电平检测电路制造技术

技术编号:13221906 阅读:82 留言:0更新日期:2016-05-13 02:22
本实用新型专利技术涉及电路检测领域,公开了一种电平检测电路,该电路包括:继电器,待检测电平输入至继电器的控制端;以及第一发光二级管,该第一发光二级管的正极与所述继电器的常开触点连接,该第一发光二级管的负极接地,在所述第一发光二级管亮的情况下,判断所述待检测电平为高电平,在所述第一发光二级管不亮的情况下,判断所述待检测电平为低电平。在电平检测电路中通过发光二极管的亮与不亮就能够直观的检测出电平高低,并且检测电路简单便携。

Level detecting circuit

The utility model relates to a circuit detection field, discloses a level detection circuit, the circuit includes a relay control terminal to be detected level input to the relay; and the first light emitting two tubes, normally open contact is connected with the first light emitting cathode tube and the two stage of the relay, the first light emitting cathode two the ground in the first light emitting two tubes, judging the detected level is high in the first light tube two does not illuminate, judging whether the detected level is low. In the level detection circuit, the level can be directly detected by the light and the brightness of the light emitting diode, and the detection circuit is simple and portable.

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电路检测领域,具体地,涉及一种电平检测电路
技术介绍
随着电子电路的广泛应用,在某些情况下需要检测某些专用线路的高低电平,但一般的检测电路只能检测特定电压下的高低电平,超出一定电压范围就会损毁电路,少有的检测设备结构较为复杂并且较为昂贵。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种电平检测电路,该电平检测电路能够简单方便并直观的检测出电平高低。为了实现上述目的,本技术提供一种电平检测电路,该电路包括:继电器,待检测电平输入至继电器的控制端;以及第一发光二级管,该第一发光二级管的正极与所述继电器的常开触点连接,该第一发光二级管的负极接地,在所述第一发光二级管亮的情况下,判断所述待检测电平为高电平,在所述第一发光二级管不亮的情况下,判断所述待检测电平为低电平。优选地,所述电路还包括:第二发光二级管,该第二发光二级管的正极与所述继电器的常闭触点连接,该第二发光二级管的负极接地,在该第二发光二级管亮的情况下,判断所述待检测电平为低电平。优选地,所述电路还包括:第一电阻,与所述第一发光二级管串联。优选地,所述电路还包括:第二电阻,与所述第二发光二级管串联。优选地,所述电路还包括:电源,该电源的正极与所述继电器的公共端相连接,负极接地。优选地,所述电路还包括:电解电容和瓷片电容,该电解电容与瓷片电容并联后与所述电源并联,用于滤除高频干扰信号。优选地,所述电源由两个干电池串联组成。优选地,所述继电器为固态继电器。优选地,所述第一发光二级管为贴片发光二极管。优选地,所述第二发光二级管为贴片发光二极管。通过上述技术方案,利用继电器和发光二极管组成电平检测电路,通过发光二极管的亮与不亮就能够直观的检测出电平高低,并且检测电路简单便携。本技术的其它特征和优点将在随后的【具体实施方式】部分予以详细说明。【附图说明】附图是用来提供对本技术的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与下面的【具体实施方式】一起用于解释本技术,但并不构成对本技术的限制。在附图中:图1示出了本技术所提供的电平检测电路的连接图;以及图2示出了本技术一实施方式的电平检测电路的连接图。附图标记说明10 电源20 继电器Cl 电解电容C2 瓷片电容LEDl第一发光二极管 LED2第二发光二极管Rl 第一电阻R2 第二电阻【具体实施方式】以下结合附图对本技术的【具体实施方式】进行详细说明。应当理解的是,此处所描述的【具体实施方式】仅用于说明和解释本技术,并不用于限制本技术。图1示出了本技术所提供的电平检测电路的连接图。如图1所示,本技术提供一种电平检测电路,该电路可以包括:继电器20,待检测电平输入至继电器20的控制端8;以及第一发光二级管LEDl,该第一发光二级管LEDl的正极与所述继电器20的常开触点4连接,该第一发光二级管LEDl的负极接地,在所述第一发光二级管LEDl亮的情况下,可以判断所述待检测电平为高电平,在所述第一发光二级管LEDl不亮的情况下,判断所述待检测电平为低电平。优选地,电平检测电路还可以包括:第一电阻Rl,与第一发光二级管LEDl串联,对第一发光二级管LEDl进行限流保护,防止第一发光二级管LEDl烧毁。进一步参考图1,电平检测电路还可以包括电源10,将电源10的正极连接至继电器20的公共端3,负极接地。在测量电平时,将被测量电路的地与电平检测电路的地连接。这里所检测处的高电平或低电平是相对继电器20的内部导通电压相关,例如,继电器20的内部导通电压为2V,若待检测电平高于2V则继电器20导通,常开触点4关闭,第一发光二级管LEDl,则待检测电平为高电平,相反,待检测电平为低电平。图2示出了本技术一实施方式的电平检测电路的连接图。如图2所示,在该实施方式中,电平检测电路可以包括:继电器20,第一发光二级管LED1、第二发光二极管LED2、电源10。具体连接时,将电源10的正极连接至继电器20的公共端3,负极接地;将第一发光二级管LEDl正极连接至继电器20的常开触点4,负极接地;第二发光二极管LED2正极连接至继电器20的常闭触点,负极接地;将继电器20的触点I接地。将被测量电路的地与电平检测电路的地连接,将待检测电平连接至继电器20的控制端8,打开电源10,如果第一发光二级管LEDl亮,则表示待检测电平为高电平,如果第二发光二极管LED2亮,则表示待检测电平为低电平。此外,在继电器20的控制端8悬空时,打开电源10,第二发光二极管LED2也将亮。进一步地,在该实施方式中,电平检测电路还可以包括:第一电阻Rl和第二电阻R2,第一电阻Rl和第二电阻R2的阻值可以为20 Ω,第一电阻Rl与第一发光二级管LEDl串联,对第一发光二级管LEDl进行限流保护,防止第一发光二级管LEDl烧毁。第二电阻R2与第二发光二极管LED2串联,对第二发光二级管LED2进行限流保护,防止第二发光二级管LED2烧毁。进一步参考图2,电平检测电路还可以包括电解电容Cl和瓷片电容C2,该电解电容Cl与瓷片电容C2并联后与所述电源10并联,用于滤除电源10在打开或关闭时所引起的高频干扰小信号。电解电容Cl的电容值为10uF,耐压值为16V,瓷片电容C2的电容值为0.luF。优选地,第一发光二极管LEDl和第二发光二级管LED2可以为贴片发光二极管。此夕卜,可以第一发光二极管LEDl可以选用红色贴片发光二极管,第二发光二级管LED2可以选用绿色贴片发光二极管,但是本技术并不限制于此。继电器20可以是由芯片ICl所组成的固态继电器,该固态继电器的控制端可以具有宽电压输入(如3?20V)。本技术所提供的电平检测电路采用继电器和发光二极管组成,通过发光二极管的亮与不亮就能够直观的检测出电平高低,并且检测电路简单便携。以上结合附图详细描述了本技术的优选实施方式,但是,本技术并不限于上述实施方式中的具体细节,在本技术的技术构思范围内,可以对本技术的技术方案进行多种简单变型,这些简单变型均属于本技术的保护范围。另外需要说明的是,在上述【具体实施方式】中所描述的各个具体技术特征,在不矛盾的情况下,可以通过任何合适的方式进行组合,为了避免不必要的重复,本技术对各种可能的组合方式不再另行说明。此外,本技术的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合,只要其不违背本技术的思想,其同样应当视为本技术所公开的内容。【主权项】1.一种电平检测电路,其特征在于,该电路包括: 继电器,待检测电平输入至继电器的控制端;以及 第一发光二级管,该第一发光二级管的正极与所述继电器的常开触点连接,该第一发光二级管的负极接地, 在所述第一发光二级管亮的情况下,判断所述待检测电平为高电平,在所述第一发光二级管不亮的情况下,判断所述待检测电平为低电平。2.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述电路还包括: 第二发光二级管,该第二发光二级管的正极与所述继电器的常闭触点连接,该第二发光二级管的负极接地,在该第二发光二级管亮的情况下,判断所述待检测电平为低电平。3.根据权利要求1或2所述的电路,其特征在于,所述电路还包括: 第一电阻,与所述第一发光二级管串联。4.根据权利要求2所述的电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电平检测电路,其特征在于,该电路包括:继电器,待检测电平输入至继电器的控制端;以及第一发光二级管,该第一发光二级管的正极与所述继电器的常开触点连接,该第一发光二级管的负极接地,在所述第一发光二级管亮的情况下,判断所述待检测电平为高电平,在所述第一发光二级管不亮的情况下,判断所述待检测电平为低电平。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:于海洋刘宏伟
申请(专利权)人:航天信息股份有限公司
类型:新型
国别省市:北京;11

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1