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改良微纳米尺度力学性能测试仪制造技术

技术编号:13112970 阅读:141 留言:0更新日期:2016-04-01 08:54
本实用新型专利技术公开了一种改良微纳米尺度力学性能测试仪,属于力学性能检测仪器领域。本实用新型专利技术包括机架、分列于机架两侧并分别通过支架支撑的压痕制备装置和压痕扫描装置、位移工作台,位移工作台设置于机架上,位移工作台上设有升降机构,升降机构上设有旋转机构,旋转机构上设有用于放置样品的工作台。本实用新型专利技术将压痕制备装置和压痕扫描装置与机架位置相对固定,无需重复定位,通过升降机构、XY方向位移机构和旋转机构实现对样品的快速检测和分析,本实用新型专利技术无需人工调整,整个过程自动完成。本实用新型专利技术增加了旋转机构可以方便压痕制备装置和压痕扫描装置两个同时进行工作,从而提高压痕制备装置和压痕扫描装置的工作效率。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于力学性能检测仪器领域,尤其与一种改良微纳米尺度力学性能测试仪有关。
技术介绍
专利公开号为CN2890890公开了一种微纳米尺度力学性能测试仪,其结构为??二维工作台由一个大行程二维工作台和一个小行程二维微动工作台组成,小行程微动工作台安装在大行程工作台上,试样放置在小行程微动工作台上,由大行程工作台带动小行程微动工作台在两个检测装置之间运动,大行程工作台由压电陶瓷电机驱动,在导轨上运动,并由光栅尺检测运动位移。而小行程微动工作台带动试样在两个检测装置的压头下进行高精度的小范围运动,以便精密调整检测位置和扫描压痕图,小行程微动工作台由线切割形成柔性铰链,由压电陶瓷驱动,电容式位移传感器检测位移,该测试仪是由两组不同位移速度同向的X和Y驱动机构实现距离调整,然而由于压痕制备装置和压痕扫描装置固定,实验样品位于工作台位置位移相似,无需通过大小位移调整机构对样品工作台进行位移两次调整,影响压痕制备装置和压痕扫描装置的关键是压痕制备装置和压痕扫描装置与工作台之间的相对位置,其相对位置调整则需要人工手动调整。
技术实现思路
针对上述问题,本技术的目的旨在提供一种自动化程度高、调整方便的改良微纳米尺度力学性能测试仪来解决该问题。为此,本技术采用以下技术方案:改良微纳米尺度力学性能测试仪,包括机架、分列于机架两侧并分别通过支架支撑的压痕制备装置和压痕扫描装置、X位移驱动机构和Y位移驱动机构交叉层叠组成的位移工作台,所述的位移工作台设置于机架上,位移工作台上设有升降机构,升降机构上设有旋转机构,旋转机构上设有用于放置样品的工作台。使用本技术可以达到以下有益效果:本技术将压痕制备装置和压痕扫描装置与机架位置相对固定,无需重复定位,通过升降机构、XY方向位移机构和旋转机构实现对样品的快速检测和分析,本技术无需人工调整,整个过程自动完成。本技术增加了旋转机构,可以方便压痕制备装置和压痕扫描装置两个同时进行工作,从而提高压痕制备装置和压痕扫描装置的工作效率。【附图说明】图1为本技术的结构示意图。【具体实施方式】下面结合附图对本技术的【具体实施方式】进行详细描述。实施例:如图1所示,本技术包括机架1、分列于机架1两侧并分别通过支架支撑的压痕制备装置6和压痕扫描装置7、X位移驱动机构和Y位移驱动机构交叉层叠组成的位移工作台2,位移工作台2设置于机架1上,位移工作台2上设有升降机构3,升降机构3上设有旋转机构4,旋转机构4上设有用于放置样品的工作台5。优选地,升降机构3为液压驱动的液压油缸,通过油缸驱动,从而确保工作台升降时的稳定性。优选地,旋转机构4呈圆盘形,旋转机构4的驱动源设置于圆盘形旋转机构的内腔中,从而有利于带动工作台的自由旋转,也减小了旋转机构的体积;作为优选地,旋转机构4由电机驱动。进一步地,压痕制备装置6和压痕扫描装置7分别通过调整机构固定于支架上。本技术将压痕制备装置和压痕扫描装置与机架位置相对固定,无需重复定位,通过升降机构、XY方向位移机构和旋转机构实现对样品的快速检测和分析,本技术无需人工调整,整个过程自动完成。本技术增加了旋转机构可以方便压痕制备装置和压痕扫描装置两个同时进行工作,从而提高压痕制备装置和压痕扫描装置的工作效率。以上显示和描述了本技术的基本原理和主要特征和本技术的优点。本行业的技术人员应该了解,本技术不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本技术的原理,在不脱离本技术精神和范围的前提下,本技术还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本技术范围内。本技术要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。【主权项】1.改良微纳米尺度力学性能测试仪,包括机架(1)、分列于机架(1)两侧并分别通过支架支撑的压痕制备装置(6)和压痕扫描装置(7)、X位移驱动机构和Y位移驱动机构交叉层叠组成的位移工作台(2),其特征在于:所述的位移工作台(2)设置于机架(1)上,位移工作台(2)上设有升降机构(3),升降机构(3)上设有旋转机构(4),旋转机构(4)上设有用于放置样品的工作台(5)。2.根据权利要求1所述的改良微纳米尺度力学性能测试仪,其特征在于:所述的升降机构(3)为液压驱动的液压油缸。3.根据权利要求2所述的改良微纳米尺度力学性能测试仪,其特征在于:所述的旋转机构(4)呈圆盘形,旋转机构(4)的驱动源设置于圆盘形旋转机构的内腔中。4.根据权利要求3所述的改良微纳米尺度力学性能测试仪,其特征在于:所述的旋转机构(4)由电机驱动。5.根据权利要求4所述的改良微纳米尺度力学性能测试仪,其特征在于:所述的压痕制备装置(6)和压痕扫描装置(7)分别通过调整机构固定于所述的支架上。【专利摘要】本技术公开了一种改良微纳米尺度力学性能测试仪,属于力学性能检测仪器领域。本技术包括机架、分列于机架两侧并分别通过支架支撑的压痕制备装置和压痕扫描装置、位移工作台,位移工作台设置于机架上,位移工作台上设有升降机构,升降机构上设有旋转机构,旋转机构上设有用于放置样品的工作台。本技术将压痕制备装置和压痕扫描装置与机架位置相对固定,无需重复定位,通过升降机构、XY方向位移机构和旋转机构实现对样品的快速检测和分析,本技术无需人工调整,整个过程自动完成。本技术增加了旋转机构可以方便压痕制备装置和压痕扫描装置两个同时进行工作,从而提高压痕制备装置和压痕扫描装置的工作效率。【IPC分类】G01N3/42【公开号】CN205120512【申请号】CN201520803225【专利技术人】邹佳琪 【申请人】中南大学【公开日】2016年3月30日【申请日】2015年10月15日本文档来自技高网...

【技术保护点】
改良微纳米尺度力学性能测试仪,包括机架(1)、分列于机架(1)两侧并分别通过支架支撑的压痕制备装置(6)和压痕扫描装置(7)、X位移驱动机构和Y位移驱动机构交叉层叠组成的位移工作台(2),其特征在于:所述的位移工作台(2)设置于机架(1)上,位移工作台(2)上设有升降机构(3),升降机构(3)上设有旋转机构(4),旋转机构(4)上设有用于放置样品的工作台(5)。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:邹佳琪
申请(专利权)人:中南大学
类型:新型
国别省市:湖南;43

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