一种插件式熔断器二次快速筛选方法技术

技术编号:13381236 阅读:88 留言:0更新日期:2016-07-21 13:02
本发明专利技术公开了一种插件式熔断器二次快速筛选方法,该方法包括如下步骤:(1)将样品安装在测试板上并安装在熔断器自动测量系统上;(2)给样品通以小于10%额定电流的测试电流,测试样品此时的电阻值;(3)给样品通以50%~100%额定电流间的任一测试电流10s~60s,测试样品此时的电阻值;(4)观察测试系统给出的样品阻值变化率;将明显低于或高于其他产品阻值变化率的样品剔除。本发明专利技术检测速度快、产品一致性好、可靠性高。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种插件式熔断器二次快速筛选方法,其特征在于:该方法包括如下步骤:(1)将样品安装在测试板上并安装在熔断器自动测量系统上;(2)给样品通以小于10%额定电流的测试电流,测试样品此时的电阻值;(3)给样品通以50%~100%额定电流间的任一测试电流10s~60s,测试样品此时的电阻值;(4)观察测试系统给出的样品阻值变化率;将明显低于或高于其他产品阻值变化率的样品剔除。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:孙鹏远韩玉成沈忠梅阳华远陈思纤
申请(专利权)人:中国振华集团云科电子有限公司
类型:发明
国别省市:贵州;52

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