【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种提高带隙基准电源抑制比的预稳压电路,其特征在于:包括启动电路、PTAT电流电路和带隙基准电压产生模块,所述启动电路与PTAT电流电路电连接,所述PTAT电流电路包括PMOS管M5、PMOS管M6、PMOS管M7、PMOS管M8、晶体管Q1、晶体管Q2和电阻R1;所述带隙基准电压产生模块包括PMOS管M9、NMOS管M10、PMOS管M11、PMOS管M12、NMOS管M13、NMOS管M14和NMOS管M15;其中,晶体管Q1, PMOS管M5, PMOS管M6, PMOS管M7, PMOS管M8, PMOS管M9, PMOS管M11, PMOS管M12, NMOS管M13,NMOS管M14, NMOS管M15组成负反馈环路,而晶体管Q2, 电阻R1,PMOS管M6, PMOS管M8, PMOS管M9, PMOS管M11, PMOS管M12, NMOS管M13, NMOS管M14,NMOS管M15组成正反馈环路,所述NMOS管M10的源极与NMOS管M10的源极连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:唐杰,章国豪,陈忠学,黄敬馨,余凯,
申请(专利权)人:广东工业大学,
类型:发明
国别省市:广东;44
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