本发明专利技术涉及一种基于超高精度数字图像测量的二维应变测量系统，包括中控电脑、标志点模具、摄像头组和显微镜头组；所述标志点模具上具有呈二维布设的三组特征标志孔，其用于贴在被测试件上以确定出被测试件的三组特征标志点；所述摄像头组包括三个摄像头，所述显微镜头组包括三个显微镜头，所述三个显微镜头对应安装在三个摄像头上，以对应测量所述被测试件的三组特征标志点；所述中控电脑与所述三个摄像头通讯连接，以根据所述三个摄像头的测量结果计算所述被测试件的二维应变，并输出二维应变结果。本发明专利技术实现了全程自动化，去除了使用移测显微镜测量定标线间距的过程，提高了测量效率，并且从一维应变测量扩展为二维应变测量，提升了准确度。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于应变测量
，具体设及一种基于超高精度数字图像测量的二维 应变测量系统。
技术介绍
传统的应变测量方法是在试件表面粘贴应变片，通过应变片的拉伸、压缩所产生 的电信号的改变来测量其应变，运种方法是一种直接接触的测量方法，该方法对贴应变片 的实验员要求较高，并且在应变片与被测试件之间的粘结剂粘结效果、厚度等对测量结果 有多大影响不得而知，特别是在冲击等动态作用下，粘结剂本身的材料响应对被测材料与 应变片之间的响应影响是不可W忽视的。再者，很多测试材料是非常不规则的、表面也是凹 凸不平的、甚至有的是难W黏贴的，因此传统的应变片在运些情况下难W满足测试要求。而 且，试验现场应变片需要粘贴、焊接，还需要配备应变仪、采集仪等，应变片也是一次性的， 因此试验成本相对较高。 随着数码硬件的飞速发展，数字图像测量方法逐渐显示出其独特的优势，它是一 口新的测量方法，该方法具有测量多样化，测量成本低、操作简单，无需专业的实验员，而且 对材料没有任何影响等优点，因此数字图像测量方法在很多领域中都具有广阔的应用前 景。 自从1982年，Yamaguchi和化ters各自提出了数字图像相关测量技术W来，数字图 像得到了广泛的发展。随后Gong Maohan在对激光散斑相关性和位移的关系的研究基础上 指出，白光比激光更适合数字图像相关方面的运算。为了进一步提高计算精度，提出了双线 性插值法、样条函数法、多项式法W及形屯、法等多种方法来得到图像的亚像素。相关算法从 理论上来看其精度达到0.01像素甚至更高，但实际的图像由于大量的噪声，其精度难W稳 定在0.01像素。数字散斑相关测量系统具有抗噪声干扰能力，该项技术能够消除图像噪声， 使得精度稳定在0.01像素。现有的散斑数字图像相关的平面全场应变测量方法已经比较成 熟，并且相关的产品在国内外也已经广泛使用。但是，由于其测量的是全场应变，相同的分 辨率下所拍摄的区域大，单位区域中的像素太低，难W保证应变测量的精度在化ε范围内。 杨勇等人在《高精度数字图像相关测量系统及其技术研究》论文中提出了关于一维的应变 测量系统，其测量精度在化ε范围内。该论文中所测量的两个标志点间距通常为100mm的平 均应变，对于尺寸较小的试件难W达到化ε精度。再者，该系统中在上下两个标志点处各有 两根定标线，该系统在测量前需要使用移测显微镜分别测量出两定标线的间距，由于试验 现场难W摆放移测显微镜，因此大大降低了测量效率。
技术实现思路
基于上述原因，本专利技术的目的在于，提出一种基于超高精度数字图像测量的二维 应变测量系统，去除了使用移测显微镜测量定标线间距的过程，在能够保证测量精度的同 时，提高测量效率。 具体地，本专利技术提出的一种基于超高精度数字图像测量的二维应变测量系统，包 括中控电脑、标志点模具、摄像头组和显微镜头组;所述标志点模具上具有呈二维布设的Ξ 组特征标志孔，其用于贴在被测试件上W确定出被测试件的Ξ组特征标志点；所述摄像头 组包括Ξ个摄像头，所述显微镜头组包括Ξ个显微镜头，所述Ξ个显微镜头对应安装在Ξ 个摄像头上，W对应测量所述被测试件的Ξ组特征标志点；所述中控电脑与所述Ξ个摄像 头通讯连接，W根据所述Ξ个摄像头的测量结果计算所述被测试件的二维应变，并输出二 维应变结果。 在本专利技术的进一步优选方案中，所述Ξ组特征标志孔中的每一组包括呈"十"字布 设的五个特征标志孔。 在本专利技术的进一步优选方案中，每一组特征标志孔所限定的测量范围为lOmmX 10mm〇 在本专利技术的进一步优选方案中，各个特征标志孔的直径为0.1mm;布设在同一行或 同一列的两组特征标志孔的中屯、间距为1 cm。 在本专利技术的进一步优选方案中，所述确定出被测试件的Ξ组特征标志点具体是， 采用涂料通过标志点模具的Ξ组特征标志孔在被测试件上喷涂出Ξ组特征标志点。 在本专利技术的进一步优选方案中，计算所述被测试件的二维应变具体是，通过计算 所述摄像头组测量到的被测试件样本图像中的灰度值的变化计算所述被测试件的偏移量。 在本专利技术的进一步优选方案中，计算所述被测试件的二维应变的公式如下： εα= Excos 曰+￡ysin 曰 其中，εα为所述被测试件在任意方向的二维应变值，α为应变方向与水平方向的夹 角，εχ为所述被测试件在水平方向的应变值，Ey为所述被测试件在竖直方向的应变值。 在本专利技术的进一步优选方案中，所述输出二维应变结果包括绘制二维应变曲线。 在本专利技术的进一步优选方案中，所述摄像头组的图像分辨率为3288X4384。 在本专利技术的进一步优选方案中，所述中控电脑的图像识别分辨率为0.01像素。 有益效果:本专利技术提出的超高精度数字图像测量的二维应变测量系统，实现全程 自动化，去除了使用移测显微镜测量定标线间距的过程，测量精度能够保证在化ε范围内， 提高了测量效率，并且从一维应变测量扩展为二维应变测量，相对于一维测量能够获得更 全面的数据，提升了精度和准确度。【附图说明】 图1是实施例提出的基于超高精度数字图像测量的二维应变测量系统的整体结构 原理示意图。 图2是实施例中标志点模具的结构原理示意图。 图3是实施例中利用图2的标志点模具喷涂出的一组特征标志点示意图。 图4是实施例中利用图2的标志点模具喷涂出Ξ组特征标志点过程示意图。 图中：10-中控电脑，21、22、23-摄像头，31、32、33-显微镜头，40-被测试件，50-标 志点模具。【具体实施方式】 为了便于本领域技术人员理解，下面将结合附图W及实施例对本专利技术进行进一步 描述。 请参阅图1至图4,实施例提出的基于超高精度数字图像测量的二维应变测量系 统，包括中控电脑10、标志点模具50、摄像头组和显微镜头组;所述标志点模具50上具有呈 二维布设的Ξ组特征标志孔(如图2所示），其用于贴在被测试件40上W确定出被测试件40 的Ξ组特征标志点41、42、43;所述摄像头组包括Ξ个摄像头21、22、23，所述显微镜头组包 括Ξ个显微镜头31、32、33，所述Ξ个显微镜头31、32、33对应安装在Ξ个摄像头21、22、23 上，W对应测量所述被测试件的Ξ组特征标志点41、42、43;所述中控电脑10与所述Ξ个摄 像头21、22、23通讯连接，W根据所述Ξ个摄像头21、22、23的测量结果计算所述被测试件40 的二维应变，并输出二维应变结果，例如输出绘制二维应变曲线。 本实施例的最佳实施方案中，摄像头组(Ξ个摄像头21、22、23)的图像分辨率为 3288 X 4384，中控电脑的图像识别分辨率为0.01像素;所述Ξ组特征标志孔中的每一组包 括呈"十"字布设的五个特征标志孔，如图2所示;各个特征标志孔的直径为0.1mm;布设在同 一行或同一列的两组特征标志孔的中屯、间距为L=lcm;每一组特征标志孔所限定的测量范 围（也即摄像头21、22、23的拍摄区域）为LχXLy=1.0mmX1.0mm，即水平范围Lx=1.0mm，竖 直范围心二10mm。 测量原理 本实施例中，基于超高精度数字图像测量来确定测试件40的二维应变主要是，通 过计算摄像头组测量到的被测试件样本图像中的灰度值的变化计算当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种基于超高精度数字图像测量的二维应变测量系统，其特征在于，包括中控电脑、标志点模具、摄像头组和显微镜头组；所述标志点模具上具有呈二维布设的三组特征标志孔，其用于贴在被测试件上以确定出被测试件的三组特征标志点；所述摄像头组包括三个摄像头，所述显微镜头组包括三个显微镜头，所述三个显微镜头对应安装在三个摄像头上，以对应测量所述被测试件的三组特征标志点；所述中控电脑与所述三个摄像头通讯连接，以根据所述三个摄像头的测量结果计算所述被测试件的二维应变，并输出二维应变结果。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：浣石，陶为俊，谭湘倩，
申请(专利权)人：广州大学，
类型：发明
国别省市：广东;44
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