本发明专利技术涉及一种耐腐蚀一体成型高密闭性的顶空进样连接器。其特殊之处在于整体耐腐蚀材质，一体成型，平面式样品瓶接触平台和锥形进样通道。本连接器结构的优点如下：1）、整体耐腐蚀材质，一体成型，确保了连接器的高耐腐蚀性和高密闭性；2）、平面式的样品瓶接触平台，保证了样品瓶与连接器的紧密接触，防止了样品蒸汽的泄漏；3）、锥形的进样通道，最大程度的减小进样死体积，保证了样品检测结果的准确性和重复性。本发明专利技术结构合理，高耐腐蚀、高密闭性、死体积小，可以在各种卡式顶空进样装置推广使用。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种材料的物理或化学性质的研究技术，尤其是涉及一种耐腐蚀一体成型高密闭性的顶空进样连接器。
技术介绍
现有的电化学滴定仪检测技术中，许多样品的待测组分释放缓慢或者只有在高温下才能释放，因此并不适合直接进样来进行测量，此时通常会选择用加热顶空的方式将需要检测的组分蒸发出来，然后用干燥的惰性气体将这些汽化的待测组分送入测量单元进行检测。样品蒸汽的泄漏，样品蒸汽的不完全进样，空气中某些组分的渗入，高腐蚀样品蒸汽对样品瓶盖的破坏，都会严重影响测量的精度和准确度。因此，气体进样装置的密闭性和样品进样的完全性决定整个测量结果的准确性和重复性。常见的顶空进样装置是顶空进样瓶上装有一个顶空进样盖，进样双筒套针从顶空进样瓶盖插入进样瓶来进行载气的输送和样品蒸汽的取样。双筒套针是由长度较短且直径较大的样品排气针套着一个长度较长、直径较小的载气注射针组成的，这种气体输送结构的不足之处是:载气与样品蒸汽在样品瓶中混合后，从套针的排气针孔道排出进入进样管，在这个过程中，样品瓶盖保证了整个体系的密闭性，当样品蒸汽撞击样品瓶盖时，会产生一个反向作用力，导致在瓶盖下部的空间会产生气流旋涡从而妨碍样品蒸汽进样的完全性；双筒套针插入样品瓶，外部排气管伸入样品瓶的长度和样品瓶盖之间，也会产生一个进样死角，导致较大的进样死体积;顶空进样瓶盖是由两部分组成:开口的螺纹瓶盖和隔垫，隔垫通常是硅胶上涂覆一层耐腐蚀的材质，用来确保整个进样瓶的耐腐蚀性和密闭性;隔垫的质量决定了整个进样装置的密闭性，但是隔垫容易变形，而且隔垫与开口螺纹瓶盖之间也存在一定的间隙，这些都会导致样品蒸汽的泄露以及腐蚀性样品蒸汽对瓶盖的损坏。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有进样技术的不足之处而提供的一种结构合理、一体成型、高密闭性的连接进样瓶和进样管的顶空进样连接器。本专利技术是通过以下措施来实现:一种一体成型高密闭耐腐蚀的顶空进样连接器(下文简称进样连接器或连接器)，其特殊之处是:整体耐腐蚀材质，一体成型，平面式样品瓶接触平台和锥形进样通道。所述的一体成型是指整个连接器是一个整体，没有可拆卸部件，确保了进样连接器的高密闭性和耐腐蚀性。所述的平面式样品瓶接触平台是指连接器与样品瓶采用螺纹连接，连接处顶部有一圈平台结构，使连接器与样品瓶紧密接触，确保了较高的密闭性。所述的锥形进样通道，是样品瓶与进样管之间的通道是一个直径逐渐变小的锥形通道，确保了样品进样的完全性。与现有技术相比，采用了本专利技术的卡式顶空进样连接器，具有如下优点:整体耐腐蚀材质、一体成型的进样连接器，完全避免了可拆卸部件之间连接气密性的问题，可以有效阻止大气中组分的干扰，也可以避免因腐蚀性样品对连接器的破坏所造成的泄漏；平面式的样品瓶接触平台，使得连接器与样品瓶紧密接触，进一步保证了进样装置的高密闭性;锥形的气体进样通道，保证了进样的完全性和的最小的进样死体积，这个圆滑且直径逐步变小的锥形进样通道，可以使样品蒸汽完全输送至进样管，不会发生样品残留现象，保证了后续测量的准确度和重复性。本专利技术结构简单、可根据要求设计来适应不同的卡式顶空进样装置，另外，由于进样连接器加工简单、成本低廉，耐腐蚀性好，寿命长，可重复利用，降低了使用成本。【附图说明】图1是进样连接器剖面图。图2是进样连接器装配剖面图。【具体实施方式】下面结合附图对【具体实施方式】作详细说明。在图1?图2所示的本专利技术的实施例中，一种一体成型高密闭耐腐蚀的顶空进样连接器的结构包括:进样连接器的整体1、螺纹接口 2、平面式的样品瓶接触平台3、锥形的气体进样通道4、进样管连接处5、载气管连接处6;整个连接器分为两个部分:上端有一个螺旋接口6，接口下部是一个平面接触平台，平台中心有一个小孔用来放入载气针。平面的接触平台用来确保载气针与连接器的紧密链接，螺旋接口是用来紧密连接载气管；下端结构主要分为三个部分:螺纹接口 2用来固定样品瓶;平面式的样品瓶接触平台3保证样品瓶和进样连接器的紧密连接，防止样品蒸汽从连接处泄漏，确保进样的准确性;锥形的气体进样通道4，这部分结构是样品蒸汽从样品瓶进入进样管的过渡部分，最大程度的保证了最小的进样死体积。下端圆柱体的侧部还有一螺纹接口 5，用来连接进样管，将样品蒸汽送入测量单元。上面结合附图描述了本专利技术的实施方式，实施例给出的结构并不构成对本专利技术的限制，本领域内熟练的技术人员在所附权利要求的范围内做出各种变形或修改均在保护范围内。【主权项】1.一种一体成型高密闭耐腐蚀的顶空进样连接器(下文简称进样连接器或连接器)，其特殊之处是:整体耐腐蚀材质，一体成型，平面式样品瓶接触平台和锥形进样通道。2.根据权利要求1所述的一体成型是指整个连接器是一个整体，没有可拆卸部件。3.根据权利要求1所述的平面式样品瓶接触平台是指连接器与样品瓶采用螺纹连接，连接处顶部有一圈平台结构，使连接器与样品瓶紧密接触。4.根据权利要求1所述的锥形进样通道，是样品瓶与进样管之间的通道是一个直径逐渐变小的锥形通道。【专利摘要】本专利技术涉及一种耐腐蚀一体成型高密闭性的顶空进样连接器。其特殊之处在于整体耐腐蚀材质，一体成型，平面式样品瓶接触平台和锥形进样通道。本连接器结构的优点如下：1）、整体耐腐蚀材质，一体成型，确保了连接器的高耐腐蚀性和高密闭性；2）、平面式的样品瓶接触平台，保证了样品瓶与连接器的紧密接触，防止了样品蒸汽的泄漏；3）、锥形的进样通道，最大程度的减小进样死体积，保证了样品检测结果的准确性和重复性。本专利技术结构合理，高耐腐蚀、高密闭性、死体积小，可以在各种卡式顶空进样装置推广使用。【IPC分类】G01N35/10【公开号】CN105424962【申请号】CN201510931972【专利技术人】董宽 【申请人】上海禾工科学仪器有限公司【公开日】2016年3月23日【申请日】2015年12月15日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种一体成型高密闭耐腐蚀的顶空进样连接器（下文简称进样连接器或连接器），其特殊之处是：整体耐腐蚀材质，一体成型，平面式样品瓶接触平台和锥形进样通道。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：董宽，
申请(专利权)人：上海禾工科学仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31
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