电子设备及其控制方法技术

本发明专利技术提供一种电子设备及其控制方法。触摸检测设备包括：确定单元，其被构造为基于以彼此相交的方式布置的多个电极中的各个的自电容的测量，来确定导电物体的区域；以及检测单元，其被构造为基于所述多个电极当中的、与由所述确定单元确定的导电物体的区域相对应的电极的互电容的测量，来检测导电物体，而不测量由所述确定单元确定的导电物体的区域外部的电极的互电容。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种。
技术介绍
作为电子设备，已知诸如触摸面板等的触摸检测设备。触摸检测设备能够被直观地操作，并且因此被安装在智能电话、数字摄像机、数字相机以及其他装置上。在触摸检测设备中，通常利用电容系统作为检测系统。电容系统是指如下系统:通过在触摸面板表面上彼此相交布置多个按列排列的电极和多个按行排列的电极来实施触摸检测，并测量电极之间产生的电容。此外，电容系统包括通过互电容的测量的触摸检测和通过自电容的测量的触摸检测。互电容的测量是指以下方法。将驱动脉冲施加到布置为彼此相交的电极中的一个，当使导电物体(例如手指)接触时的另一个电极的电流改变量被测量为电容改变量，从而检测触摸。在互电容的测量中，当测量电容改变量时的每个电极的电容改变量是微小的。因此，通常，基于由预定次数的积分而获得的电容改变量来检测触摸。自电容的测量是指以下方法。布置为彼此相交的电极中的一个被固定为具有预定电位，并且驱动脉冲被施加到另一个电极。当使导电物体(例如手指)接触时在驱动脉冲施加侧的电极的电流改变量被测量为电容改变量，从而检测触摸。在互电容的测量中，测量在电极彼此相交的相交处的电容改变值。在自电容的测量中，测量一个电极和另一个电极的成对的电容改变值。因此，通过自电容的测量的触摸检测具有检测灵敏度提高的特征，并且通过互电容的测量的触摸检测具有检测位置精度提高的特征。然而，在任何测量方法中，基于当将驱动脉冲施加到各个电极时获得的电流积分量来测量电容改变，并且针对各个扫描复位通过电流积分而获得的电荷，这导致消耗无效电力的问题。特别地，电极的数量因触摸面板的尺寸增大而增大，因此电力消耗进一步增大。为了解决这种问题，在日本特开2009-116849号公报中，公开了如下输入设备:电阻输入部被设置为不实施输入检测的待机状态，直到检测到与电容输入部的接触，并且响应于与电容输入部的接触而被转换到实施输入检测的操作状态。然而，日本特开2009-116849号公报的输入设备要求电阻输入部和电容输入部的电极结构，这导致复杂的结构而增加成本。此外，触摸面板的透射率降低。
技术实现思路
鉴于上述问题做出本专利技术，并且本专利技术的目的是提供一种能够通过使用彼此相交布置的多个电极来降低当实施触摸检测时的电力消耗的电子设备等。根据本专利技术的一个实施例，提供一种电子设备，所述电子设备包括:确定单元，其被构造为基于彼此相交布置的多个电极中的各个的自电容的测量，来确定导电物体的区域；以及检测单元，其被构造为基于所述多个电极当中的、与由所述确定单元确定的所述导电物体的区域相对应的电极的互电容的测量，来检测所述导电物体，而不测量由所述确定单元确定的所述导电物体的区域外部的电极的互电容。根据本专利技术的一个实施例，可以降低当实施触摸检测时的电力消耗。从以下参照附图对示例性实施例的描述，本专利技术的其他特征将变得清楚。【附图说明】被并入说明书中并构成说明书的一部分的附图例示了本专利技术的示例性实施例、特征以及方面，并与文字描述一起用来解释本专利技术的原理。图1是用于例示触摸检测设备的结构的框图。图2A和图2B是用于例示自电容测量的操作的图。图3是用于例示互电容测量的操作的图。图4A和图4B是用于例示根据本专利技术的第一实施例的自电容测量的处理的图。图5是用于例示根据第一实施例的互电容测量的处理的图。图6是用于例示触摸检测设备的处理的流程图。图7A和图7B是用于例示根据本专利技术的第二实施例的自电容测量的处理的图。图8是用于例示根据本专利技术的第三实施例在第一帧中实施自电容测量的状态的图。图9是用于例示根据第三实施例在第一帧中实施互电容测量的状态的图。图10是用于例示根据第三实施例在第二帧中实施自电容测量的状态的图。图11是用于例示根据本专利技术的第四实施例在第一帧中实施自电容测量的状态的图。图12是用于例示根据第四实施例在第一帧中实施互电容测量的状态的图。图13是用于例示根据第四实施例在第二帧中实施自电容测量的状态的图。图14A和图14B是用于例示根据第四实施例在第二帧中由互电容测量获取电容改变量的电极的图。【具体实施方式】现在，参照附图对用作根据本专利技术的示例性实施例的电子设备的触摸检测设备100进行说明。首先，参照图1对各个实施例中共同的触摸检测设备100的结构进行描述。图1是用于例示整个触摸检测设备100的结构的框图。触摸检测设备100包括触摸检测控制部101、电极部102、驱动脉冲施加部103、电容测量部104以及AD转换选择器部105。触摸检测控制部101包括CPU 106、驱动脉冲控制部107、测量控制部108、AD转换部109、触摸检测部110、导体区域确定部111、坐标计算部112以及通信部113。此外，触摸检测控制部101包括划分控制部114、导电物体移动确定部115、ROM 116以及RAM 117。CPU 106是被构造为控制整个触摸检测设备100的中央处理单元。CPU 106执行ROM 116中存储的程序，从而控制触摸检测控制部101的每个硬件来实现稍后描述的流程图的处理。驱动脉冲控制部107生成用于施加到电极部102的驱动脉冲、用于测量电容的电压或电流以及用于将驱动脉冲施加到各个电极的定时信号。驱动脉冲控制部107基于所生成的定时信号经由驱动脉冲施加部103将驱动脉冲施加到所有电极。驱动脉冲施加部103是被构造为将驱动脉冲单独地逐一施加到所有电极的开/关(0N/0FF)电路。具体而言，驱动脉冲施加部103基于由驱动脉冲控制部107生成的定时信号来实施将驱动脉冲施加到所有电极的切换控制。驱动脉冲施加部103对应于施加单元的示例。在这种情况下，电极部102包括多个彼此相交布置的电极。本实施例的电极部102包括排列在一个方向上的多个行电极102X，和排列在与所述一个方向相交的方向上的多个列电极102Y。图1是7个行电极102X(电极Xl至电极X7)和11个列电极102Y(电极Yl至电极Yll)彼此正交的示例。电容测量部104是用于测量电容的电路。电容测量部104累积，由驱动脉冲控制部107生成的电压或电流将驱动脉冲施加到的电极和与其相对的电极之间产生的电容，作为电荷量，并且将电容转换成电压。电容测量部104基于驱动定时能够测量所有电极的电容。电容测量部104包括充当累加单元的累加电路，所述累加单元被构造为针对各个电极累积电容。测量控制部108是用于控制电容测量部104的各个累加电路的开/关的电路。测量控制部108断开与针对各个驱动定时不需要测量的电极相对应的电容测量部104的累加电路，从而降低电力消耗。AD转换部109经由AD转换选择器部105针对各个电极将电容测量部104中累积的电压转换成数字数值。AD转换部109基于所转换的数值针对各个电极计算电容改变量，并将计算出的电容改变量与各个电极相关联地存储在RAM 117等中。在本实施例中，针对各个行电极102Χ和各个列电极102Υ形成驱动脉冲施加部103、电容测量部104以及AD转换选择器部105。具体而言，驱动脉冲施加部103包括与行电极102Χ相对应的驱动脉冲施加部103Χ，和与列电极102Υ相对应的驱动脉冲施加部103Υ。电容测量部104包括与行电极102Χ相对应的电容测量部104Χ，和与列电极102Υ相对应的电容本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子设备，所述电子设备包括：确定单元，其被构造为基于以彼此相交的方式布置的多个电极中的各个的自电容的测量，来确定导电物体的区域；以及检测单元，其被构造为基于所述多个电极当中的、与由所述确定单元确定的所述导电物体的区域相对应的电极的互电容的测量，来检测所述导电物体，而不测量由所述确定单元确定的所述导电物体的区域外部的电极的互电容。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：田中友章，中尾邦久，
申请(专利权)人：佳能株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP