一种电源的老化测试电路制造技术

一种电源的老化测试电路，涉及电源老化测试技术领域，其结构包括方波发生器，所述方波发生器的输入端接有RC振荡电路，所述方波发生器的输出端接有控制电路，所述控制电路包括可控硅二极管，所述可控硅二极管导通则输入至待测电源的电压接通至待测电源，所述可控硅二极管截止则输入至待测电源的电压与待测电源断开，这样通过方波发生器和可控硅二极管来实现电源老化测试时的输入电压的通断控制，则可避免使用交流接触器而产生的可能导致开关电源在输入的整流部分烧坏的情况发生，电路结构简单，可实现电源的老化测试安全进行，测试时对电源的损坏小。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电源老化测试
，特别是涉及一种电源的老化测试电路。
技术介绍
在电源领域里，电源出厂前都需要做老化测试，老化测试一般有三种方式。第一种方式是正常老化:将电源直接带载通电老化。电源不间断持续工作时间在一个月以上，不出故障，没有烧毁现象，各项参数稳定，则视为合格。第二种方式是间歇性老化:将电源带载间歇性通电老化测试，电源在带负载的情况下，不停的通电和断电，测试电源的抗冲击性能。老化时间一个月以上，不出故障，没有烧毁现象，各项参数稳定，则视为合格。第三种方式是加速老化:将电源放置于高温试验箱内带负载长期工作，检验其各项性能是否稳定。在开关电源的输出都带有负载的情况下，常用间歇性老化测试，即输入电压通断测试，通常是用时间继电器来控制一个交流接触器来达到输入电压的通断控制，但是，交流接触器是机械开关，在通断过程中，触点都会出现抖动的现象，可能导致开关电源在输入的整流部分烧坏，对开关电源的影响较大。
技术实现思路
本专利技术的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种电源的老化测试电路，该电源的老化测试电路的电路结构简单，可实现电源的老化测试安全进行，测试时对电源的损坏小。本专利技术的目的通过以下技术方案实现: 提供一种电源的老化测试电路，包括方波发生器，所述方波发生器的输入端接有RC振荡电路，所述方波发生器的输出端接有用于根据方波发声器的输出来控制输入至待测电源的电压是否接通至待测电源的控制电路，所述控制电路包括可控硅二极管。所述RC振荡电路为能够改变振荡频率的RC振荡电路。能够改变振荡频率的RC振荡电路为能够改变参与振荡的电阻阻值的RC振荡电路。所述能够改变参与振荡的电阻阻值的RC振荡电路包括拨码开关和电阻阵列，所述拨码开关用于控制电阻阵列接入至RC振荡电路的电阻值。所述拨码开关包括至少两个并联的子开关，每个子开关的同一侧分别串接电阻阵列的一个电阻。所述方波发生器是型号为LM555的方波发生器。所述拨码开关包括并联的第一子开关、第二子开关和第三子开关，所述RC振荡电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻和第一电容，所述第一电阻接于LM555方波发生器的RESET引脚和DISCH引脚之间，所述第二电阻通过第一子开关接于LM555方波发生器的RESET引脚和DISCH引脚之间，所述第三电阻通过第二子开关接于LM555方波发生器的RESET引脚和DISCH引脚之间，所述第四电阻通过第三子开关接于LM555方波发生器的RESET引脚和DISCH引脚之间，所述第五电阻接于LM555方波发生器的TRIG引脚和DISCH引脚之间，LM555方波发生器的TRIG引脚和THRES引脚连接，所述第一电容接于LM555方波发生器的TRIG引脚和地之间，直流电源经所述拨码开关加至所述RC振荡电路。所述控制电路还包括开关管、变压器、初级整流器和次级整流器，方波发生器输出高电平，则开关管导通，直流脉动电源通过变压器、初级整流器、可控硅二极管与地形成回路，进而变压器产生电动势，其次级输出通过次级整流器整流后，将电压加到可控硅二极管的控制极上，可控硅二极管导通，使得输入至待测电源的电压接通至待测电源，方波发生器输出低电平，则开关管不导通，直流脉动电源通过变压器、整流器、可控硅二极管无法与地形成回路，可控硅二极管不导通，使得输入至待测电源的电压无法接通至待测电源。所述控制电路还包括第三电容、第四电容、第五电容、第七电阻、第八电阻、作为初级整流器的第一整流二极管和作为次级整流器的第二整流二极管，所述开关管为场效应管，所述场效应管的栅极接所述LM555方波发生器的OUT引脚，场效应管的源极接地，直流脉动电源经依次变压器的初级和第二整流二极管整流后接至场效应管的漏极，变压器的次级依次经第一整流二极管整流后接至第四电容，可控硅二极管的控制极接至第一整流二极管和第四电容之间的接点，第七电阻接于可控硅二极管的控制极和阴极之间，第五电容和第八电阻串联后接于可控硅二极管的阳极和阴极之间，可控硅二极管的阳极接输入至待测电源的电压，可控硅二极管的阴极用于接待测电源。所述控制电路还包括第三电容和第六电阻，所述第三电容接于所述场效应管的栅极和源极之间，所述第六电阻接于所述场效应管的栅极和源极之间。所述LM555方波发生器的Vcc引脚接所述直流电源。本专利技术的有益效果: 本专利技术的一种电源的老化测试电路，包括方波发生器，所述方波发生器的输出端接有用于根据方波发声器的输出控制输入至待测电源的电压是否接通至待测电源的控制电路，所述控制电路包括可控硅二极管，方波发生器用于产生控制可控硅二极管是否导通的高低电平，可控硅二极管是否导通决定输入至待测电源的电压是否接通至待测电源，本专利技术突破了电源老化测试的常规电路(即利用时间继电器和交流接触器)，将方波发生器巧妙地应用到电源的老化测试领域，通过方波发生器和可控硅二极管的有机结合来实现电源老化测试时的输入电压的通断控制，可控硅二极管属于电子开关，则可避免使用时间继电器和交流接触器等机械开关而产生的可能导致开关电源在输入的整流部分烧坏的情况发生，电路结构简单，可实现电源的老化测试安全进行，测试时对电源的损坏小。本专利技术的RC振荡电路为能够改变振荡频率的RC振荡电路，这样就可根据实际需要对方波发生器的输出电平的翻转时间进行选择，适用范围更广。本专利技术的能够改变振荡频率的RC振荡电路为能够改变参与振荡的电阻阻值的RC振荡电路，其包括拨码开关和电阻阵列，所述拨码开关用于控制电阻阵列接入至RC振荡电路的电阻值，电路结构简单，方便操作。【附图说明】利用附图对专利技术作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本专利技术的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。图1是本专利技术的一种电源的老化测试电路的电路示意图。【具体实施方式】结合以下实施例对本专利技术作进一步描述。本实施例的一种电源的老化测试电路，包括方波发生器，所述方波发生器的输入端接有能够改变振荡频率的RC振荡电路，所述方波发生器的输出端接有用于根据方波发声器的输出控制输入至待测电源的电压是否接通至待测电源的控制电路。所述能够改变振荡频率的RC振荡电路为能够改变参与振荡的电阻阻值的RC振荡电路，包括拨码开关和电阻阵列，所述拨码开关用于控制电阻阵列接入至RC振荡电路的电阻值。所述方波发生器是型号为LM555的方波发生器，当然，也可使用其他型号的方波发生器。具体的，如图1所示，所述拨码开关Kl包括并联的第一子开关、第二子开关和第三子开关，所述RC振荡电路包括第一电阻R8、第二电阻R3、第三电阻R4、第四电阻R1、第五电阻R4和第一电容Cl，所述第一电阻R8接于LM555方波发生器Ul的RESET引脚和DISCH引脚之间，所述第二电阻R3通过第一子开关接于LM555方波发生器Ul的RESET引脚和DISCH引脚之间，所述第三电阻R2通过第二子开关接于LM555方波发生器Ul的RESET引脚和DISCH引脚之间，所述第四电阻Rl通过第三子开关接于LM555方波发生器Ul的RESET引脚和DISCH引脚之间，所述第五电阻R4接于LM555方波发生器Ul的TRIG引脚和DISCH引脚之间，LM555方波发生器Ul的TRI本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电源的老化测试电路，其特征在于：包括方波发生器，所述方波发生器的输入端接有RC振荡电路，所述方波发生器的输出端接有控制电路，所述控制电路包括可控硅二极管，所述可控硅二极管导通则输入至待测电源的电压接通至待测电源，所述可控硅二极管截止则输入至待测电源的电压与待测电源断开。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：贾芳，
申请(专利权)人：易事特集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44