主板测试组件及测试方法技术

本发明专利技术涉及电子技术领域，公开了一种主板测试组件及测试方法。本发明专利技术用于测试待测主板的卡座的性能；主板测试组件包含：转接板、主控设备、多功能仪表以及用于安装在卡座内的模拟卡；转接板包含第一转接部；第一转接部的一端连接于多功能仪表，另一端连接于模拟卡；主控设备连接于多功能仪表；主控设备还用于连接至待测主板；其中，当测试时，主控设备控制待测主板执行读卡命令；主控设备还控制多功能仪表通过模拟卡读取测试信号，并根据测试信号生成测试报告。本发明专利技术使得卡座性能的测试准确率高，通用性强，且提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】
201610200990

【技术保护点】
一种主板测试组件，其特征在于，用于测试待测主板的卡座的性能；所述主板测试组件包含：转接板、主控设备、多功能仪表以及用于安装在所述卡座内的模拟卡；所述转接板包含第一转接部；所述第一转接部的一端连接于所述多功能仪表，另一端连接于所述模拟卡；所述主控设备连接于所述多功能仪表；所述主控设备还用于连接至所述待测主板；其中，当测试时，所述主控设备控制所述待测主板执行读卡命令；所述主控设备还控制所述多功能仪表通过所述模拟卡读取测试信号，并根据所述测试信号生成测试报告。

【技术特征摘要】
1.一种主板测试组件，其特征在于，用于测试待测主板的卡座的性能；
所述主板测试组件包含：转接板、主控设备、多功能仪表以及用于安装在所
述卡座内的模拟卡；
所述转接板包含第一转接部；所述第一转接部的一端连接于所述多功能
仪表，另一端连接于所述模拟卡；
所述主控设备连接于所述多功能仪表；所述主控设备还用于连接至所述
待测主板；
其中，当测试时，所述主控设备控制所述待测主板执行读卡命令；所述
主控设备还控制所述多功能仪表通过所述模拟卡读取测试信号，并根据所述
测试信号生成测试报告。
2.根据权利要求1所述的主板测试组件，其特征在于，所述模拟卡包
含卡本体以及由所述卡本体延伸出来的软性电路板；
所述卡本体通过所述软性电路板连接于所述第一转接部。
3.根据权利要求1所述的主板测试组件，其特征在于，所述第一转接
部包含第一信号线与至少一第二信号线；
所述第一信号线的一端连接于所述模拟卡的卡接地端，另一端连接于所
述多功能仪表的一个数据检测端；所述第二信号线的一端连接于所述模拟卡
的数据信号端，另一端连接于所述多功能仪表的另一个数据检测端。
4.根据权利要求3所述的主板测试组件，其特征在于，所述转接板还
包含至少一对地电阻；所述对地电阻连接在所述第二信号线的两端之间。
5.根据权利要求1所述的主板测试组件，其特征在于，所述转接板还
包含第二转接部；所述第二转接部至少包含第三信号线；
所述第三信号线的一端连接于所述多功能仪表的仪表地极，另一端用于
连接至所述待测主板的主板接地端。
6.根据权利要求5所述的主板测试组件，其特征在于，所述第二转接
部还包含第四信号线；
所述第四信号线的一端连接于所述多功能仪表的电源正极，另一端用于
连接至...

【专利技术属性】
技术研发人员：邵一祥，
申请(专利权)人：上海与德通讯技术有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31