一种芯片及芯片内多核的调试方法技术

本发明专利技术的技术方法提供了一种芯片及该芯片内的多核的调试方法。该芯片包括交叉触发模块和M个核；每个核包括第一接口、第二接口和第三接口，并通过第一接口和第二接口与交叉触发模块连接；第三接口用于接收从芯片外部输入的指示信号；核用于根据指示信号停止运行或开始运行的功能；第一接口用于输出表示核停止运行或开始运行的状态信号；交叉触发模块用于将M个核中第一核的第一接口输出的状态信号向M个核中除第一核外的其他核的第二接口传输；第二接口用于接收通过交叉触发模块传输的状态信号的功能；核用于根据第二接口接收的状态信号停止运行或开始运行的功能。本发明专利技术的技术方案可以满足芯片内多核间进行实时性调试的需求。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种芯片，其特征在于，包括：交叉触发模块和M个核，M为大于1的整数；每个所述核包括第一接口、第二接口和第三接口，并通过所述第一接口和第二接口与所述交叉触发模块连接；每个所述核的第三接口用于接收从所述芯片外部输入的指示所述核停止运行或开始运行的指示信号；所述核用于根据所述指示信号停止运行或开始运行；每个所述核的第一接口用于输出表示所述核停止运行或开始运行的状态信号；所述交叉触发模块用于将所述M个核中第一核的第一接口输出的状态信号向所述M个核中除第一核外的其他核的第二接口传输；每个所述核的第二接口用于接收通过所述交叉触发模块传输的所述状态信号；所述核用于根据第二接口接收的状态信号停止运行或开始运行。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：潘葆梁，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44