一种分料模块,设置在一外观检测装置的基座,外观检测装置包含用以检测电子元件的检测模块,其包含输送机构、至少三组取料机构及控制器。输送机构用以输送电子元件。取料机构沿电子元件的输送方向排列分别用以取下输送机构上不良、合格以及其他的电子元件。控制器分别电性连接各取料机构以依据检测模块的检测结果驱动各取料机构取下输送机构上对应的电子元件。其中沿输送机构的输送方向上,用以取下不良的电子元件的取料机构排列于最先,接续排列用以取下合格的电子元件的取料机构,用以取下其他的电子元件的取料机构排列于最后。因此能够避免因取料机构老化而将非对应的电子元件取下以确保检测的准确率。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电子元件外观检测装置的分料模块,特别是一种能够提升外观检测装置检测准确率的分料模块。
技术介绍
现有的电子元件外观检测装置一般是通过震动盘将电子元件整列后,排列至一旋转盘上,旋转盘将电子元件输送至镜头前取像以供检测外观,再通过一取料机构依据检测结果分类收集。现有技术存在下述的缺点需要改善。现有的取料机构多是通过电磁阀驱动作动,当电磁阀频繁作动时会致使电磁阀寿命时间缩短,其老化而使取料机构将电子元件分类错误。电子元件分类错误会严重影响检测的准确率。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是针对现有技术的上述缺陷,能够提升外观检测装置检测准确率的分料模块。为了实现上述目的,本技术提供了一种分料模块,设置在一外观检测装置的一基座,所述外观检测装置包含用以检测电子元件的一检测模块,其中,包含:用以输送所述电子元件的一输送机构;至少三组取料机构,该取料机构沿所述电子元件的输送方向排列分别用以取下该输送机构上不良、合格以及其他的所述电子元件;及—控制器,分别电性连接各该取料机构,并依据所述检测模块的检测结果驱动各该取料机构取下该输送机构上对应的所述电子元件;其中,沿该输送机构的输送方向上,用以取下不良的所述电子元件的该取料机构排列于最先,接续排列用以取下合格的所述电子元件的该取料机构,用以取下其他的所述电子元件的该取料机构排列于最后。上述的分料模块,其中,该输送机构包含一旋转盘,该旋转盘水平配置以承载所述电子元件,且该旋转盘能够水平自转而沿一环形路径输送所述电子元件。上述的分料模块,其中,该输送机构包含一马达以及一角度编码器,该马达设置于所述基座,该旋转盘呈水平配置且该旋转盘动力连接该马达而能够被该马达驱动而水平自转,该角度编码器电性连接该马达。上述的分料模块,其中,该输送机构,包含一静电刷,该静电刷接触该旋转盘。上述的分料模块,其中,各该取料机构分别包含一集料盒以及用以将所述电子元件吹入该集料盒的一吹嘴,该吹嘴朝向该集料盒配置。上述的分料模块,其中,该吹嘴设有电性连接该控制器的一电磁阀。上述的分料模块,其中,该集料盒内设有一活动缓冲挡板,且与该集料盒相对应的该吹嘴朝向该集料盒内的该活动缓冲挡板配置。上述的分料模块,其中,该活动缓冲挡板枢设在该集料盒内。上述的分料模块,其中,各该吹嘴分别通过一枢转轴枢转连接所述基座。上述的分料模块,其中,各该枢转轴与该旋转盘相互平行配置。上述的分料模块,其中,用以取下不良的所述电子元件的取料机构为多个。本技术的有益功效在于:本技术将作动频率低的取料机构排列于先能够避免因取料机构老化而将非对应的电子元件取下,因此能够确保检测的准确率。以下结合附图和具体实施例对本技术进行详细描述,但不作为对本技术的限定。【附图说明】图1为本技术较佳实施例的分料模块的一立体配置示意图;图2为本技术较佳实施例的分料模块的另一立体配置示意图;图3为本技术较佳实施例的分料模块的俯视配置示意图;图4为本技术较佳实施例的分料模块的一立体示意图;图5为本技术较佳实施例的分料模块的另一立体示意图。其中,附图标记1 外观检测装置10 基座20检测模块21摄影镜头22反射镜23直立滑轨100输送机构110感测器120旋转盘130 马达131驱动轴140静电刷200供料机构210震动盘211整列轨道220储料桶221供料道230下料轨道300a/300b/300c/300d 取料机构310集料盒311活动缓冲挡板320 吹嘴321电磁阀322枢转轴D 输送方向【具体实施方式】下面结合附图对本专利技术的结构原理和工作原理作具体的描述:参阅图1至图4,本技术的较佳实施例提供一种分料模块,其设置在一外观检测装置1的基座10上,此基座10上还设置有至少一检测模块20,藉此检测多个电子元件(图中未示)。于本实施例中,本技术的分料模块包含有一输送机构100、一供料机构200、一感测器110、一控制器(图中未示)以及至少三组取料机构300a/300c/300d。输送机构100设置在基座10上,于本实施例中,输送机构100包含有一旋转盘120、一马达130、一角度编码器(图中未不)以及一静电刷140。于本实施例中,马达130较佳地是直驱式马达(Direct Drive Motor, DD motor),马达130设置于基座10上且其驱动轴131为直立配置。于本实施例中,旋转盘120为玻璃制的圆环状透明盘,旋转盘120呈水平配置而且动力连接马达130,旋转盘120的圆心配置马达130的驱动轴131延伸线上,旋转盘120藉此能够被马达130驱动而水平自转。角度编码器内建有圆形角度坐标,角度编码器电性连接马达130而能够取得旋转盘120 (或马达130)的角度位置。静电刷140设置在基座10且静电刷140接触旋转盘120,当旋转盘120旋转时能够与静电刷140相互摩擦而使旋转盘120上产生正电荷。供料机构200设置在基座10上,其包含有一震动盘210、一储料桶220以及一去静电风扇(图中未示)。于本实施例中,震动盘210及储料桶220较佳地皆设置于基座10。储料桶220用以容纳待检测的电子元件(图中未示),储料桶220具有一供料道221以送出储料桶220内的电子元件,供料道221朝向震动盘210内配置而能够将电子元件投入震动盘210内。但本技术不限定储料桶220设置于基座10,例如储料桶220可以附设在震动盘210的上方且储料桶220的供料道221朝向震动盘210内配置。震动盘210内形成有一整列轨道211,投入震动盘210内的电子元件落入整列轨道211之中并且被震动盘210震动而一列排列于整列轨道211之中。去静电风扇的出风方向朝向震动盘210配置,电子元件多为环氧树脂(Epoxy)封装,因此容易带有负电荷,去静电风扇能够去除震动盘210内电子元件所带的负电荷。整列轨道211延伸出与其相连接的一下料轨道230,完成整列的电子元件被送入下料轨道230,不带电荷的电子元件通过下料轨道230时与下料轨道230摩擦,因此当电子元件被输送到达下料轨道230的末端时其已带有少许的负电荷。下料轨道230的末端延伸至旋转盘120的上方,下料轨道230较佳地沿着旋转盘120的旋转方向的切线方向配置,旋转盘120旋转时电子元件被从下料轨道230的末端--投下至旋转盘120上,带有负电荷的子元件能够被带有正电荷的旋转盘120吸附固定而且电子元件随旋转盘120旋转而被沿圆环形的路径输送。于本实施例中,感测器110较佳地为遮断式光学感测器110,感测器110设置在基座10上,其对应旋转盘120配置而能够产生贯穿旋转盘120的光束。感测器110较佳地与下料轨道230的末端相邻配置,而且当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种分料模块,设置在一外观检测装置的一基座,所述外观检测装置包含用以检测电子元件的一检测模块,其特征在于,包含:用以输送所述电子元件的一输送机构;至少三组取料机构,该取料机构沿所述电子元件的输送方向排列分别用以取下该输送机构上不良、合格以及其他的所述电子元件;及一控制器,分别电性连接各该取料机构,并依据所述检测模块的检测结果驱动各该取料机构取下该输送机构上对应的所述电子元件;其中,沿该输送机构的输送方向上,用以取下不良的所述电子元件的该取料机构排列于最先,接续排列用以取下合格的所述电子元件的该取料机构,用以取下其他的所述电子元件的该取料机构排列于最后。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:张仁明,陈正锴,刘子诚,林轩民,杨景钦,
申请(专利权)人:台达电子工业股份有限公司,
类型:新型
国别省市:中国台湾;71
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