本发明专利技术提供了一种基于单片机的密封性继电器性能测试装置，采用以下步骤：(1)调用模数转换子程序及IIC协议，读取触点输入电压；(2)判断继电器输出命令，选择数字量范围；(3)判断数字量回检输入是否正常，若是，测试次数减1，继电器输出命令取反，并执行下一步，若否，调用报警子程序；(4)调用显示子程序，控制显示模块显示设置及测试次数，并返回到步骤(1)重新执行。本发明专利技术提供的一种基于单片机的密封性继电器性能测试装置，其能对继电器的励磁性能进行检测。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术提供了一种基于单片机的密封性继电器性能测试方法及装置。
技术介绍
在铁路信号行业，为使电路能够安全地切断、控制，继电器的应用较为普及，继电器在使用前需要进行性能检测，需要检测励磁电压、触点压降或励磁延时性能是否满足标准，其中密封型继电器往往难以通过直观检查判断出性能是否满足标准。在密封性继电器无法进行分解拆卸的前提下，如何对继电器进行检测，确保电路正常沟通与切断是提高检修效率和质量，确保行车安全的重要保障。
技术实现思路
基于以上不足，本专利技术要解决的技术问题是提供一种基于单片机的密封性继电器性能测试方法和装置，其能对继电器的励磁性能进行检测。为了解决以上技术问题，本专利技术采用了以下技术方案:—种基于单片机的密封性继电器性能测试方法，包括以下步骤:(I)调用模数转换子程序及IIC协议，读取触点输入电压；(2)判断继电器输出命令，选择数字量范围；(3)判断数字量回检输入是否正常，若是，测试次数减I，继电器输出命令取反，并执行下一步，若否，调用报警子程序；(4)调用显示子程序，控制显示模块显示设置及测试次数，并返回到步骤(I)重新执行。在所述步骤(I)之前还包括按键检测步骤，所述按键检测步骤包括:(I)检测设置键是否按下，若是，延时抖动，若否，执行下一步；(2)再次检测设置键是否按下，若是，执行下一步，若否，返回执行步骤(I);(3)检测加测试次数键和减测试次数键是否按下，若是，延时抖动，若否，执行下一步；(4)再次检测加测试次数键和减测试次数键是否按下，若是，执行下一步，若否，返回执行步骤(3);(5)检测确认键是否按下，若是，延时抖动，若否，执行下一步；(6)再次检测确认键是否按下，若是，执行下一步，若否，返回执行步骤(5)。—种基于单片机的密封性继电器性能测试装置，包括单片机、用于设置测试次数和启动程序的设置模块、用于将继电器的模拟输入信号转换为数字信号的模数转换模块、继电器驱动模块、用于接入继电器的继电器连接模块和在判断出继电器误动作或不满足标准时进行报警的报警模块，所述设置模块、模数转换模块、继电器驱动模块以及报警模块均与所述单片机连接，所述继电器连接模块分别与所述继电器驱动模块和所述模数转换模块连接。所述继电器驱动模块包括两个三极管以及一个单刀双掷开关，单片机的继电器控制命令引脚与单刀双掷开关的控制端连接，单刀双掷开关一端为其中一三极管的基极，另一端为另一三极管的基极，其中一三极管的集电极和发射极连接并联连接的四个继电器，另一三极管的集电极和发射极连接并联连接另外四个继电器。所述继电器连接模块包括八个二极管，所述二极管的正极与其中一个继电器连接，负极与模数转换模块连接。所述设置模块包括与所述单片机连接的设置按键、用于加测试次数的按键、用于减测试次数的按键以及用于启动的按键。所述报警模块包括三极管和蜂鸣器，所述三极管是基极与所述单片机连接，发射极与蜂鸣器连接，集电极与电源连接，所述蜂鸣器接地连接。还包括与单片机连接的晶振电路和复位电路。还包括电源模块，所述电源模块为外置可调电源。还包括显示模块，所述显示模块包括两个锁存器以及数码管，所述锁存器均与所述单片机连接，所述数码管与所述两个锁存器连接，所述单片机控制锁存器驱动数码管进行显示。采用以上技术方案，本专利技术取得了以下技术效果:本专利技术提供的基于单片机的密封性继电器性能测试方法和装置，能够设置测试次数并通过程序控制继电器进行反复励磁、能够对触点进行实时检测并报警;能够检测触点压降、检测继电器动作延时，能对继电器的各项性能进行全面检测。【附图说明】图1为本专利技术密封性继电器性能测试装置的电路结构图；图2为本专利技术密封性继电器性能测试装置的继电器驱动模块的电路结构图；图3为本专利技术密封性继电器性能测试装置的继电器连接模块的电路结构图；图4为本专利技术密封性继电器性能测试装置的设置模块的电路结构图；图5为本专利技术密封性继电器性能测试装置的显示模块的电路结构图。【具体实施方式】本专利技术提供了一种基于单片机的密封性继电器性能测试方法，包括以下步骤:(I)调用模数转换子程序及IIC协议，读取触点输入电压；(2)判断继电器输出命令，选择数字量范围；(3)判断数字量回检输入是否正常，若是，测试次数减I，继电器输出命令取反，并执行下一步，若否，调用报警子程序；(4)调用显示子程序，控制显示模块显示设置及测试次数，并返回到步骤(I)重新执行。在所述步骤(I)之前还包括按键检测步骤，所述按键检测步骤包括:(I)检测设置键是否按下，若是，延时抖动，若否，执行下一步；(2)再次检测设置键是否按下，若是，执行下一步，若否，返回执行步骤(I);(3)检测加测试次数键和减测试次数键是否按下，若是，延时抖动，若否，执行下一步；(4)再次检测加测试次数键和减测试次数键是否按下，若是，执行下一步，若否，返回执行步骤(3);(5)检测确认键是否按下，若是，延时抖动，若否，执行下一步；(6)再次检测确认键是否按下，若是，执行下一步，若否，返回执行步骤(5)。在主程序中首先进行按键检测，按键由使用者手动按下，当按下时单片机检测到一个低电平。设置模块共设四个按键，分别为设置键、加测试次数键，减测试次数键和确认键。设置键按下后，可以通过加测试次数键和减测试次数键设置测试次数，并按下确认键开始进行测试。然后进行继电器励磁检测，首先对继电器当前状态进行判断，若触点为吸起状态，则四个触点检测到的模拟电压值标准为4V以上，否则为IV以下。当四个触点检测到的模拟电压值均在符合标准时，此时执行计数减I，继电器励磁命令取反;在任何一个循环内如果四个触点检测到的模拟电压值不在标准范围内，则调用报警子程序输出报警命令。在进行继电器励磁检测的同时还可以进行触点压降检测，本专利技术采用PCF8591芯片实现数模转换，所述芯片与单片机通过IIC协议进行通信，单片机通过调用电压值，并对电压值进行取整。当SlMV时，a = 4;当S1〈1V时，a = 0。由此可以判断触点压降，同时也可在程序中对此参数进行修改。还可以进行继电器的动作延时判断，在主程序中设置参数j，在执行主循环时首先对j进行判断。当j = 200时执行继电器动作并将j置零，当j在200时则仅判断继电器状态是否符合标准。结合晶振频率可通过对j的最大值进行调整来判断继电器的动作延时是否符合标准。如图1所示，本专利技术还提供了一种基于单片机的密封性继电器性能测试装置，包括:单片机、用于设置测试次数和启动程序的设置模块、用于将继电器的模拟输入信号转换为数字信号的模数转换模块、继电器驱动模块、用于接入继电器的继电器连接模块和在判断出继电器误动作或不满足标准时进行报警的报警模块，所述设置模块、模数转换模块、继电器驱动模块以及报警模块均与所述单片机连接，所述继电器连接模块分别与所述继电器驱动模块和所述模数转换模块连接。如图2所示，所述继电器驱动模块包括三极管Ql和三极管Q2以及一个单刀双掷开关K3，单片机的继电器控制命令引脚与单刀双掷开关K3的控制端连接，单刀双掷开关K3—端为三极管Ql的基极，另一端为三极管Q2的基极，三极管Ql的集电极当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种基于单片机的密封性继电器性能测试方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)调用模数转换子程序及IIC协议，读取触点输入电压；(2)判断继电器输出命令，选择数字量范围；(3)判断数字量回检输入是否正常，若是，测试次数减1，继电器输出命令取反，并执行下一步，若否，调用报警子程序；(4)调用显示子程序，控制显示模块显示设置及测试次数，并返回到步骤(1)重新执行。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：魏刚，黄子辉，龙广钱，陈微，梁伟祺，刘特，江纬，潘青青，
申请(专利权)人：广州地铁集团有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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