【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及荧光免疫分析
，特别涉及一种光电探测系统及应用该光电探测系统的时间分辨荧光免疫分析仪。
技术介绍
时间分辨荧光免疫分析技术是一种非同位素免疫分析技术，它用镧系元素标记抗原或抗体，根据镧系元素螯合物的发光特点，用时间分辨技术测量荧光，同时检测波长和时间两个参数进行信号分辨，可有效地排除非特异荧光的干扰，极大地提高了分析灵敏度，因此得到了广泛的应用。现有时间分辨荧光免疫分析仪为获得较大的Stokes(斯托克斯位移，即相同电子跃迁在吸收光谱和发射光谱最强波长间的差值)位移，通常采用稀土金属，例如铕(Eu3+)离子来进行荧光标记，并采用大数值孔径的球面透镜对荧光进行采集。然而在聚焦模块中使用大数值孔径的球面透镜对荧光进行采集时，对于较强的光谱信号，就有可能超出聚焦模块检测范围，导致信号检测不出来。
技术实现思路
本专利技术的主要目的是提供一种光电探测系统，旨在提高光电探测系统的量程范围。为实现上述目的，本专利技术提出了一种光电探测系统，该光电探测系统包括产生激发光的光源、对所述激发光进行准直扩束的光束整形模块、将激发光聚焦于样品上所产生的发散荧光进行采集的聚焦模块及将聚焦后的荧光转换成电信号并进行处理的信号处理模块；所述光束整形模块包括分光镜组件且所述光束整形模块形成有第一信号采集通道及第二信号采集通道；其中，所述光束整形模块对所述光源发射的激发光进行准直扩束处理后对样品<...
【技术保护点】
一种光电探测系统，其特征在于，包括产生激发光的光源、对所述激发光进行准直扩束的光束整形模块、将激发光聚焦于样品上所产生的发散荧光进行采集的聚焦模块、及将聚焦后的荧光转换成电信号并进行处理的信号处理模块；所述光束整形模块包括分光镜组件且所述光束整形模块形成有第一信号采集通道及第二信号采集通道；其中，所述光束整形模块对所述光源发射的激发光进行准直扩束处理后对样品进行照射，所述聚焦模块对样品被激发后发出的荧光进行采集后发射至所述分光镜组件，所述分光镜组件将所述荧光分为两束荧光并分别通过所述第一信号采集通道及所述第二信号采集通道发射至所述信号处理模块。
【技术特征摘要】
1.一种光电探测系统，其特征在于，包括产生激发光的光源、对所述激
发光进行准直扩束的光束整形模块、将激发光聚焦于样品上所产生的发散荧
光进行采集的聚焦模块、及将聚焦后的荧光转换成电信号并进行处理的信号
处理模块；所述光束整形模块包括分光镜组件且所述光束整形模块形成有第
一信号采集通道及第二信号采集通道；其中，
所述光束整形模块对所述光源发射的激发光进行准直扩束处理后对样品
进行照射，所述聚焦模块对样品被激发后发出的荧光进行采集后发射至所述
分光镜组件，所述分光镜组件将所述荧光分为两束荧光并分别通过所述第一
信号采集通道及所述第二信号采集通道发射至所述信号处理模块。
2.如权利要求1所述的光电探测系统，其特征在于，所述光源、所述光
束整形模块、所述聚焦模块及所述信号处理模块集成于一封闭空间内，以提
供弱光环境。
3.如权利要求1所述的光电探测系统，其特征在于，所述光束整形模块
还包括第一反射镜组件、第二反射镜组件、二相色镜组件；所述光束整形模
块还形成有激发光整形通道、荧光整形通道；所述第一反射镜组件设置于所
述荧光整形通道内，所述第二反射镜组件设置于所述第二信号采集通道内，
所述二相色镜组件设置于所述激发光整形通道内，所述分光镜组件设置于所
述第一信号采集通道内；其中，
所述光源产生的激发光通过所述激发光整形通道，经过所述二相色镜组
件反射后发射至所述第一反射镜组件，经所述第一反射镜组件再次反射后经
过所述荧光反射通道进入所述聚焦模块；
所述样品产生的荧光通过所述荧光整形通道，经过所述第一反射镜组反
射后发射至所述二相色镜组件，荧光透射过所述二相色镜组件后传播至所述
分光镜组件，所述分光镜组件将入射荧光均分成第一路荧光和第二路荧光，
所述第一路荧光经第一信号采集通道进入所...
【专利技术属性】
技术研发人员：林晓明，刘玉县，梁伟棠，陈庆明，
申请(专利权)人：广东顺德工业设计研究院广东顺德创新设计研究院，
类型：发明
国别省市：广东;44
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