本发明专利技术公开了一种红外制冷探测器冷光阑的偏振型复合挡光环组及制作方法，所述偏振型复合挡光环组包括N个挡光环，每个挡光环按照红外制冷探测器冷光阑的挡光环设计原则确定内外径尺寸和安装位置，各挡光环由金属挡光环及相应的线性薄膜偏振器胶合而成。本发明专利技术可在原有挡光环的基础上，提高其对杂散辐射的吸收能力，抑制杂散辐射在挡光环上发生的二次散射，设计方法简明，结构相对简单，兼容性好，可有效提高红外制冷探测器的冷光阑效率，得到更高的信噪比和探测灵敏度。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术设及红外制冷探测器冷光阔中的挡光环组，特别设及红外制冷探测器冷光 阔中的偏振型复合挡光环组的设计和制作方法。
技术介绍
随着红外光学技术的发展，红外探测器已广泛地被应用在空间探测、军事、监控、 医学W及日常生活中的各个领域，并且其对灵敏度和分辨率的需求也越来越高。在红外制 冷探测器中，探测系统的杂散福射是影响探测系统实际性能的重要因素之一。因此，抑制杂 散福射对于高精度红外制冷探测器就显得十分重要。 在红外制冷探测器中，探测器焦平面阵列元件及其组件被封装于杜瓦腔体内。由 于探测的是红外福射，探测器在接收福射时，目标W外的区域都会福射能量，因而会对探测 器造成干扰，为此通常采用自身已被探测器冷却装置冷却的冷光阔。运样可W减少冷光阔 对探测器的热福射，同时也能保护探测器免受杜瓦内壁热福射的影响。冷光阔，是杜瓦中的 一个重要组件。一方面冷光阔主要起限制视场作用，减少背景光通量，降低背景噪声，从而 提高探测器忍片的信噪比。另一方面，冷光阔还可W有效隔离红外杂散福射W及其他电磁 福射的干扰作用，从而降低杜瓦工作时的热负荷并且能够缩短制冷启动时间，提高响应频 率。 通过在冷光阔内部添加合适的挡光环结构，可W有效抑制进入其内部的杂散福 射，提高探测器的信噪比，进而提升红外制冷探测器的灵敏度。挡光环可W用来吸收到达其 表面的杂散福射，并增加杂散福射在到达探测面前的反射或散射次数，W促进其能量衰减， 其大小和位置设计原则如图1所示。实际应用中的挡光环结构远不能实现对杂散福射100% 的吸收率，不利于红外制冷探测器信噪比的提升，限制了高灵敏度红外探测器的应用。 因此，为了进一步提高现有红外制冷探测器的灵敏度，有必要提供一种可对杂散 福射实现高吸收率的挡光环结构和设计方法，本专利技术方法可有效提高挡光环对杂散福射的 吸收能力，减少挡光环表面反射和散射的杂散福射能量，且结构简单，光机性能良好，与现 有的红外制冷探测器及挡光环结构兼容性好。
技术实现思路
本专利技术的目的在于针对现有技术的不足，提供一种红外制冷探测器冷光阔的偏振 型复合挡光环组及制作方法，可提高红外制冷探测器冷光阔中的挡光环对杂散福射的吸收 能力，抑制杂散福射在挡光环上发生的二次散射，进而提高红外制冷探测器的信噪比和冷 光阔效率。 本专利技术的目的是通过W下技术方案来实现的：一种红外制冷探测器冷光阔的偏振 型复合挡光环组，包括N个挡光环，每个挡光环按照红外制冷探测器冷光阔的挡光环设计原 则确定内外径尺寸和安装位置，每个挡光环包括金属挡光环和胶合于金属挡光环两侧的线 性薄膜偏振器;所述的线性薄膜偏振器为与金属挡光环形状一致的透射式平片，工作波长 与红外制冷探测器的工作波长相匹配;相对于介质偏振器，线性薄膜偏振器的损伤阔值和 消光比更高，全波段消光比大于1000:1，红外波段大于10000:1。各线性薄膜偏振器的透光 轴的角度α符合下式：[000引 其中mod为取余函数，int为取整函数，Ν是挡光环总个数，m是线性薄膜偏振器所属 的挡光环的序号，m为从1到N的正整数。 进一步地，所述的金属挡光环由适用于红外制冷探测器的金属材料制成，并经过 喷砂处理、光学发黑工艺实现表面发黑。 进一步地，在线性薄膜偏振器非胶合面锻增透膜W减少表面反射，增加杂散福射 吸收率。 进一步地，将线性薄膜偏振器的侧边磨为毛面并喷涂黑墨，W减少挡光环的侧边 反射的福射能量。 进一步地，线性薄膜偏振器的基底为钢水玻璃，基底厚度可根据整体尺寸及结构 强度要求确定。挡光环的厚度在保证其结构强度的前提下尽可能地薄，既可W减小挡光环 的侧边反射也可W减轻冷光阔的整体重量。 所述的红外制冷探测器冷光阔的偏振型复合挡光环组的制作方法，包括W下步 骤： 步骤一、根据红外制冷探测器冷光阔的挡光环设计原则确定挡光环的通光口径和 位置，根据冷光阔的实际设计需求确定挡光环的数量N和外径； 步骤二、选取2N个线性薄膜偏振器，标定透光轴方向； 步骤Ξ、将线性薄膜偏振器两两分组，每组线性薄膜偏振器的透光轴角度α由下式 确定：[001 引 其中mod为取余函数，int为取整函数，Ν是挡光环总个数，m是线性薄膜偏振器所属 的挡光环的序号，m为从1到N的正整数。 步骤四、将各组线性薄膜偏振器切割成对应金属挡光环的形状； 步骤五、使用光学胶将各组线性薄膜偏振器与其对应的金属挡光环前后面胶合， 即可获得所述的红外制冷探测器冷光阔的偏振型复合挡光环组。将各挡光环对应固定于步 骤一确定的位置处，即可完成装配。 进一步地，在步骤五之前还包括对线性薄膜偏振器的非胶合面锻增透膜的步骤， W减少表面反射，增加杂散福射的吸收率。 进一步地，在步骤五之前还包括对线性薄膜偏振器的侧边磨为毛面并喷涂黑墨的 步骤，W减少挡光环的侧边反射的福射能量。 本专利技术的有益效果是： 1、利用线性薄膜偏振器的偏振吸收效应，可在原有挡光环吸收的基础上，高效吸 收入射的杂散福射，该复合挡光环相比于普通挡光环具有更高的吸收率； 2、对于偏振态与所入射的复合挡光环的线性薄膜偏振器透光轴垂直的杂散福射， 可w基本实现完全吸收； 3、不同复合挡光环的偏振透光轴经过设计，可W通过相互配合进一步增强吸收效 果，在散射次数相同的情况下，降低了杂散福射的出射能量； 4、该复合挡光环设计方法简明，结构相对简单，兼容性好，适用于高灵敏度红外制 冷探测器应用。【附图说明】 图1是红外制冷探测器冷光阔的挡光环基本设计方法示意图； 图2是挡光环侧边反射示意图；图3是四片式挡光环偏振器透光轴角度示意图； 图4是四片式挡光环偏振器透光轴与挡光环编号之间的关系； 图5是包含偏振型复合挡光环的红外制冷探测器冷光阔的结构示意图； 图6是所述偏振型复合挡光环与传统挡光环对杂散福射的吸收能力定量对比图； 图中，一号挡光环1、二号挡光环2、Ξ号挡光环3、四号挡光环4、冷光阔结构体5、冷 光阔开口 6、探测器面7。【具体实施方式】 W下将结合附图详细说明本专利技术中高效吸收杂散福射挡光环的实施方式和设计 原理。 本专利技术设计的偏振型复合挡光环组是应用于高灵敏度红外制冷探测器的，目的是 为了提高红外制冷探测器冷光阔挡光环对杂散福射的吸收能力，抑制杂散福射在挡光环上 发生的二次散射，提升系统的冷光阔效率，进而提高红外制冷探测器的信噪比和探测灵敏 度。 本专利技术的实施方式是，每个挡光环按照红外制冷探测器冷光阔的挡光环设计原则 确定内外径尺寸和安装位置，每个挡光环包括金属挡光环和胶合于金属挡光环两侧的线性 薄膜偏振器。 所述的金属挡光环由适用于红外制冷探测器的金属材料制成并通过喷砂处理、光 学发黑工艺实现表面发黑。挡光环由图1所示的基本设计原则确定其通光直径和安装位置， 环面外径由其安装位置和红外制冷探测器的冷光阔口径共同确定。下面结合图1说明挡光 环基本设计原则:首先确定红外制冷探测器的探测面对角线长度BD和冷光阔结构参数及二 者相对位置即AC与抓之间的距离;连接BM，CD，过二者交点Ρ作平行于AC的线段与冷光阔壁 轮廓线相交，由此获得挡光环1的尺寸和位置;连接A和挡光环1的P点并延长，交冷光阔壁轮 廓线于N，连接NB，与C时目交，重复上述步骤，可获得挡光环2的尺寸和位置；W此类推，可W 获得任意形状的冷本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种红外制冷探测器冷光阑的偏振型复合挡光环组，包括N个挡光环，每个挡光环按照红外制冷探测器冷光阑的挡光环设计原则确定内外径尺寸和安装位置，其特征在于，每个挡光环包括金属挡光环和胶合于金属挡光环两侧的线性薄膜偏振器；所述的线性薄膜偏振器为与金属挡光环形状一致的透射式平片，工作波长与红外制冷探测器的工作波长相匹配；各线性薄膜偏振器的透光轴的角度α符合下式：其中mod为取余函数，int为取整函数，N是挡光环总个数，m是线性薄膜偏振器所属的挡光环的序号，m为从1到N的正整数。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：黄潇，张娴婧，白剑，
申请(专利权)人：浙江大学，
类型：发明
国别省市：浙江;33
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