图1是本技术的整体结构示意图。
具体实施方式
为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本技术作进一步地详细描述。
参照图1所示的本技术的整体结构示意图。
本技术实施例的一种基于机器视觉的日用陶瓷表面缺陷检测装置,包括了传输带1、工业线阵CCD摄像头7、图像采集卡8、LED阵列光源9、PC机6、抗干扰的光源系统、红外触发装置。
LED阵列9安装在半密闭箱体10内部的上方,其LED阵列是等间距均匀分布的小功率贴片LED,且在LED阵列外面加了磨砂灯罩,使发出的光线柔和且均匀,大大减少了陶瓷器具表面的反射光。
红外触发装置包括红外对管3、控制板4、串口线5,红外对管3通过信号线连接控制板4的中断接口,通过中断触发方式与控制板4进行通信;控制板4通过串口线连接PC机,利用串口与PC机进行通信。
本技术的运行过程如下:传输带1上的陶瓷器皿2到达检测位置时,触发红外对管3并产生触发信号,控制板4检测到触发信号并通过串口线5传给PC机6,PC机6通过图像采集卡8控制工业线阵CCD摄像头7采集图像,并再次通过图像采集卡8传给PC机6,进而进行表面缺陷的图像分析。
当然上述实施例只为说明本技术的技术构思及特点,其目的在于让熟悉此项技术的人能够了解本技术的内容并据以实施,并不能以此限制本技术的保护范围。凡根据本技术主要技术方案的精神实质所做的修饰,都应涵盖在本技术的保护范围之内。
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【技术保护点】
一种基于机器视觉的日用陶瓷表面缺陷检测装置,其特征在于,包括传输带、工业线阵CCD摄像头、图像采集卡、PC机、光源系统、红外触发装置;所述光源系统包括半密闭箱体、带磨砂灯罩的LED阵列光源,所述半密闭箱体罩设于所述传输带上,并提供陶瓷产品进出口,所述LED阵列光源设置于所述半密闭箱体内顶之上;所述工业线阵CCD摄像头设置于所述LED阵列光源之下;所述PC机通过所述图像采集卡控制所述工业线阵CCD摄像头对所述陶瓷产品进行图像采集。

【技术特征摘要】
1.一种基于机器视觉的日用陶瓷表面缺陷检测装置,其特征在于,包括传输带、工业线阵CCD摄像头、图像采集卡、PC机、光源系统、红外触发装置;
所述光源系统包括半密闭箱体、带磨砂灯罩的LED阵列光源,所述半密闭箱体罩设于所述传输带上,并提供陶瓷产品进出口,所述LED阵列光源设置于所述半密闭箱体内顶之上;所述工业线阵CCD摄像头设置于所述LED阵列光源之下;
所述PC机通过所述图像采集卡控制所述工业线阵CCD摄像头对所述陶瓷产品进行图像采集。
2.根据权利要求1所述的检测装置,其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员:董晓庆谢森林
申请(专利权)人:韩山师范学院
类型:新型
国别省市:广东;44

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