【技术实现步骤摘要】
一种半实物仿真测试转台及其联轴结构
本专利技术属于机械
,涉及一种半实物仿真测试转台及其联轴结构。
技术介绍
目前,随着仿真技术发展,要求转台性能好、加速度大、频响高、精度高,因此设备的结构起着决定的因素。通常立式结构的三轴转台(结构见说明书附图2),方位轴由于结构限制只能单电机驱动,造成了方位轴加速度、频响指标的限制,当负载质量、转动惯量偏大时,立式结构无法满足高动态指标要求。而卧式结构的三轴转台(结构见说明书附图3),虽然方位轴可以做到双电机驱动,但由于结构限制,当方位轴转动时,负载视场角通常只能到±60°,无法满足负载视场角大的需求。
技术实现思路
:本专利技术的目的是提供一种适用于高动态性能、宽视场角范围和高精度的半实物仿真测试转台及其联轴结构。本专利技术的技术解决方案是,测试转台包括方位下轴系基座、三个转动框:方位框、俯仰框、滚动框、三个回转轴系:方位轴系、俯仰轴系和滚动轴系,测试转台台体结构为卧式立放结构,方位框为矩形结构,方位框由两个性能一致的交流无刷力矩电机并联驱动,方位上轴系基座位于方位框的上部,通过方位上轴连接,方位上轴由一对角接触球轴承支撑,安装在方位上轴系基座内,方位上轴与方位框由涨紧套连接,方位框的下部为方位下轴系基座,通过方位下轴连接,方位下轴由一对角接触球轴承支撑,安装在方位下轴系基座内,方位下轴与方位框之间通过涨紧套与法兰连接,同时,方位上轴系基座与方位下轴系基座之间通过连接座固连,并且方位上轴与方位下轴同轴,组成方位轴系。所述的方位下轴系中的方位下轴通过转接法兰与方位框法兰连接;方位框上安装有涨紧套钢套,第一涨紧套安装在 ...
【技术保护点】
一种半实物仿真测试转台及其联轴结构,测试转台包括方位下轴系基座(4)、三个转动框:方位框(2)、俯仰框(9)、滚动框(10)、三个回转轴系:方位轴系(5)、俯仰轴系(8)和滚动轴系(7),其特征在于:测试转台台体结构为卧式立放结构,方位框(2)为矩形结构,方位框(2)由两个性能一致的交流无刷力矩电机并联驱动,方位上轴系基座(1)位于方位框(2)的上部,通过方位上轴(6)连接,方位上轴(6)由一对角接触球轴承支撑,安装在方位上轴系基座(1)内,方位上轴(6)与方位框(2)由涨紧套连接,方位框(2)的下部为方位下轴系基座(4),通过方位下轴(11)连接,方位下轴(11)由一对角接触球轴承支撑,安装在方位下轴系基座(4)内,方位下轴(11)与方位框(2)之间通过涨紧套与法兰连接,同时,方位上轴系基座(1)与方位下轴系基座(4)之间通过连接座(3)固连,并且方位上轴(6)与方位下轴(11)同轴,组成方位轴系(5)。
【技术特征摘要】
1.一种半实物仿真测试转台及其联轴结构,测试转台包括方位下轴系基座(4)、三个转动框:方位框(2)、俯仰框(9)、滚动框(10)、三个回转轴系:方位轴系(5)、俯仰轴系(8)和滚动轴系(7),其特征在于:测试转台台体结构为卧式立放结构,方位框(2)为矩形结构,方位框(2)由两个性能一致的交流无刷力矩电机并联驱动,方位上轴系基座(1)位于方位框(2)的上部,通过方位上轴(6)连接,方位上轴(6)由一对角接触球轴承支撑,安装在方位上轴系基座(1)内,方位上轴(6)与方位框(2)由涨紧套连接,方位框(2)的下部为方位下轴系基座(4),通过方位下...
【专利技术属性】
技术研发人员:马雅琼,隋清秀,王荣梅,张明华,
申请(专利权)人:北京瑞赛长城航空测控技术有限公司,中航高科智能测控有限公司,中国航空工业集团公司北京长城航空测控技术研究所,
类型:发明
国别省市:北京;11
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