【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】离子束扫描器、离子布植机及控制点离子束的方法相关申请的交叉参考本申请主张2013年10月22日申请的美国临时专利申请案号61/894,065的优先权。
本实施例是有关于一种离子束仪器,且特别是有关于一种控制离子束的离子束扫描器、离子布植机及控制点离子束的方法。
技术介绍
至今,常根据应用的特定组合来建构离子布植机,以达到布植的最佳化。在目前的应用中,例如一些束线离子布植机经配置以产生高电流带状束,其中由基材所截取的此束的剖面具有比束高大很多的束宽。在一些配置中,束宽仅比基材在基材平面上的尺寸大一点点,例如当束高为10毫米、20毫米或30毫米时,束宽为200毫米、300毫米或400毫米。通过相对于带状束在束高的方向扫描基材,利用离子束可对整个基材进行布植。对其他离子布植应用,偏好使用具有束高和束宽较相近的点束离子束。由点束离子布植所提供的一个优点在于点束给予较佳的剂量均匀性的控制。在点束离子布植应用中,点束可沿着第一方向扫描以涵盖基材的维度,在此方向布植此基材。在同一时间,可于垂直于点束扫描的方向扫描基材。通过调整沿着点束方向扫描的离子束的速度,而可修饰局部的离子剂量浓度。在电脑控制下小心控制点束扫描,可使离子剂量均匀性达到最佳化。在许多束线离子布植机中,在退出质量分析狭缝后,离子束可作为发散离子的宽束而传播到准直器,此离子束形成了指向往基材前进的经准直离子束。为了提供正确的离子束的准直,而通常配置此种准直器来准直从放置在质量分析狭缝(MRS)的平面的物体出现的离子。这特征使得在点束模式和带状束模式中操作相同束线更加困难。在带状束模式中,通过分析器磁铁产生的 ...
【技术保护点】
一种离子束扫描器,其特征在于,包括:第一扫描平台,具有第一开口以传送离子束,所述第一扫描平台对应第一振荡偏转信号以在所述第一开口内产生第一振荡偏转场;第二扫描平台,设置于所述第一扫描平台下游、并具有第二开口以传送离子束,所述第二扫描平台对应第二振荡偏转信号以在所述第二开口内产生方向与所述第一振荡偏转场相反的第二振荡偏转场;以及扫描控制器,当经扫描离子束离开定义共同聚焦点的所述第二平台时,使所述第一振荡偏转信号和所述第二振荡偏转信号同步以产生多个离子轨迹。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2013.10.22 US 61/894,065;2014.01.24 US 14/163,8331.一种离子束扫描器,其特征在于,包括:双平台扫描系统包括第一扫描平台和第二扫描平台;所述第一扫描平台,具有第一开口以传送离子束,所述第一扫描平台对应第一振荡偏转信号以在所述第一开口内产生第一振荡偏转场;所述第二扫描平台,设置于所述第一扫描平台下游、并具有第二开口以传送离子束,所述第二扫描平台对应第二振荡偏转信号以在所述第二开口内产生方向与所述第一振荡偏转场相反的第二振荡偏转场;以及扫描控制器,当经扫描离子束离开定义共同聚焦点的所述第二扫描平台时,使所述第一振荡偏转信号和所述第二振荡偏转信号同步以产生多个离子轨迹;其中所述双平台扫描系统经配置以在点束模式和带状束模式中转换,在所述点束模式中所述扫描控制器输出所述第一振荡偏转信号和所述第二振荡偏转信号,而在所述带状束模式中所述扫描控制器未启动。2.根据权利要求1所述的离子束扫描器,其特征在于,其中所述第一振荡偏转场和所述第二振荡偏转场沿着第一方向延伸,所述第一方向和在所述第一扫描平台的离子束传播的方向垂直。3.根据权利要求1所述的离子束扫描器,其特征在于,其中所述第一扫描平台和所述第二扫描平台为磁性扫描器。4.根据权利要求3所述的离子束扫描器,其特征在于,其中所述第一振荡偏转信号是具有第一振荡周期以产生第一振荡磁场的第一振荡电流;所述第二振荡偏转信号是具有所述第一振荡周期以产生第二振荡磁场的第二振荡电流;以及所述扫描控制器可操作以同步所述第一振荡电流和所述第二振荡电流,使得所述第一振荡电流和所述第二振荡电流有180度相位偏差。5.根据权利要求1所述的离子束扫描器,其特征在于,其中所述第一扫描平台和所述第二扫描平台可操作以产生急弯形状轨迹到多个离子轨迹,其中所述离子轨迹聚集在共同聚焦点中的虚拟源。6.根据权利要求1所述的离子束扫描器,其特征在于,其中所述扫描控制器可操作以变化所述聚焦点的位置。7.根据权利要求1所述的离子束扫描器,其特征在于,其中所述共同聚焦点位于所述第一扫描平台的上游。8.根据权利要求1所述的离子束扫描器,其特征在于,其中所述离子束为点离子束。9.一种离子布植机,其特征在于,包括:离子源;束线部件,以产生点离子束;以及双平台扫描系统,可操作以扫描在多个离子轨迹上的所述点离子束以产生经扫描离子束,其中所述双平台扫描系统可操作以在第一扫描平台产生第一振荡偏转场以及在第二扫描平台产生方向与所述第一振荡偏转场相反的第二振荡偏转场,其中所述多个离子轨迹定义多个线,所述多个线聚集在位于所述双平台扫描系统上游的聚焦点;其中所述双平台扫描系统包...
【专利技术属性】
技术研发人员:肯尼士·H·波什,克里斯多夫·坎贝尔,法兰克·辛克莱,罗伯特·C·林德柏格,约瑟·C·欧尔森,
申请(专利权)人:瓦里安半导体设备公司,
类型:发明
国别省市:美国;US
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