一体化天馈系统品质度的衡量方法技术方案

技术编号:13282444 阅读:96 留言:0更新日期:2016-07-09 00:04
本发明专利技术公开的一种一体化天馈系统品质度的衡量方法,旨在提供一种准确、快速、经济、满足产品评价需求的方法。本发明专利技术通过下述技术方案予以实现:针对一体化天馈系统产品,按组成划分成功能层或组成模块,分别列出表征其功能性能特性的技术指标,建立一体化成型天馈系统质量评价体系模型;然后针对每项指标,比对其期望值和一体化工艺成型的实测值,按照指标归一化、数据映射变换处理方法,将指标期望值和实测值之间差值转换成功能层或模块的单指标品质度;按照指标权重计算方法,由模糊一致判断矩阵求各指标的权重值及功能层和模块的权重向量,按加权和方式计算功能层和模块品质度,并以系统品质度等于各功能层品质度加权和的计算结果对天馈系统质量进行评价。

【技术实现步骤摘要】
一体化天馈系统品质度的衡量方法
本专利技术涉及一种复杂相控阵体制天馈设备的质量评价方法。
技术介绍
对于产品质量的衡量方法主要有两类:计量的方法和计数的方法。1、计量的方法。当单位产品的质量特征是连续变化时,可以采用计量的方法。或者说,凡是连续型随机变量,都可以采用计量的方法衡量单位产品的质量特征。比如,钢丝绳的抗拉强度、显象管的寿命等,都可以采用计量的方法。适用于诸如长度、重量、时间、强度、成分以及某些电参数的质量控制。2、计数的方法。凡是离散型随机变量都可以采用计数的方法。计数的方法又分为计点和计件两种。当单位产品的质量特征采用缺陷个数这种离散尺度衡量时,称为计点的方法。产品质量检验通常可分成全数检验和抽样检验两种方法。全数检验是对一批产品中的每一件产品逐一进行检验,挑出不合格品后,认为其余全都是合格品。这种质量检验方法虽然适用于生产批量很少的大型机电设备产品,但大多数生产批量较大的产品,如电子元器件产品就很不适用。产品产量大,检验项目多或检验较复杂时,进行全数检验势必要花费大量的人力和物力,同时,仍难免出现错检和漏检现象。而当质量捡验具有破坏性时,例如电视机的寿命试验、材料产品的强度试验等,全数检验更是不可能的。抽样检验是从一批交验的产品(总体)中,随机抽取适量的产品样本进行质量检验,然后把检验结果与判定标准进行比较,从而确定该产品是否合格或需再进行抽检后裁决的一种质量检验方法。过去,一般采用百分比抽样检验方法。我国也一直沿用原苏联40年代采用的百分比抽样检验方法。这种检验方法认为样本与总体一直是成比例的,因此,把抽查样本数与检查批总体数保持一个固定的比值如5%、0.5%等。可是,实际上却存在着大批严、小批宽的不合理性,也就是说,即使质量相同的产品,因检查批数量多少不同却受到不同的处理,而且随着检查批总体数量的增多,即使按一定的百分比抽样,样本数也是相当大的,不能体现抽样检验在经济性方面的优点。因此,这种抽样检验方法已被逐步淘汰。人们经过对百分比抽样检验方法的研究,获知百分比抽样检验方法不合理的根本原因是没有按数理统计科学方法去设计抽样方案。因此,逐步研究和设计了一系列建立在概率论和数理统计科学基础上的各种统计抽样检验或统计抽样检查方案,并制订成标准抽样检查方案。1949年,美国科学家道奇和罗米格首先发表了《一次抽样与二次抽样检查表》;1950年美国军用标准MIL-STD—105D是世界上有代表性的计数抽样检查方法标准;日本先后制定了JISZ9002,JISZ9015等一系列抽样检查方法标准;英国、加拿大等国也相继制订了抽检方法标准;ISO和IEC又分别制订了抽样检查方法国际标准,如ISO2859、IEC410等。实践证明,上述抽样检查方法标准应用于产品质量检验时,虽然也存在着误判的可能,即通常所说的存在着生产方风险和使用方风险,但可以通过选用合适的抽样检查方案,把这种误判的风险控制在人们要求的范围之内,符合社会生产使用的客观实际需要,因此,很快地在世界各国得到广泛推行,取代了原先的不合理的百分比抽样检验方法。我国至今已制定的抽样方法标准有:GB/T10111利用随机数骰子进行随机抽样的方法、GB/T13393抽样检查导则、GB/T6378不合格品率的计量抽样检验程序及图表(对应于ISO3951)、GB/T8051计数序贯抽样检验方案(适用于检验费用昂贵的生产上连续批产品抽样检查)、GB/T8052单水平和多水平计数连续抽样检验程序及表(适用于输送带上移动产品的检查)、GB/T8053不合格品率的计量标准型一次抽样检验程序及表、GB/T8054平均值的计量标准型一次抽样检验程序及抽样表、GB/T13262不合格品率的计数标准型一次抽样检查程序及抽样表、GB/T13263跳批计数抽样检查程序、GB/T13264不合格品率的小批计数抽样检查程序及抽样表、GB/T13546挑选型计数抽样检查程序及抽样表、GB/T14162产品质量监督计数抽样程序及抽样表、GB/T14437产品质量监督计数一次抽样检验程序及抽样方案、GB/T14900产品质量平均值的计量一次监督抽样检验程序及抽样表等标准。这些抽样方法标准分别对企业的抽样检验与国家行业与地方的质量监督抽样检验方法作出明确的规定。目前,已经形成了很多具有不同特性的抽样检查方案和体系,大致可按下列几个方面进行分类。1.按产品质量指标特性分类,衡量产品质量的特征量称为产品的质量指标。质量指标可以按其测量特性分为计量指标和计数指标两类。计量指标是指如材料的纯度、加工件的尺寸、钢的化学成分、产品的寿命等定量数据指标。计数指标又可分为计件指标和计点指标两种,前者以不合格品的件数来衡量,后者则指产品中的缺陷数,如一平方米布料上的外观疵点个数,一个铸件上的气泡和砂眼个数等等。按质量指标分类,产品质量检验的抽样检查方法也分成计数抽检和计量抽检方法两类。(1)计数抽检方法是从批量产品中抽取一定数量的样品(样本),检验该样本中每个样品的质量,确定其合格或不合格,然后统计合格品数,与规定的“合格判定数”比较,决定该批产品是否合格的方法。2)计量抽检方法是从批量产品中抽取一定数量的样品数(样本),检验该样本中每个样品的质量,然后与规定的标准值或技术要求进行比较,以决定该批产品是否合格的方法。有时,也可混合运用计数抽样检查方法和计量抽样检查方法。如选择产品某一个质量参数或较少的质量参数进行计量抽检,其余多数质量参数则实施计数抽检方法,以减少计算工作量,又能获取所需质量信息。2.按抽样检查的次数分类,按抽样检查次数可分为一次、二次、多次和序贯抽样检查方法。(1)一次抽检方法,该方法最简单,它只需要抽检一个样本就可以作出一批产品是否合格的判断。(2)二次抽检方法,先抽第一个样本进行检验,若能据此作出该批产品合格与否的判断、检验则终止。如不能作出判断,就再抽取第二个样本,然后再次检验后作出是否合格的判断。(3)多次抽检方法,其原理与二次抽检方法一样,每次抽样的样本大小相同,即n1=n2=n3…=n7,但抽检次数多,合格判定数和不合格判定数亦多。通常情况下,衡量整机电子产品质量高低的方法就是检测其达成所有指标的成功率,这种质量验收方法在其结构功能复杂、指标繁多、生产周期较长的产品质量检验中,往往不能准确、快速、经济、合理的评价对象的真实质量。特别是对于航空航天电子设备中由于轻小型化设计后要求结构功能一体化成型的天馈系统的质量评价,更是不尽合理、甚至因为中间过程参数指标的无法测试获取而无法开展质量评价,迫切需要一种基于品质度、经济、合理又满足要求的质量评价方法。电子设备产品质量是指其完成规定功能和性能的能力。电子设备生产成型后完成规定功能和性能的综合能力可采用品质度来衡量,对于天馈系统一体化成型的综合质量,从准确、快速、经济、合理的评价角度要求来看,其考察的重点是各单项性能指标影响总质量的重要性权重及其品质度。单项指标品质度定义是通过计算各性能指标理论计算值和实际测试值的相对误差,并把该相对误差通过一定的函数映射成反映质量高低的一个度量指数。产品综合质量通过系统品质度的大小来评价质量的好坏。品质度即是体现一体化成型质量好坏程度的一种度量,总的质量取决于影响其性能的各模块的质量本文档来自技高网...
一体化天馈系统品质度的衡量方法

【技术保护点】
一种一体化天馈系统品质度的衡量方法,其特征在于包括如下步骤:针对一体化天馈系统产品,首先按其组成划分成功能层或组成模块,并分别列出表征其功能性能特性的技术指标,建立一体化成型天馈系统质量评价体系模型;然后针对每项指标,比对期望值和一体化工艺成型的实测值,按照指标归一化、数据映射变换处理方法,将每项指标期望值和实测值之间差值转换成功能层或模块的单指标品质度;按指标权重计算方法,采用模糊一致判断矩阵R求各检测元素a1,a2,...,an的权重值w1,w2,...,wn,,调整所述元素a的大小,求出若干个不同的权重向量,再根据模糊层次分析法计算功能层或模块每项指标对应权重;依据已知各个指标的品质度与相对权重,计算各功能层或模块的品质度Yi,进而计算总的品质度Z,以总品质等于各功能层品质度Yi的加权和的计算结果对一体化成型天馈系统质量进行评价。

【技术特征摘要】
1.一种一体化天馈系统品质度的衡量方法,其特征在于包括如下步骤:针对一体化天馈系统产品,首先按其组成划分成功能层或组成模块,设定上一层的元素C同本层次中的元素有联系,并分别列出表征其功能性能特性的技术指标,建立一体化成型天馈系统质量评价体系模型;然后针对每项指标,比对期望值和一体化工艺成型的实测值,按照指标归一化、数据映射变换处理方法,将每项指标期望值和实测值之间差值转换成功能层或模块的单指标品质度;按指标权重计算方法,基于上一层元素与本层次与之有关元素之间相对重要性的比较,来构造模糊一致的判断矩阵R,采用模糊一致判断矩阵R求各检测元素a1,a2,...,an的权重值w1,w2,...,wn,调整所述元素a的大小,求出若干个不同的权重向量,再根据模糊层次分析法计算功能层或模块每项指标对应权重;依据已知各个指标的品质度与相对权重,计算各功能层或第i个功能模块的品质度Yi,进而计算总的品质度Z,以总品质等于各功能层品质度Yi的加权和的计算结果对一体化成型天馈系统质量进行评价。2.如权利要求1所述的一体化天馈系统品质度的衡量方法,其特征在于:一体化成型天馈系统在结构方面由射频功能层、控制与信号处理功能层及将两者进行一体化封装的封装功能层组成,其中,射频功能层完成信号的发射、接收和转换,控制与信号处理功能层完成信号的控制、分析处理和传输,封装功能层完成元器件、功能层的封装及满足一体化成型工艺要求和使用环境要求。3.如权利要求2所述的一体化天馈系统品质度的衡量方法,其特征在于:每个功能层特性由结构件的尺寸、形位公差、强度刚度指标和电路的天线增益、副瓣、极化方式、带宽电性能功能指标来表征。4.如权利要求1所述的一体化天馈系统品质度的衡量方法,其特征在于:按照指标权重计算方法,综合应用模糊层次分析法分别获取结构层或功能模块每项指标对应权重,再按照公式计算获得功能层或功能模块品质度Yi,式中,i为功能层或模块的序数、j为指标序数,Yi表示第i个功能模块的品质度,yij为第i个结构层或功能模块下的第j个指标的品质度,βij为第i个结构层或功能模块下的第j个指标的权重值。5.如权利要求1所述的一体化天馈系统品质度的衡量方法,其特征在于:针对各功能层质量品质度,运用综合应用模糊层次分析法分别获取对应功能层权重,按照公式计算获得一体化天馈系统质量总品质度Z,式中,Yi为各功能层的品质度,βi为对应功能层权重值,i为功能层序数;m代表功能层总数。6.如权利要求1所述的一体化天馈系统品质度的衡量方法,其特征在于:品质度A的计算是通过理论设计值与实际测试值之间的相对误差x,并以一定的映射关系映射来实现...

【专利技术属性】
技术研发人员:梁斌陈光达
申请(专利权)人:中国电子科技集团公司第十研究所
类型:发明
国别省市:四川;51

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