一种电解电容的在路测试装置及方法制造方法及图纸

技术编号:13372646 阅读:87 留言:0更新日期:2016-07-19 22:43
本发明专利技术公开了一种电解电容的在路测试装置及方法,该装置包括:放电检测单元(200)、参数检测单元(300)和数据处理单元(400),其中,放电检测单元,被配置为:对在路的待测电解电容进行放电处理,以确定电解电容放电完成;参数检测单元,连接于放电检测单元,且被配置为:在电解电容放电完成后,对电解电容进行检测处理,以获取相应参数;数据处理单元,连接于参数检测单元,且被配置为:基于获取的参数,进行数据处理,以获取用户所需参数值。本发明专利技术的方案,可以克服现有技术中测量难度大、可靠性低和影响设备正常使用等缺陷,实现测量难度小、可靠性高和不影响设备正常使用的有益效果。

【技术实现步骤摘要】
201610111244

【技术保护点】
一种电解电容的在路测试装置,其特征在于,包括:放电检测单元(200)、参数检测单元(300)和数据处理单元(400),其中,所述放电检测单元(200),被配置为:对在路的待测电解电容(100)进行放电处理,以确定所述电解电容(100)放电完成;所述参数检测单元(300),连接于所述放电检测单元(200),且被配置为:在所述电解电容(100)放电完成后,对所述电解电容(100)进行检测处理,以获取相应参数;所述数据处理单元(400),连接于所述参数检测单元(300),且被配置为:基于获取的所述参数,进行数据处理,以获取用户所需参数值。

【技术特征摘要】
1.一种电解电容的在路测试装置,其特征在于,包括:放电检测单元(200)、
参数检测单元(300)和数据处理单元(400),其中,
所述放电检测单元(200),被配置为:对在路的待测电解电容(100)进行放电
处理,以确定所述电解电容(100)放电完成;
所述参数检测单元(300),连接于所述放电检测单元(200),且被配置为:在
所述电解电容(100)放电完成后,对所述电解电容(100)进行检测处理,以获取相
应参数;
所述数据处理单元(400),连接于所述参数检测单元(300),且被配置为:基
于获取的所述参数,进行数据处理,以获取用户所需参数值。
2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述放电检测单元(200),包括:
放电电阻和指示灯,其中,
所述放电电阻,被配置为:对所述电解电容(100)进行放电处理,且其阻值与
所述电解电容(100)的容量适配;
所述指示灯,连接于所述放电电阻,且被配置为:当所述电解电容(100)通过
所述放电电阻放电完成时,显示第一状态;否则显示第二状态。
3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述放电电阻,具有阻值调节档
位,以在放电处理时根据所述电解电容的容量适配地调节其阻值。
4.根据权利要求1-3之一所述的装置,其特征在于,所述参数检测单元(300),
包括:漏电流检测支路(302)和/或容量检测支路(304)和/或阻抗检测支路(306)
和/或损耗角正切值检测支路(308),其中,
所述漏电流检测支路(302),被配置为:当所述参数包括漏电流时,对所述电
解电容(100)的漏电流进行检测;
所述容量检测支路(304),被配置为:当所述参数包括容量时,对所述电解电
容(100)的容量进行检测;
所述阻抗检测支路(306),被配置为:当所述参数包括阻抗时,对所述电解电
容(100)的阻抗进行检测;
所述损耗角正切值检测支路(308),被配置为:当所述参数包括损耗时,对所
述电解电容(100)的损耗角正切值进行检测。
5.根据权利要求4所述的装置,其特征在于,所述漏电流检测支路(302),包括:

\t串电阻检测电路,且所述串电阻检测电路被配置为:基于串电阻检测电路电流法检测
所述电解电容(100)的漏电流;
所述容量检测支路(304)和所述损耗角正切值检测支路(308),均包括:电桥,
且所述电桥被配置为:基于电桥测试原理检测所述电解电容(100)的容量和...

【专利技术属性】
技术研发人员:戴彪杨坚宋爱程海松
申请(专利权)人:珠海格力电器股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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