数据输出方法技术

技术编号:13157445 阅读:39 留言:0更新日期:2016-05-09 19:45
本发明专利技术公开了一种数据输出方法,包括:产生一数据状态指示码,数据状态指示码指示由一存储器控制器所传输的一数据块的错误状态;结合数据状态指示码与数据块以产生一输出信号;以及将输出信号输出至一数据总线接脚。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是有关于一种,且特别是有关于一种用于监视存储器装置中 的数据错误状态的。
技术介绍
传输往返一存储器装置的数据可能遗失或损坏。为了减轻这个问题,可将一错误 校正码(Error Correcting Code, ECC)加至写入至一存储器装置的存储器阵列的一笔数据 (亦被称为"用户数据"或"用户码")。ECC可通过一具体形成在一存储器控制器中的ECC 产生器而产生,存储器控制器控制存储器装置的操作。通常,用户数据及相对应的ECC是储 存于存储器阵列的不同部分中。用于储存用户数据的部分亦被称为一"正常阵列",而用于 储存ECC的部分亦被称为一 "ECC阵列"。 可使用ECC以在从存储器装置读取或传输用户数据时,检查对应的用户数据是否 包括任何错误。如果一可校正的错误存在,则当用户数据正被读取或传输时,ECC亦可用于 校正用户数据。依据所采用的机制及ECC中的位数,ECC可校正相对应的用户数据中的某 个数目的失败位。如果用户数据报括零个失败位,则它们通过检查。如果用户数据中的失 败位的数目小于或等于一 ECC可校正的失败位的最大数目,则用户数据是可校正的。但如 果用户数据中的失败位的数目大于最大数目,则用户数据是不可校正的。举例而言,依据一 汉明码机制(Hamming code scheme),可将一个具有八个ECC位的ECC加至包括128个位的 相当多的用户数据。这种ECC允许在128个位之间的一个失败位被校正。 传统上,错误校正是在存储器控制器内部被执行。一用户无法知道一笔输出数据 最初是否包括没有错误或是正确的。亦即,使用者并未接收,从而无法检查储存于存储器装 置中的数据的一数据错误状态。
技术实现思路
依据本专利技术,提供一种存储器装置的数据错误状态的。此方法包括: 产生一数据状态指示码,数据状态指示码指示由一存储器控制器所传输的一数据块的错误 状态;结合数据状态指示码与数据块,以产生一输出信号;以及将输出信号输出至一数据 总线接脚。 与本专利技术相符的特征及优点将在随后的说明中部分提出,且部分将从本说明显而 易见的,或可通过本专利技术的实行而学习到。这种特征及优点,将利用在以下的权利要求范围 中特别被指出的元件及组合而实现并获得。 吾人应理解到,上述的一般说明及下述的详细说明两者是例示的及只是说明的目 的,且并非限制所主张的本专利技术。 并入并构成这个说明书的一部分的附图,是显示本专利技术的多个实施例,且与本说 明一起用于说明本专利技术的原理。【附图说明】 图1为概要显示依据一例示实施例的一存储器装置的一结构的方块图。 图2为显示依据一例示实施例的一方法的流程图。 图3A及图3B概要显示依据例示实施例的当输出数据错误状态时的信号波形。 图4A及图4B概要显示依据其他例示实施例的当输出数据错误状态时的信号波 形。 图5概要显示依据一更进一步的例示实施例的当输出数据错误状态时的信号波 形。 图6A及图6B概要显示依据其他例示实施例的当输出数据错误状态时的信号波 形。 【符号说明】 100:存储器装置 100-1 :存储器阵列 102:正常阵列 100-2:存储器控制器 104 :ECC阵列 106 :第一感测放大器 108 :第二感测放大器 110 :错误状态译码电路 112:校正电路 114 :数据处理电路 200 :方法 202 至 212 :步骤【具体实施方式】 与本专利技术相符的实施例包括用于监视存储器装置中的数据错误状态的方法及装 置。 以下,将参考图式说明与本专利技术相符的实施例。若有可能的话,将遍及这些图式使 用相同的参考数字,以表示相同的或类似的部分。 图1为概要显示与本专利技术的实施例相符的一例示存储器装置100的结构的方块 图。存储器装置100包括一存储器阵列100-1及一存储器控制器100-2,存储器阵列100-1 被设计成用于储存数据,而存储器控制器100-2控制存储器装置100的操作,例如,从存储 器阵列100-1读取数据及写入数据至存储器阵列100-1,并输出数据至存储器装置100的外 部(例如至数据总线接脚(Pin))。 如图1所示,存储器阵列100-1包括一储存用户数据的正常阵列102及一储存ECC 的ECC阵列104。 存储器控制器100-2包括一第一感测放大器106、一第二感测放大器108、一错 误状态译码电路11〇(在图1中标示为"ECC")、一校正电路112(在图中标示为"校正 (Correction) "),以及一数据处理电路114(在图中标示为"数据处理(Data Process) ")。 与本专利技术相符的是,校正电路112与数据处理电路114每个可譬如包括一多任务器。第一 感测放大器106与正常阵列102互动,用以譬如从正常阵列102读取用户数据。第二感测 放大器108与ECC阵列104互动,用以譬如从ECC阵列104读取ECC。第一感测放大器106 将获得的用户数据输出至校正电路112。又,第一与第二感测放大器106及108分别将获得 的用户数据及ECC输出至错误状态译码电路110,错误状态译码电路110检查用户数据是 否包括任何错误,且如果是这样的话,则产生用于修正这种错误的信息。错误状态译码电路 110接着将此种校正信息输出至校正电路112,校正电路112使用校正信息,以校正从第一 感测放大器106所接收的用户数据。然后,校正的用户数据输出至数据处理电路114,以供 输出至譬如一数据总线接脚。如果通过第一感测放大器106从正常阵列102读取的用户数 据并未包括任何错误的话,则这些用户数据接着通过校正电路112被递送至数据处理电路 114以供输出,且不会执行修正。 与本专利技术的多个实施例相符的是,错误状态译码电路110亦产生一指示从正常阵 列102读取的相对应的数据的错误状态的数据状态指示码,并将数据状态指示码输出至数 据处理电路114。数据处理电路114结合数据状态指示码与其对应的用户数据以产生一输 出信号,并将输出信号输出至一数据总线接脚,以供输出至一用户接口以呈现给用户。 图2为显示一种用于监视一存储器装置(例如图1所显示的存储器装置100)中的 数据错误状态的例示方法200的流程图。如图2所示,于步骤202,存储器控制器100-2从 正常阵列102读取一笔用户数据,并从ECC阵列104读取一对应的ECC。更明确而言,存储 器控制器100-2的第一感测放大器106读取用户数据,而存储器控制器100-2的第二感测 放大器108读取相对应的ECC。这样的一笔用户数据亦被称为一"数据块(data chunk)"。 数据块可包括譬如128个位的用户数据。相对应的ECC可包括譬如八个位。又,第一感测 放大器106将读取的数据块传送至错误状态译码电路110与校正电路112。第二感测放大 器108将读取的ECC传送至错误状态译码电路110。 于204,错误状态译码电路110通过参见ECC检查数据块是否包括任何错误。如果 数据块包括错误(步骤204-是),则错误状态译码电路110执行计算,以产生用以校正这种 错误的信息(亦被称为"校正信息(correction information) ")(图2中的步骤206),并 将校正信息输出至校正电路112。校正信息可包括譬本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种数据输出方法,包括:通过一存储器控制器产生一数据状态指示码,该数据状态指示码指示由该存储器控制器所传输的一数据块的错误状态;通过该存储器控制器,结合该数据状态指示码与该数据块,以产生一输出信号;及通过该存储器控制器,将该输出信号输出至一数据总线接脚。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:张坤龙陈耕晖罗思觉郑家丰
申请(专利权)人:旺宏电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:中国台湾;71

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