天线反射面表面精度的测量装置制造方法及图纸

技术编号:13269222 阅读:136 留言:0更新日期:2016-05-18 19:20
本发明专利技术公开了一种天线反射面表面精度的测量装置,包括:固定座,用于安装固定待测天线反射面;检测机构,所述检测机构相对所述固定座设置,用于对安装固定于所述固定座的待测天线反射面上至少一组测试点的表面平整度相应进行测量。通过上述实施方式,其结构简单,能够同步且自动的一次性精确测量天线反射面上多个测试点的表面平整度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及天线
,尤其涉及一种天线反射面表面精度的测量装置
技术介绍
天线是无线电波的发射与接收装置。天线的用途很广泛,只要利用电磁波来传递信息的地方都要用到天线,如广播、电视、遥感玩具、手机通信、无线上网、物流快递跟踪服务、电子对抗等等。因天线面的精度直接影响天线的方向图,制约着天线的口面效率和增益,直接决定天线反射面的最短工作波长。抛物面天线反射面是将微小的卫星信号聚集起来,它的精度直接影响对卫星信号的聚集效果。而抛物面天线的核心构件是反射面,反射面的机械精度是结构设计的核心,直接影响天线的电气性能。 为保证抛物面天线工作时电气性能可靠,需要对其反射面的精度进行检测。传统方法中,通常通过将标准曲线样板固定在反射面,并使其旋转对称轴与反射面的旋转对称轴吻合,该样板与反射面的距离沿法线方向测出,具体采用人工方式将一定精度的测量尺插入样板与反射面之间的缝隙,当能够插入时进行人工记录,进而大致测量出天线反射面相应位置的精度。该方式需要采用人工测量及记录,当测量点较多时,测量的工作量较大,容易漏检且测量精度低,导致效率低下且检测不可靠,将影响后续对该天线反射面的使用。
技术实现思路
本专利技术为解决上述技术问题提供一种天线反射面表面精度的测量装置,其结构简单,能够同步且自动的一次性精确测量天线反射面上多个测试点的表面平整度。为解决上述技术问题,本专利技术提供一种天线反射面表面精度的测量装置,包括:固定座,用于安装固定待测天线反射面;检测机构,所述检测机构相对所述固定座设置,用于对安装固定于所述固定座的待测天线反射面上至少一组测试点的表面平整度相应进行测量。进一步地,所述检测机构包括支撑板及安装于所述支撑板上的至少一组位移传感器,每个所述位移传感器分别对应一个测试点测量。进一步地,所述支撑板数量至少为一块,所述支撑板的形状与所述待测天线反射面最大口径的纵截面的形状相匹配,各所述位移传感器沿所述支撑板的底部曲线安装,其中,所述位移传感器是电子百分表或电子千分表。进一步地,所述测量装置包括升降机构,所述检测机构与所述固定座可在升降机构的驱动下靠近或分离。进一步地,所述升降机构包括步进电机和滚珠丝杠副,所述滚珠丝杠副包括丝杠和套设于所述丝杠上的螺母滑块,所述螺母滑块连接于所述支撑板一端,所述步进电机的转子连接于所述丝杠一端,所述步进电机驱动所述丝杠转动可转换为所述螺母滑块在所述丝杠上的直线运动,进而带动所述支撑板升降。进一步地,所述固定座是定心底座,所述定心底座包括安装盘、凸起设置于所述安装盘中央的环形台阶以及设置于所述环形台阶中央的轴向伸缩机构,所述环形台阶侧壁沿圆周方向均匀设置有多个贯通孔,所述贯通孔中相应穿设有机械手指,所述机械手指一端抵接所述轴向伸缩机构并可在所述轴向伸缩机构的驱动下径向伸出所述贯通孔。进一步地,所述轴向伸缩机构包括一气缸或一液压栗,还包括顶端呈斜面的传动杆,所述传动杆顶端抵接所述机械手指一端,所述气缸或所述液压栗的活塞杆连接所述传动杆的底端,活塞杆伸出时所述传动杆顶端的斜面逐步挤压所述机械手指以使其径向伸出;所述测量机构包括一限制所述支撑板压合至所述待测天线反射面的限位机构,其中,所述限位机构包括设置于所述环形台阶内壁的限位板和设置于所述支撑板底部中央的限位块。进一步地,所述测量装置包括转动机构,所述检测机构与所述定心底座可在所述转动机构的驱动下相对转动。进一步地,所述定心底座还包括套筒和转轴;转动机构包括步进电机和传动带;所述转轴部分插入所述套筒内、部分穿出所述套筒外,所述安装盘和所述环形台阶设置于所述转轴穿出所述套筒外部分的顶端,所述步进电机的转子通过所述传动带连接至所述转轴穿出所述套筒外部分,其中,所述转轴与所述套筒之间设置有滚珠。进一步地,所述测量装置包括可作为所述待测天线反射面测量参照面的归零板,其中,所述归零板的形状与所述待测天线反射面最大口径的纵截面的形状相匹配,所述归零板至少对应于待测天线反射面上测试点的表面平整度为零,进而用于对各所述位移传感器的初始值进行调零。本专利技术实施方式的天线反射面表面精度的测量装置,其具有如下有益效果:通过设置固定座及检测机构,将待测天线反射面固定至固定座后,该检测机构即对待测天线反射面上至少一组测试点的表面平整度进行测量,能够自动地、同步且一次性精确测量天线反射面上多个测试点的表面平整度,其结构简单,测量效率高,且测量结果可靠性得到极大【附图说明】图1是本专利技术天线反射面表面精度的测量装置实施方式的剖示图。图2是图1所示测量装置中支撑板一俯视结构示意图。图3是图1所示测量装置中支撑板另一侧视结构示意图。图4是图1所示测量装置中固定座的俯视图。图5是图1所示测量装置中检测机构与固定座的配合结构放大图。图6是本专利技术天线反射面表面精度的测量装置另一实施方式的电路结构图。【具体实施方式】下面结合附图和实施方式对本专利技术进行详细说明。请参阅图1,本专利技术实施方式的天线反射面表面精度的测量装置,用于对天线反射面表面精度进行测量,具体通过测量天线反射面表面平整度实现表面精度的测量。该测量装置包括:机架I及安装于机架I上的固定座2和检测机构3。其中,固定座2,用于安装固定待测天线反射面4 ;检测机构3,检测机构3相对固定座2设置,用于对安装固定于固定座2的待测天线反射面4上至少一组测试点的表面平整度相应进行测量,换言之,即测量测试点的表面相对高度。在具体应用实施方式中,检测机构3包括支撑板31及安装于该支撑板31上的至少一组测距传感器。其中,测距传感器可以是距离传感器和位移传感器32,由于需要测量的是天线反射面表面的精度,需要精度更高,进而优选位移传感器32测量。通常,一组位移传感器32包括多个位移传感器32,每个位移传感器32分别对应一个测试点的表面平整度进行测量。在一较佳实施方式中,支撑板31数量至少为一块,支撑板31的形状与待测天线反射面4最大口径的纵截面的形状相匹配,各位移传感器32沿支撑板31的底部曲线安装,使用时,只需要转动该支撑板31,就可以对待测天线反射面4上任一条最大口径的纵截面上的测试点进行测量,兼顾了结构简单和成本低廉的优势。该实施方式中,至少能够一次性且同步地对该待测天线反射面4上一条抛物线上的多个测试点的表面平整度进行测量,全自动操作、简单精确,可靠性非常高。其中,位移传感器32可采用非接触式位移传感器利用声光等原理当前第1页1 2 3 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种天线反射面表面精度的测量装置,其特征在于,包括:固定座,用于安装固定待测天线反射面;检测机构,所述检测机构相对所述固定座设置,用于对安装固定于所述固定座的待测天线反射面上至少一组测试点的表面平整度相应进行测量。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:窦华土张君赵李刚阳恩主周亦恒
申请(专利权)人:广东通宇通讯股份有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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