【技术实现步骤摘要】
本公开的实施例涉及集成电路中的低功率时钟门控触发器。
技术介绍
由于集成电路(IC)的不断发展,触发器有助于任何电路设计的功率的主要部分。IC消耗功率的各种单元是逻辑实现、触发器、RAM、时钟树和集成时钟门控(ICG)单元。各种单元的功率消耗的比较结果如下:逻辑实现29%、触发器27%、RAM18%、时钟树16%和ICG消耗典型设计中总功率的10%。在数字设计中,触发器形成数字分片(sub-chip)的20-40%。触发器中晶体管数量的减少将减少面积,并因此减少触发器内的功率消耗。触发器面积的减少将直接改善数字设计区域和整体功率消耗。触发器由主控锁存器和伺服锁存器组成。主控锁存器和伺服锁存器均需要偶数个反相器。因此,在触发器中存在最少4个反相器。因此,反相器数量的减少将直接减少触发器的面积。
技术实现思路
本
技术实现思路
被提供以符合37C.F.R.§1.73,其需要本专利技术的
技术实现思路
简要地指明本专利技术的性质和实质。在提交的同时应理解的是不应将其用于解释或限制权利要求的范围和含义。一个实施例提供了一种触发器。所述触发器包括三态反相器,所述三态反相器接收触发器输入、时钟输入和反相时钟输入。主控锁存器接收所述三态反相器的输出。所述主控锁存器包括共用反相器。伺服锁存器耦合到所述主控锁存器。所述共用反相器在所述主控锁存器与所述伺服锁存器之间被共享。输出反相器耦合到所述共用反相器并且生成触发器输出 ...
【技术保护点】
一种触发器,其包括:三态反相器,其被配置为接收触发器输入、时钟输入和反相时钟输入;主控锁存器,其被配置为接收所述三态反相器的输出,所述主控锁存器包括公用反相器;伺服锁存器,其耦合到所述主控锁存器,其中所述公用反相器在所述主控锁存器与所述伺服锁存器之间被共享;以及输出反相器,其耦合到所述公用反相器并且被配置为生成触发器输出。
【技术特征摘要】
2014.09.26 US 14/498,0481.一种触发器,其包括:
三态反相器,其被配置为接收触发器输入、时钟输入和反相时钟输入;
主控锁存器,其被配置为接收所述三态反相器的输出,所述主控锁存器包
括公用反相器;
伺服锁存器,其耦合到所述主控锁存器,其中所述公用反相器在所述主控
锁存器与所述伺服锁存器之间被共享;以及
输出反相器,其耦合到所述公用反相器并且被配置为生成触发器输出。
2.根据权利要求1所述的触发器,进一步包括时钟反相器,所述时钟反相
器被配置为响应于所述时钟输入生成所述反相时钟输入。
3.根据权利要求1所述的触发器,其为正边沿触发的触发器和负边沿触发
的触发器中的至少一个触发器。
4.根据权利要求1所述的触发器,其中所述主控锁存器包括:
第一传输门,其被配置为接收所述三态反相器的输出、所述时钟输入和所
述反相时钟输入;
主控反相器,其被配置为接收所述三态反相器的输出;以及
第二传输门,其耦合到所述主控反相器并且被配置为接收所述时钟输入和
所述反相时钟输入,其中所述公用反相器被配置为接收所述第二传输门的输出。
5.根据权利要求1所述的触发器,其中所述伺服锁存器包括伺服三态反相
器,所述伺服三态反相器被配置为接收所述第一传输门的输出和所述公用反相
器的输出,其中所述公用反相器被配置为接收所述伺服三态反相器的输出。
6.根据权利要求5所述的触发器,其中所述伺服三态反相器被配置为接收
所述时钟输入和所述反相时钟输入。
7.根据权利要求5所述的触发器,其中所述第一传输门的输出等于所述公
用反相器的输出,并且所述第二传输门的输出等于所述伺服三态反相器的输出。
8.根据权利要求1所述的触发器,其中所述输出反相器被配置为响应于所
述公用反相器的输出生成所述触发器输出。
9.根据权利要求1所述的触发器,其中所述三态反相器包括:
第一PMOS晶体管和第一NMOS晶体管,所述第一PMOS晶体管的栅极端
子和所述第一NMOS晶体管的栅极端子被配置为接收所述触发器输入;
第二PMOS晶体管,其耦合到所述第一PMOS晶体管的漏极端子并且被配
置为接收所述时钟输入;以及
第二NMOS晶体管,其耦合到所述第一NMOS晶体管的漏极端子并且被配
置为接收所述反相时钟输入,其中所述第二PMOS晶体管的漏极端子耦合到所
述第二NMOS晶体管的漏极端子以生成所述三态反相器的输出。
10.根据权利要求1所述的触发器,其中所述第一传输门和所述第二传输
门中的每一个包括:
PMOS晶体管,所述PMOS晶体管的栅极端子被配置为接收所述反相时钟
输入;以及
NMOS晶体管,所述NMOS晶体管的栅极端子被配置为接收所述时钟输入。
11.根据权利要求1所述的触发器,其中所述伺服三态反相器包括:
第三PMOS晶体管和第三NMOS晶体管,所述第三PMOS晶体管的栅极端
子和所述第三NMOS晶体管的栅极端子被配置为接收所述公用反相器的输出;
第四PMOS晶体管,其耦合到所述第三PMOS晶体管的漏极端子并且被配<...
【专利技术属性】
技术研发人员:S·南迪,B·M·苏班纳瓦,
申请(专利权)人:德克萨斯仪器股份有限公司,
类型:发明
国别省市:美国;US
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