本发明专利技术提供一种面板测试点定位方法、装置和测试面板的方法、系统，旨在解决现有的测试方法误测率高、测试成本高和问题改善困难的技术问题。所述方法包括：吸附放置于工作台的待测面板；根据标记点位置设置值和标记点周围光学参数移动测试头，使得图像定位设备的镜头上出现的标记与待测面板的标记点重合，标记点位置设置值和标记点周围光学参数事先设置于产品测试程序中保存；根据检测位置设置值将测试头移动至待测面板的测试点正上方；将测试头下降至所述测试头的测试探针与所述待测面板的测试点接触；产品测试程序开始测试待测面板。本发明专利技术降低测试成本，在发现问题时可以及时改善而不会浪费资源，从而有利于增加企业的利润。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于产品测试领域，尤其涉及一种面板测试点定位方法、装置和测试面板的方法、系统。
技术介绍
面板(panel)是很多现代电子信息产品中一种必不可少的元件，包括传统的液晶面板和近年来非常流行的、用于智能设备(例如，智能手机等)的触控面板(TouchingPanel)。展示于电子信息产品用户面前的面板，不仅仅是一块普通的玻璃或其他材质的板状物，这些面板的其中一面或者两面通常布有导电线路，用于传递电子信号。由于各种不可避免的因素，面板生产出来后，需要对其上布置的导电线路进行测试，以便确定该面板是否存在不良。实际的工业生产过程中，是选定一些测试点，通过对这些测试点的测试来达到对整个导电线路测试的目的。现有的一种测试面板的方法是采用固定的测试架进行测试，这种测试方法是一种盲对位方法测试，针对不同的面板需要制作不同的测试治具，并且测试的对象通常是从一大块成品中切割下来、不可再分割的单粒面板。在测试过程中，主要是依靠测试人员将测试产品在测试架上机械定位(即靠边定位)后，再将测试头下降至测试点，测试头的测试探针与测试点接触，从而完成测试。上述现有测试面板的方法至少存在下述问题:I)误测率高。由于在测试过程中，产品完全依靠测试人员手工放置对位，在测试人员眼力不好、产品外形尺寸偏差大、产品切割尺寸偏差大、测试架制作精度不高、测试架磨损、产品测试点非常小或者测试密度较大的产品时，测试头与测试点通常难以对准，如此，容易将实际上合格的产品误判为不合格的产品而报废面板，浪费了资源，减少了企业的利润。2)测试成本高。一种产品需要一套或多套测试治具，并且还需要专门的测试人员，这使得面板的测试成本大大提高，同样也减少了企业的利润。3)问题改善困难。由于测试的对象是不可再分割的单粒面板，基本上是成品了。当在测试过程中发现该批次的面板不良率超过一定值时，再向前一制程反映问题往往于事无补，因为，这些面板已经成为成品，对于一些制作过程长的产品，良率改善非常困难或者成本较高，最后不得不报废整个产品。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种面板测试点定位方法、装置和测试面板的方法、系统、系统，旨在解决现有的测试方法误测率高、测试成本高和问题改善困难的技术问题。本专利技术是这样实现的，一种测试面板的方法，所述方法包括:吸附放置于工作台的待测面板；根据标记点位置设置值和标记点周围光学参数移动测试头，使得图像定位设备的镜头上出现的标记与所述待测面板的标记点重合，所述标记点位置设置值和标记点周围光学参数事先设置于对应产品测试程序中保存；根据检测位置设置值将所述测试头移动至所述待测面板的测试点正上方，所述检测位置设置值包括所述测试头的测试探针与所述待测面板的测试点的角度偏差、在水平方向的距离差值和垂直方向的距离差值；将所述测试头上的测试针下降至所述测试头的测试探针与所述待测面板的测试点一一对应接触；所述产品测试程序开始测试所述待测面板。本专利技术的另一目的在于提供测试面板的系统，所述系统包括吸附装置、图像定位设备、测试头、马达伺服子系统和用于存储、运行产品测试程序的终端；所述吸附装置，用于吸附放置于工作台的待测面板；所述马达伺服子系统，用于在产品测试程序开启时，根据标记点位置设置值和标记点周围光学参数移动所述测试头，使得图像定位设备的镜头上出现的标记与所述待测面板的标记点重合，根据检测位置设置值将所述测试头移动至所述待测面板的测试点正上方，将所述测试头下降至所述测试头的测试探针与所述待测面板的测试点接触，所述检测位置设置值包括所述测试头的测试探针与所述待测面板的测试点的角度偏差、在水平方向的距离差值和垂直方向的距离差值；所述产品测试程序用于保存所述标记点位置设置值、标记点周围光学参数和所述检测位置设置值，在所述测试头的测试探针与所述待测面板的测试点一一对应接触后开始测试所述待测面板。本专利技术的又一目的在于提供面板测试点定位方法，所述方法包括:获取标记点位置设置值；获取检测位置设置值；将所述检测位置设置值与所述标记点位置设置值进行综合运算，所得结果确定为面板测试点的位置。本专利技术的又一目的在于提供面板测试点定位装置，所述装置包括:第一获取模块，用于获取标记点位置设置值；第二获取模块，用于获取检测位置设置值；确定模块，用于将所述检测位置设置值与所述标记点位置设置值进行综合运算，所得结果确定为面板测试点的位置。从上述本专利技术实施例可知，一方面，可以根据标记点位置设置值和标记点周围光学参数移动测试头，使得图像定位设备的镜头上出现的标记与待测面板的标记点重合，如此能够找到测试点的大致范围，为确定测试点提供的初步的保证，另一方面，可以根据检测位置设置值将测试头移动至待测面板的测试点正上方，由于检测位置设置值是事先精确设置的，因此，能够将测试头精确对准测试点。与现有技术提供的测试方法相比，本专利技术由于能够将测试头精确对准测试点，因此显著降低了误测率，而且，所有的产品可以使用本专利技术提供的测试系统降低测试成本(实际生产的实践表明，测试点数与测试点PITCH数相同的，可以共用测试头，不同的测试点的产品，只需要更换测试头即可，一般一个测试架需要1000?2000元，而一个测试头只需要100?200元，节省成本90% )，在发现问题时可以及时改善而不会浪费资源，从而有利于增加企业的利润。【附图说明】图1是本专利技术实施例一提供的测试面板的方法的实现流程示意图；图2是本专利技术实施例二提供的测试面板的系统的结构示意图；图3是本专利技术实施例三提供的测试面板的系统的结构示意图；图4是本专利技术实施例四提供的面板测试点定位方法的实现流程示意图；图5是本专利技术实施例五提供的面板测试点定位装置的结构示意图；图6是本专利技术实施例提供的图像定位设备的镜头上出现的标记与待测面板的标记点重合时，测试头的测试探针与待测面板的测试点的角度偏差、在水平方向的距离差值和垂直方向的距离差值的示意图；图7是本专利技术实施例提供的图像定位设备的镜头上出现的标记与待测面板的标记点重合时，测试头需要移动差值后才能保证测试头在待测面板的测试点正上方的示意图。【具体实施方式】为了使本专利技术的目的、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。本专利技术实施例提供测试面板的方法，所述方法包括:吸附放置于工作台的待测面板；根据标记点位置设置值和标记点周围光学参数移动测试头，使得图像定位设备的镜头上出现的标记与所述待测面板的标记点重合，所述标记点位置设置值和标记点周围光学参数事先设置于产品测试程序中保存；根据检测位置设置值将所述测试头移动至所述待测面板的测试点正上方，所述检测位置设置值包括所述测试头的测试探针与所述待测面板的测试点的角度偏差、在水平方向的距离差值和垂直方向的距离差值；将所述测试下降至所述测试头的测试探针与所述待测面板的测试点一一对应接触；所述产品测试程序开始测试所述待测面板。本专利技术实施例还提供相应的面板测试点定位装置和测试面板的方法、系统。以下分别进行详细说明。请参阅附图1，是本专利技术实施例一提供的测试面板的方当前第1页1 2 3 4 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种测试面板的方法，其特征在于，所述方法包括：吸附放置于工作台的待测面板；根据标记点位置设置值和标记点周围光学参数移动测试头，使得图像定位设备的镜头上出现的标记与所述待测面板的标记点重合，所述标记点位置设置值和标记点周围光学参数事先设置于对应产品测试程序中保存；根据检测位置设置值将所述测试头移动至所述待测面板的测试点正上方，所述检测位置设置值包括所述测试头的测试探针与所述待测面板的测试点的角度偏差、在水平方向的距离差值和垂直方向的距离差值；将所述测试头下降至所述测试头的测试探针与所述待测面板的测试点一一对应接触；所述产品测试程序开始测试所述待测面板。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李中旺，肖传盛，
申请(专利权)人：深圳市诚信佳美科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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