一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机使用方法技术

本发明专利技术公开了一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机使用方法，所述使用方法包括，开启主机箱体和处理显示器电源；开启风扇、加热室加热装置、空气净化装置，加装检测芯片，调整全内反射光源及接收器和倒置荧光显微镜，检测、关机。本发明专利技术的优点是提供了既能够用全内反射检测方法，又提供了倒置荧光显微镜检测方法，实现一机多用，满足一机联测不同因子的要求。

【技术实现步骤摘要】


本专利技术涉及一种体外诊断一体机的使用方法，更为具体地讲是属于医疗设备体外诊断领域的一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机使用方法。

技术介绍

体外诊断是指将血液、体液、组织样本从人体中取出后进行检测而进行的诊断，目前临床上80%以上的疾病诊断都依靠IVD，被誉为医生的“眼睛”。IVD在现代社会中扮演着越来越重要的角色，特别是床前即时诊断在疾病预防、诊断、监测以及指导治疗的全过程中发挥着极其重要的作用，是现代疾病与健康管理不可或缺的工具。由于微流控芯片得到了迅速发展，而今天阻碍微流控技术发展的瓶颈仍然是早期限制其发展的制造加工和应用方面的问题。全内反射光学检测技术就是一项符合与微流控芯片集成的光学检测技术，但是，目前在利用这两者技术检测活细胞时，缺乏满足活细胞检测的恒温一体机以及其使用方法。
为了对癌症及心脑血管疾病的活细胞等多因子的一次性检测诊断，需要一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机和它的使用方法。

技术实现思路

本专利技术的目的在于克服现有技术的不足，提供一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机使用方法。
本专利技术的目的是这样实现的：一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机使用方法，所述一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机，由主机箱体、和处理显示器两部分组成，其特征在于：加工成密闭的主机箱体，在竖直朝前的一面有开口，箱体里面通过上下箱室隔板将箱体内部分为下层箱室和上层箱室两层，并且都各自在箱体开口处安装有独立的下层透明门和上层透明门。这样设计便于两个工作区间不相互干扰，避免污染影响。下层箱室安装有倒置荧光显微镜，倒置荧光显微镜镜头上方对着观察窗。安置倒置荧光显微镜是满足一机多用目的，既能够用全内反射检测，又能够用倒置荧光显微镜检测。在观察窗上方的上下箱室隔板的上面，即在上层箱室内的上下箱室隔板一侧安装有样品台；样品台上固定放置检测芯片；在样品台正上方有全内反射光源及接收器，能够实现全内反射的检测。在上层箱室的里侧箱体壁上安装有竖轨，在竖轨上还水平安装有横轨，横轨与竖轨十字交叉相互垂直，全内反射光源及接收器通过竖轨或横轨固定。这样设计能够满足全内反射光源及接收器在竖轨上垂直上下移动和固定，还能够满足全内反射光源及接收器在横轨上左右移动和固定，保证全内反射检测的顺利进行。在上层箱室的里侧箱体壁上还加工安装有连体的加湿器和风扇，连体的加湿器和风扇设计目的是风扇会通过感应器控制转速，以保障了活细胞检测所需要的湿度的恒定。上层箱室的里侧箱体壁有两层保温隔板，在两层保温隔板之间是加热室，加热室内安装有能够调节和控制温度的电加热装置，保障了活细胞检测所需要的温度。在主机箱体顶部加工安装有空气净化装置与上层箱室相通，保障了监测区域的清洁度要求。处理显示器与主机箱体内的倒置荧光显微镜和全内反射光源及接收器线路相连，能够控制上下两种检测装置。
所述使用方法如下。
第一步，开启主机箱体和处理显示器电源；保持下层透明门和上层透明门都密闭关闭，开启风扇、加热室加热装置、空气净化装置，运转15min-30min。
第二步，观察处理显示器的温度和湿度到稳定要求后，打开上层透明门，将检测芯片放在样品台上，连接检测芯片与各个导管的接口；依据检测芯片上的检测区域位置，调整移动样品台将检测区域位置调整到观察窗，固定。
第三步，开启全内反射光源及接收器电源，将全内反射光源及接收器在竖轨上调整高度，使其在检测芯片上发生全反射，固定全内反射光源及接收器，然后将横轨调整到与全内反射光源及接收器同一高度固定，在横轨上，再左右调整全内反射光源及接收器，使其全反射在检测芯片上的检测区域位置，最后固定全内反射光源及接收器，进行全内反射试样检测，处理显示器控制测试参数和采集数据。
第四步，检测芯片上有多个检测区域位置时，重复第三步操作。
第五步；关闭全内反射光源及接收器电源，打开倒置荧光显微镜电源，通过处理显示器调整焦距，移动位置，使镜头对准检测芯片上的检测区域，进行常规荧光检测，处理显示器控制荧光参数和采集数据；如不需要常规荧光检测，直接从第三步或第四步到第六步。
第六步；先关闭全内反射光源及接收器电源和倒置荧光显微镜电源，取走检测芯片，依次关闭风扇、加热室加热装置、空气净化装置的电源，取走加湿器中的水，最后关闭主机箱体和处理显示器电源。
进一步的，所述风扇与加热室相通；加热室的上方通过空气过滤层与空气净化装置相通，保障了上层箱室的温度均匀与恒定，湿度的均匀与恒定。
进一步的，所述主机箱体是由保温材料加工的密闭箱体；所述下层透明门和上层透明门均是密闭保温门。这样保证了箱内检测区域上层箱室的温度均匀与恒定，湿度的均匀。
进一步的，所述主机箱体是立方体形状，或圆柱体形状。不局限于常规箱子长方体的限制。
本专利技术相对于现有技术具有如下优点。
1.既能够用全内反射检测，又能够用倒置荧光显微镜检测，实现一机多用，满足一机联测不同因子的要求。
2.通过全内反射检测技术、微流控芯片技术两种技术结合与一体机的整合，实现了检测区域的温度均匀与恒定，湿度的均匀与恒定。
附图说明
图1为本专利技术的主视示意图。
图2为本专利技术的左视示意图。
其中：1.主机箱体；2.下层箱室；3.倒置荧光显微镜；4.观察窗；5.上下箱室隔板；6.样品台；7.加湿器；8.风扇；9.横轨；10.全内反射光源及接收器；11.空气净化装置；12.竖轨；13.上层箱室；14.上层透明门；15.检测芯片；16.入射光校准标尺；17.下层透明门；18.处理显示器；19.保温隔板；20.加热室；21.空气过滤层。
具体实施方式
参见图1，图2，一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机，由主机箱体1、和处理显示器18组成，其特征在于：密闭的主机箱体1竖直朝前的一面有开口，箱体里面通过上下箱室隔板5将箱体内部分为下层箱室2和上层箱室13两层，并且都各自在箱体开口处安装有独立的下层透明门17和上层透明门14；下层箱室2安装有倒置荧光显微镜3，倒置荧光显微镜3镜头上方对着观察窗4；观察窗4上方的上下箱室隔板5的上面，即在上层箱室13内的上下箱室隔板5一侧安装有样品台6；样品台6上固定放置检测芯片15；在样品台6正上方有全内反射光源及接收器10；在上层箱室13的里侧箱体壁上安装有竖轨12，在竖轨12上还水平安装有横轨9，横轨9与竖轨12十字交叉相互垂直；全内反射光源及接收器10通过竖轨12或横轨9固定，使用时根据检测区域的需要在竖轨12或横轨9上移动调整固定全内反射光源及接收器10，实现全内反射的最佳发射接收位置。在上层箱室13的里侧箱体壁上还加工安装有湿度感应器控制的连体风扇8和加湿器7。上层箱室13的里侧箱体壁有两层保温隔板19，在两层保温隔板19之间是加热室20，加热室20内安装有控制温度的电加热装置，提供活细胞所需要的温度。在主机箱体1顶部加工安装有空气净化装置11与上层箱室13相通；处理显示器18与主机箱体1内的倒置荧光显微镜3和全内反射光源及接收器10线路相连。
所述使用方法如下。
第一步，开启主机箱体1和处理显示器18电源；保持下层透明门17和上层透明门14都密闭关闭，开启风扇8、加热室20加热装置、空气净化装置11，运转15min-30min。
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【技术保护点】
一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机使用方法，所述一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机，由主机箱体（1）、和处理显示器（18）组成，其特征在于：主机箱体（1）竖直朝前的一面有开口，箱体里面通过上下箱室隔板（5）将箱体内部分为下层箱室（2）和上层箱室（13）两层，并且都各自在箱体开口处安装有独立的下层透明门（17）和上层透明门（14）；下层箱室（2）安装有倒置荧光显微镜（3），倒置荧光显微镜（3）镜头上方对着观察窗（4）；观察窗（4）上方的上下箱室隔板（5）的上面，即在上层箱室（13）内的上下箱室隔板（5）一侧安装有样品台（6）；样品台（6）上固定放置检测芯片（15）；在样品台（6）正上方有全内反射光源及接收器（10）；在上层箱室（13）的里侧箱体壁上安装有竖轨（12），在竖轨（12）上还水平安装有横轨（9），横轨（9）与竖轨（12）十字交叉相互垂直；全内反射光源及接收器（10）通过竖轨（12）或横轨（9）固定；在上层箱室（13）的里侧箱体壁上还加工安装有连体的加湿器（7）和风扇（8）；上层箱室（13）的里侧箱体壁有两层保温隔板（19），在两层保温隔板（19）之间是加热室（20），加热室（20）内安装有控制温度的电加热装置；在主机箱体（1）顶部加工安装有空气净化装置（11）与上层箱室（13）相通；处理显示器（18）与主机箱体（1）内的倒置荧光显微镜（3）和全内反射光源及接收器（10）线路相连；所述使用方法如下：第一步，开启主机箱体（1）和处理显示器（18）电源；保持下层透明门（17）和上层透明门（14）都密闭关闭，开启风扇（8）、加热室（20）加热装置、空气净化装置（11），运转15min‑30min；第二步，观察处理显示器（18）的温度和湿度到稳定要求后，打开上层透明门（14），将检测芯片（15）放在样品台（6）上，连接检测芯片（15）与各个导管的接口；依据检测芯片（15）上的检测区域位置，调整移动样品台（6）将检测区域位置调整到观察窗（4），固定；第三步，开启全内反射光源及接收器（10）电源，将全内反射光源及接收器（10）在竖轨（12）上调整高度，使其在检测芯片（15）上发生全反射，固定全内反射光源及接收器（10），然后将横轨（9）调整到与全内反射光源及接收器（10）同一高度固定，在横轨（9）上，再左右调整全内反射光源及接收器（10），使其全反射在检测芯片（15）上的检测区域位置，最后固定全内反射光源及接收器（10），进行全内反射试样检测，处理显示器（18）控制测试参数和采集数据；第四步，检测芯片（15）上有多个检测区域位置时，重复第三步操作；第五步；关闭全内反射光源及接收器（10）电源，打开倒置荧光显微镜（3）电源，通过处理显示器（18）调整焦距，移动位置，使镜头对准检测芯片（15）上的检测区域，进行常规荧光检测，处理显示器（18）控制荧光参数和采集数据；如不需要常规荧光检测，直接从第三步或第四步到第六步；第六步；先关闭全内反射光源及接收器（10）电源和倒置荧光显微镜（3）电源，取走检测芯片（15），依次关闭风扇（8）、加热室（20）加热装置、空气净化装置（11）的电源，取走加湿器7中的水，最后关闭主机箱体（1）和处理显示器（18）电源。...

【技术特征摘要】
1.一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机使用方法，所述一种恒温全内反射微流控芯片检测一体机，由主机箱体（1）、和处理显示器（18）组成，其特征在于：主机箱体（1）竖直朝前的一面有开口，箱体里面通过上下箱室隔板（5）将箱体内部分为下层箱室（2）和上层箱室（13）两层，并且都各自在箱体开口处安装有独立的下层透明门（17）和上层透明门（14）；下层箱室（2）安装有倒置荧光显微镜（3），倒置荧光显微镜（3）镜头上方对着观察窗（4）；观察窗（4）上方的上下箱室隔板（5）的上面，即在上层箱室（13）内的上下箱室隔板（5）一侧安装有样品台（6）；样品台（6）上固定放置检测芯片（15）；在样品台（6）正上方有全内反射光源及接收器（10）；在上层箱室（13）的里侧箱体壁上安装有竖轨（12），在竖轨（12）上还水平安装有横轨（9），横轨（9）与竖轨（12）十字交叉相互垂直；全内反射光源及接收器（10）通过竖轨（12）或横轨（9）固定；在上层箱室（13）的里侧箱体壁上还加工安装有连体的加湿器（7）和风扇（8）；上层箱室（13）的里侧箱体壁有两层保温隔板（19），在两层保温隔板（19）之间是加热室（20），加热室（20）内安装有控制温度的电加热装置；在主机箱体（1）顶部加工安装有空气净化装置（11）与上层箱室（13）相通；处理显示器（18）与主机箱体（1）内的倒置荧光显微镜（3）和全内反射光源及接收器（10）线路相连；
所述使用方法如下：
第一步，开启主机箱体（1）和处理显示器（18）电源；保持下层透明门（17）和上层透明门（14）都密闭关闭，开启风扇（8）、加热室（20）加热装置、空气净化装置（11），运转15min-30min；
第二步，观察处理显示器（18）的温度和湿度到稳定要求后，打开上层透明门（14），将检测芯片（15）放在样品台（6）上，连接检测芯片（15）与各个导管的接口；依据检测芯片（15）上的检测区域位置，...

【专利技术属性】
技术研发人员：廖晓玲，徐紫宸，李波，肖文谦，
申请(专利权)人：重庆科技学院，
类型：发明
国别省市：重庆;85