一种热防护结构脱粘缺陷检测方法及其检测系统技术方案

本发明专利技术公开了一种热防护结构脱粘缺陷检测方法及其检测系统，方法包括如下步骤：步骤1，在试块的表面标识出相距为δx的P1和P2两点；步骤2，用迈克尔逊干涉光路实现P1和P2两点图像错位使得P1和P2两点在CCD相机成像平面上照射到同一个点P；步骤3，获得试块初始状态的散斑场相位分布图；步骤4，对试块进行加载；步骤5，获得试块加载状态的散斑场相位分布图；得到试块加载前后的相位差图：对相位差图进行相位解包处理，最终得到解包相位图，解包相位图即可反映出相应缺陷。系统主要包括CCD相机，本发明专利技术利用激光错位散斑技术来检测热防护结构脱粘缺陷，不需要使用耦合剂，造价较低，而且能够精准的检测出脱粘缺陷，非常适合检测热防护结构脱粘缺陷。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种热防护结构脱粘缺陷检测方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤1，在试块的表面标识出相距为δx的P1和P2两点；步骤2，用迈克尔逊干涉光路实现P1和P2两点图像错位使得P1和P2两点在CCD相机成像平面上照射到同一个点P；步骤3，获得试块初始状态的散斑场相位分布图φ(x,y)用激光照射在试块表面上，P1和P2两点在CCD相机成像平面相互干涉并产生散斑图，散斑图中任意像素点的光强表示为：I1(x,y)＝a(x,y)+b(x,y)cos[φ(x,y)]式中，a(x,y)是背景光强，b(x,y)是散斑图调制幅值；光强I1通过CCD相机获得，上式中仍然有a、b和相位φ三个量未知，因此分别使参考光光程变化90°、180°和270°，得到三副新的散斑图，分别得到这三幅新的散斑图中任意像素点的光强表示为：I2(x,y)=a(x,y)+b(x,y)cos[φ(x,y)+π2]]]>I3(x,y)＝a(x,y)+b(x,y)cos[φ(x,y)+π]I4(x,y)=a(x,y)+b(x,y)cos[φ(x,y)+3π2]]]>联立上述四个方程，求解可得：φ(x,y)=arctanI4(x,y)-I2(x,y)I1(x,y)-I3(x,y)]]>步骤4，对试块进行加载；步骤5，获得试块加载状态的散斑场相位分布图φ′(x,y)采用步骤3中同样的方法，得到φ′(x,y)；步骤6，得到试块加载前后的相位差图：Δ(x,y)＝φ′(x,y)‑φ(x,y)步骤7，对相位差图进行相位解包处理，最终得到解包相位图，解包相位图即可反映出相应缺陷。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杨扬，周正干，何伟，
申请(专利权)人：成都飞机工业集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：四川;51