按压检测装置和按压检测触摸面板制造方法及图纸

一种按压检测装置，其具有：被加压构件，所述被加压构件具有接触面，所述接触面通过与加压机构接触而被施加压力；高分子压电构件，所述高分子压电构件被配置在上述被加压构件的与上述接触面相反的一侧，在25℃下利用应力－电荷法测得的压电常数d14为1pC/N以上；固化性树脂层，所述固化性树脂层包含选自常温固化性树脂、热固性树脂和活性能量射线固化树脂中的至少一种，以与上述高分子压电构件的表面的至少一部分接触的方式配置；以及，电极，所述电极以与上述高分子压电构件的表面和上述固化性树脂层的表面的至少一部分接触的方式配置。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及按压检测装置和按压检测触摸面板。
技术介绍
作为压电材料，以往多使用作为陶瓷材料的PZT(PbZr〇3-PbTi〇3系固溶体），但由 于PZT含有铅，所以逐渐使用了环境负担小、且富于柔软性的高分子压电构件。 目前已知的高分子压电构件为以尼龙11、聚氟乙烯、聚氯乙烯、聚脲、聚偏二氟乙 烯(β型）（PVDF)、和偏二氟乙烯一三氟乙烯共聚物(P(VDF-TrFE))(75/25)等为代表的极化 型高分子。 近年来，除了上述的高分子压电构件以外，还着眼于使用多肽、聚乳酸等具有光学 活性的高分子。已知聚乳酸类高分子仅通过机械性的拉伸操作即呈现压电性。 在具有光学活性的高分子中，聚乳酸这样的高分子结晶的压电性是由存在于螺旋 轴方向的C = 0键的永久偶极子所产生的。尤其是，对于聚乳酸而言，侧链相对于主链的体积 分率小，每单位体积的永久偶极子的比例大，即使在具有螺旋手性的高分子中，也可以说是 理想的高分子。 已知仅通过拉伸处理即呈现压电性的聚乳酸不需要极化处理，压电系数历经数年 而不减少。 作为包含聚乳酸的高分子压电构件，报道了由于具有聚乳酸、所以压电常数d14大、 透明性优异的高分子压电构件（例如，参照日本专利第4934235号公报、国际公开第2010/ 104196号）。 作为将聚乳酸类高分子用作高分子压电构件的装置，例如，提出了具有由聚乳酸 制作的压电片材的按压检测触摸面板(例如，参照国际公开第2010/143528号、国际公开第 2011/125408号、国际公开第2012/049969号、国际公开第2011/138903号）。按压检测触摸面 板不仅能检测触摸面板上的二维位置信息，而且能检测按压到触摸面板面的压力，因此，可 将触摸面板的操作方法扩展至三维。
技术实现思路
专利技术所要解决的课题 对于能够在按压检测触摸面板的构成构件即按压检测装置(压电设备的一例）中 应用的高分子压电构件而言，对热敏感，有时在温度的作用下而发生变形?改性。尤其是， 对于高分子压电构件而言，为了呈现压电性，需要使分子链在一个方向上取向，因此，与一 般的双轴拉伸膜相比，因热而导致的向一个方向的变形非常大，在实际应用于按压检测装 置时，存在以下记载的课题，这通过本专利技术的专利技术人们的研究已然明确。 此处，对于按压检测装置而言，从在按压检测装置内的高分子压电构件周边形成 的电极导出电信号时，例如，有时使用与该电极电连接的引出电极。而且，为了使引出电极 与上述电极导通，需要使用ACF(各向异性导电膜)等、向两电极间施加高热。 因此，当将高分子压电构件应用于电极周边时，高分子压电构件可能在连接引出 电极的热的作用下发生变形?改性。 虽然也可在高分子压电构件的连接电极的相反面上配置抑制变形的增强板(玻璃 钢板、聚酰亚胺等），但抑制变形·改性的效果不充分。 另外，在高分子压电材料周边形成的电极有时根据目的而形成为精密的电极图 案。该情况下，在连接引出电极的热、在其他触摸面板制造工序中的热的作用下，高分子压 电构件发生变形?变化，精密的电极图案的位置产生偏移，或电极无法追从高分子压电构 件的变形?变化，而发生破损，由此导致设备无法正常发挥功能。 因此，对于应用高分子压电构件的按压检测装置来说，例如，考虑到上述那样的施 加高热的情况，需要在耐热性较高的聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)、聚碳酸酯(PC)、聚乙烯 醇（PVA)、环烯烃聚合物(C0P)、聚甲基丙烯酸甲酯（PMMA)、三乙酰纤维素（TAC)、聚酰亚胺 (PI)等膜、玻璃等基材上形成电极、接着将形成有电极的基材与高分子压电构件粘接而制 造。 然而，该情况下，需要形成层叠体(在PET等膜、玻璃等基材上形成有电极)的工序， 因此，按压检测装置的制造工序变得复杂。 另外，由于包括PET等膜、玻璃等基材、粘接层，所以按压检测装置变厚，另外由此 导致在要求透明性的用途中存在光学特性变差这样的问题。 因此，鉴于上述情况，本专利技术的目的在于提供一种制造工序简单、并且厚度薄的按 压检测装置。 用于解决课题的手段 本专利技术人发现，在按压检测装置中，通过在规定的位置配置固化性树脂层，可提供 一种制造工序简单、并且厚度薄的按压检测装置，基于上述见识而完成了本专利技术。 即，用于解决上述课题的具体手段如下所述。 <1>一种按压检测装置，其具有： 被加压构件，所述被加压构件具有接触面，所述接触面通过与加压机构接触而被 施加压力； 高分子压电构件，所述高分子压电构件被配置在上述被加压构件的与上述接触面 相反的一侧，在25°C下利用应力一电荷法测得的压电常数d 14为lpC/N以上； 固化性树脂层，所述固化性树脂层包含选自常温固化性树脂、热固性树脂和活性 能量射线固化树脂中的至少一种，以与上述高分子压电构件的表面的至少一部分接触的方 式配置；以及 电极，所述电极以与上述高分子压电构件的表面和上述固化性树脂层的表面的至 少一部分接触的方式配置。 <2>如<1>所述的按压检测装置，其中，上述固化性树脂层包含羰基，并且包含 三维交联结构。 <3>如<1>或<2>所述的按压检测装置，其中，具有位置检测构件。 <4>如<1>~<3>中任一项所述的按压检测装置，其中，在上述被加压构件与 上述高分子压电构件之间，配置有粘接层。 <5>如<3>所述的按压检测装置，其中，在上述位置检测构件与上述高分子压 电构件之间，配置有粘接层。 <6>如< 1 >~<5>中任一项所述的按压检测装置，其中，上述高分子压电构件 的重复单元结构具有选自羰基和氧基中的至少1种官能团。 <7>如<1>~<6>中任一项所述的按压检测装置，其中，上述高分子压电构件 包含重均分子量为5万~100万的具有光学活性的螺旋手性(helical chiral)高分子，利用 微波透过型分子取向计测定的将基准厚度设定为50μπι时的标准化分子取向MORc为2.0~ 10.0，相对于可见光的内部雾度为50%以下，并且，上述标准化分子取向MORc与上述高分子 压电构件的利用DSC法测得的结晶度的积为25~700。 <8>如<7>所述的按压检测装置，其中，上述内部雾度为5%以下。 <9>如<7>或<8>所述的按压检测装置，其中，上述内部雾度为2.0%以下。 <10>如<7>~<9>中任一项所述的按压检测装置，其中，上述内部雾度为 1.0%以下。 <11>如<7>所述的按压检测装置，其中，上述螺旋手性高分子为聚乳酸类高分 子，该聚乳酸类高分子具有包含下述式(1)所表示的重复单元的主链。 <12>如<7>或<11>所述的按压检测装置，其中，上述螺旋手性高分子的光学 纯度为95.00%ee以上。 <13>如<7>、<11>和<12>中任一项所述的按压检测装置，其中，对于本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种按压检测装置，其具有：被加压构件，所述被加压构件具有接触面，所述接触面通过与加压机构接触而被施加压力，高分子压电构件，所述高分子压电构件被配置在所述被加压构件的与所述接触面相反的一侧，在25℃下利用应力－电荷法测得的压电常数d14为1pC/N以上，固化性树脂层，所述固化性树脂层包含选自常温固化性树脂、热固性树脂和活性能量射线固化树脂中的至少一种，以与所述高分子压电构件的表面的至少一部分接触的方式配置，和电极，所述电极以与所述高分子压电构件的表面和所述固化性树脂层的表面的至少一部分接触的方式配置。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：谷本一洋，吉田光伸，西川茂雄，安藤正道，加纳英和，
申请(专利权)人：三井化学株式会社，株式会社村田制作所，
类型：发明
国别省市：日本;JP