仓库闸口门数据采集测试系统技术方案

本发明专利技术仓库闸口门数据采集测试系统涉及的是一种在仓库进出口自动采集物品进出库信息并对采集信息的准确性进行分析的装置。包括仓库支架、防撞围栏、闸口门测试工业读写器、闸口门测试天线阵列和闸口门测试控制系统；在仓库支架下方的左、右两侧分别设置有左侧闸口门测试天线阵列和右侧闸口门测试天线阵列，左侧闸口门测试天线阵列和右侧闸口门测试天线阵列互相对齐，处于相同的高度；防撞围栏安装在仓库支架下部，将左侧闸口门测试天线阵列和右侧闸口门测试天线阵列分别包围在其中；闸口门测试控制系统基于工业控制计算机，闸口门测试工业读写器通过网线与闸口门测试控制系统连接。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术仓库闸口门数据采集测试系统涉及的是一种在仓库进出口自动采集物品进出库信息并对采集信息的准确性进行分析的装置。
技术介绍
随着超高频RFID技术的不断进步，现在已经可以实现在3?8米外，对贴附了 RFID标签的托盘或包装箱上的物品进行远距离识别读取。这为典型仓库闸口门使用RFID技术实现实物流与信息流的一一对应提供了可能。但是目前还没有性能优异的专用于仓库闸口门数据采集测试装置。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对上述不足之处提供一种仓库闸口门数据采集测试系统，是一种在仓库进出口自动采集物品进出库信息并对采集信息的准确性进行分析的装置，实现数据的采集及采集数据的校准复核。仓库闸口门数据采集测试系统是采取以下技术方案实现的: 仓库闸口门数据采集测试系统包括仓库支架、防撞围栏、闸口门测试工业读写器、闸口门测试天线阵列和闸口门测试控制系统； 在仓库支架下方的左、右两侧分别设置有左侧闸口门测试天线阵列和右侧闸口门测试天线阵列，左侧闸口门测试天线阵列和右侧闸口门测试天线阵列互相对齐，处于相同的高度;防撞围栏安装在仓库支架下部，将左侧闸口门测试天线阵列和右侧闸口门测试天线阵列分别包围在其中； 闸口门测试控制系统基于工业控制计算机，闸口门测试工业读写器通过网线与闸口门测试控制系统连接；闸口门测试工业读写器读取标签信息，并将所述标签信息传输并显示在闸口门测试控制系统上。所述标签信息包括标签名称、标签EPC和标签最后发现时间。闸口门测试天线阵列中的天线采用圆极化天线，以满足测试中标签最大范围的朝向要求，在仓库支架即模拟的仓库闸口门前后、上下空间形成RFID标签的识读区域全覆至ΠΠ O在仓库支架底面设有与仓库支架同宽并接地的正方形导电金属板所述金属板最少为6mm厚。当使用多个天线时，闸口门测试工业读写器设置成使得左、右闸口门测试天线阵列中的天线有相同的有效工作周期。闸口门测试控制系统，包括: 闸口门性能校准模块，用于校准闸口门的性能，具体的是测量闸门口的最大允许功率，以确保被测物体通过有效识读区域时物体表面的场强不超过最大允许场强;校准左、右闸口门测试天线阵列的位置； 信息读写模块，用于在附有RFID标签的物品经过闸口门时，通过闸口门测试工业读写器读取标签信息，并将所述标签信息传输、显示在闸口门测试控制系统上。所述闸门口为仓库支架以及闸口门测试天线阵列包围的区域。仓库闸口门数据采集测试系统的测试方法包括如下步骤: 1)采用闸口门性能校准模块校准闸口门的性能 1-1)使用频谱分析仪来读取射频信号，确保在测试范围内没有其他影响显著的辐射源； 1-2)测量闸口门两侧的最大功率，确保被测物体通过有效识读区域时物体表面的场强不超过最大允许功率，所述最大允许功率即国家规定的最大功率30dbm; 所述有效识读区域是由闸口门测试天线阵列的各个天线叠加而成的;在每个天线都上电之后，在距离右部空隙、左部空隙以及底部空隙最近的地方测量平均功率;使用标准的校准标签在允许的频率范围内测量平均功率;天线的位置沿着右部空隙、左部空隙以及底部空隙从地面升高至最大期望覆盖的高度进行测试，记录测试值，确保有效识读区域的高度满足测试物品的最大高度； 1-3)右部空隙、左部空隙以及底部空隙的长度大于1.5个波长，所述波长为测试频带中最低频率所对应的波长;闸口门两侧的左侧闸口门测试天线阵列和右侧闸口门测试天线阵列对齐后，闸口门位于有效读取范围的1.5波长处； 1-4)降低有效读取范围内的多径效应； 当有障碍物靠近闸口门，闸口门测试天线阵列的天线旋转使辐射主瓣指向障碍物的反方向，以最小化反射的影响； 1-5)测试使用的标签在通过闸口门时应至少被闸口门测试工业读到测试用户指定的次数； 2)选择和布置RFID标签 将测试中使用的RFID标签根据实际使用要求附着在货箱上;标签与被附着的货箱之间不能人为加入任何夹层;每个RFID标签不能反复利用； 3)样本预处理 根据物品在储存或运输时的温度环境预处理物品； 4)测试时，根据使用的运输设备，将托盘的底边保持正常运输时的高度;所有的箱子都附着有箱级RFID标签，每个托盘也附着有RFID标签； 5)信息读写模块在附有RFID标签的物品经过仓库支架时，通过闸口门测试工业读写器读取标签信息，并将所述标签信息传输、显示在闸口门测试控制系统上。所述闸口门为仓库支架以及闸口门测试天线阵列包围的区域。所述右部空隙即右侧闸口门测试天线阵列的边缘到有效识读区域的距离；左部空隙即左侧闸口门测试天线阵列的边缘到有效识读区域的距离;底部空隙即闸口门底部到有效识读区域的距离。本专利技术优点:仓库闸口门数据采集测试系统使用超高频RFID技术，设计天线位置可调整的闸口门，能够实现典型工业闸口门场景下进出库信息随实物进出准确更新。在极端情况下数据出错时，本系统会提示人工进行校核，从而进一步提高系统的数据采集准确性。本系统支持典型RFID系统的部署和调整，并依据测试规范进行系统的可靠性评估测试。【附图说明】以下将结合附图对本专利技术作进一步说明: 图1是本专利技术仓库闸口门数据采集测试系统的结构示意图。图2是本专利技术天线阵列有效识别区域(上下空间)示意图。图3是本专利技术天线阵列有效识别区域(前后空间)示意图。图中:1、仓库支架，2、左侧闸口门测试天线阵列，3、右侧闸口门测试天线阵列，4、防撞围栏，5、有效识读区域，Lt、左右两侧天线之间的距离，H、识读区域高度，L、识读区域宽度，Hr、右部空隙，Hl、左部空隙，H1、底部空隙。【具体实施方式】参照附图1?3，仓库闸口门数据采集测试系统包括仓库支架1、防撞围栏4、闸口门测试工业读写器、闸口门测试天线阵列和闸口门测试控制系统； 在仓库支架I下方的左、右两侧分别设置有左侧闸口门测试天线阵列2和右侧闸口门测试天线阵列3，左侧闸口门测试天线阵列2和右侧闸口门测试天线阵列3互相对齐，处于相同的高度;防撞围栏4安装在仓库支架I下部，将左侧闸口门测试天线阵列2和右侧闸口门测试天线阵列3分别包围在其中； 闸口门测试控制系统基于工业控制计算机，闸口门测试工业读写器通过网线与闸口门测试控制系统连接；闸口门测试工业读写器读取标签信息，并将所述标签信息传输并显示在闸口门测试控制系统上。所述标签信息包括标签名称、标签EPC和标签最后发现时间。闸口门测试天线阵列中的天线采用圆极化天线，以满足测试中标签最大范围的朝向要求，在仓库支架即模拟的仓库闸口门前后、上下空间形成RFID标签的识读区域全覆至ΠΠ ο在仓库支架I底面设有与仓库支架同宽并接地的正方形导电金属板所述金属板最少为6mm厚。当使用多个天线时，闸口门测试工业读写器设置成使得左、右闸口门测试天线阵列中的天线有相同的有效工作周期。闸口门测试控制系统包括: 闸口门性能校准模块，用于校准闸口门的性能，具体的是测量闸门口的最大允许功率，以确保被测物体通过有效识读区域5时物体表面的场强不超过最大允许场强;校准左、右闸口门测试天线阵列的位置； 信息读写模块，用于在附有RFID标签的物品经过闸口门时，通过闸口门测试工业读写器读取标签信息，并将所述标签信息传输、显示在闸口门测试控制系统上。所述闸门口为仓库支架I以及闸口门测试天线阵列包围的区域本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种仓库闸口门数据采集测试系统，其特征在于：包括仓库支架、防撞围栏、闸口门测试工业读写器、闸口门测试天线阵列和闸口门测试控制系统；在仓库支架下方的左、右两侧分别设置有左侧闸口门测试天线阵列和右侧闸口门测试天线阵列，左侧闸口门测试天线阵列和右侧闸口门测试天线阵列互相对齐，处于相同的高度；防撞围栏安装在仓库支架下部，将左侧闸口门测试天线阵列和右侧闸口门测试天线阵列分别包围在其中；闸口门测试控制系统基于工业控制计算机，闸口门测试工业读写器通过网线与闸口门测试控制系统连接；闸口门测试工业读写器读取标签信息，并将所述标签信息传输并显示在闸口门测试控制系统上。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘全胜，黄能耿，黄从贵，吴伟，
申请(专利权)人：无锡职业技术学院，
类型：发明
国别省市：江苏;32