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耐弯折透明硫化铜导电膜及其制备方法技术

技术编号:13372431 阅读:47 留言:0更新日期:2016-07-19 22:13
耐弯折透明硫化铜导电膜及其制备方法,涉及柔性透明导电膜制备。所述耐弯折透明硫化铜导电膜由柔性透明薄膜和网络状的CuS导电膜组成,其方阻值Rs≤20Ω/sq,可见光的透光率T≥80%。所述耐弯折透明硫化铜导电膜的制备方法,包括以下步骤:1)通过静电纺丝技术在收集器上纺一层网状的聚乙烯醇细丝;2)通过磁控溅射技术,在步骤1)所得的细丝表面溅射一层Cu膜,取出后,转移至不同柔性基底表面,将导电膜浸泡于纯水中,去掉PVA模板,烘干,得薄膜;3)将步骤2)中所得的薄膜置于S的饱和乙醇溶液中进行硫化反应后,取出,洗涤烘干,即得耐弯折透明硫化铜导电膜。工艺简单,成本较低,容易实现大规模的生产。

【技术实现步骤摘要】
201610273823

【技术保护点】
耐弯折透明硫化铜导电膜,其特征在于由柔性透明薄膜和网络状的CuS导电膜组成,其方阻值Rs≤20Ω/sq,可见光的透光率T≥80%。

【技术特征摘要】
1.耐弯折透明硫化铜导电膜,其特征在于由柔性透明薄膜和网络状的CuS导电膜组成,
其方阻值Rs≤20Ω/sq,可见光的透光率T≥80%。
2.如权利要求1所述耐弯折透明硫化铜导电膜,其特征在于所述柔性透明薄膜选自高分
子聚合物薄膜、纸张、柔性纤维、金属箔片中的一种。
3.如权利要求1所述耐弯折透明硫化铜导电膜,其特征在于所述网络状的CuS导电膜的
CuS纳米线的长度为1~5cm,所述网络状的CuS导电膜的CuS纳米线的半径为50nm~20μm。
4.如权利要求1所述耐弯折透明硫化铜导电膜,其特征在于所述网络状的CuS导电膜的
CuS纳米线为中空结构。
5.如权利要求1所述耐弯折透明硫化铜导电膜的制备方法,其特征在于包括以下步骤:
1)通过静电纺丝技术在收集器上纺一层网状的聚乙烯醇细丝;
2)通过磁控溅...

【专利技术属性】
技术研发人员:郭文熹潘曹峰张晓佳刘向阳
申请(专利权)人:厦门大学
类型:发明
国别省市:福建;35

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